超结器件及其制造方法
Abstract:
本发明公开了一种超结器件,超结器件单元包括:沟槽栅,形成于N型柱顶部;在沟槽栅两侧形成有沟道区;源区形成于所述沟道区表面,漏区形成于超结结构的底部;在沟槽栅的底部形成有P型表面埋层,P型表面埋层和沟槽栅的底部接触,电荷流动区中设置有和P型表面埋层接触的P型环。在超结器件反向击穿时P型表面埋层形成一条反向空穴雪崩电流的路径,从而减小沟槽栅对反向空穴雪崩电流的聚集能力并从而提高器件的UIS能力。本发明还公开了一种超结器件的制造方法。本发明能提高器件的UIS能力,能减少器件的Cgd从而降低器件的开关损耗,工艺成本低。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L29/00 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件(H01L31/00至H01L47/00,H01L51/05优先;除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00;由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00)
H01L29/66 .按半导体器件的类型区分的
H01L29/68 ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的(H01L29/96优先)
H01L29/76 ...单极器件
H01L29/772 ....场效应晶体管
H01L29/78 .....由绝缘栅产生场效应的
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