一种闪存及其制作方法
Abstract:
本发明公开了一种闪存及其制作方法。所述方法包括:提供衬底,在所述衬底上形成有源区和浅沟槽隔离区,并在所述有源区上依次形成第一氧化层、浮栅层、介质层和控制栅层;在所述控制栅层上形成包含第一凹槽的氮化硅层;在所述第一凹槽内露出的控制栅层上形成第二氧化层,并形成第二凹槽;在所述第二凹槽底部露出的有源区和与所述有源区相邻的浅沟道隔离区上分别形成源极以及源极端导电沟槽;在所述第一凹槽和所述第二凹槽内形成第三氧化层,去除剩余的氮化硅层、多余的控制栅层、多余的介质层、多余的浮栅层和多余的第一氧化层,以形成栅极;依次形成栅极氧化层壁、漏极和接触窗。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L27/00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件(其零部件入H01L23/00,H01L29/00至H01L51/00;由多个单个固态器件组成的组装件入H01L25/00)
H01L27/02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04 ..其衬底为半导体的
H01L27/10 ...在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105 ....包含场效应组件的
H01L27/112 .....只读存储器结构的
H01L27/115 ...... · · · · ·电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
H01L27/11517 ....... · · · · · ·具有浮栅的
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