Invention Grant
- Patent Title: 超结器件及其制造方法
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Application No.: CN201710068653.7Application Date: 2017-02-08
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Publication No.: CN106847923BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 李昊
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海浦一知识产权代理有限公司
- Agent 郭四华
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L29/06 ; H01L21/336

Abstract:
本发明公开了一种超结器件,超结器件单元包括:沟槽栅,形成于N型柱顶部;在沟槽栅两侧形成有沟道区;源区形成于所述沟道区表面,漏区形成于超结结构的底部;在沟槽栅的底部形成有P型表面埋层,P型表面埋层和沟槽栅的底部接触,电荷流动区中设置有和P型表面埋层接触的P型环。在超结器件反向击穿时P型表面埋层形成一条反向空穴雪崩电流的路径,从而减小沟槽栅对反向空穴雪崩电流的聚集能力并从而提高器件的UIS能力。本发明还公开了一种超结器件的制造方法。本发明能提高器件的UIS能力,能减少器件的Cgd从而降低器件的开关损耗,工艺成本低。
Public/Granted literature
- CN106847923A 超结器件及其制造方法 Public/Granted day:2017-06-13
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