• Patent Title: 一种探测电离层电子密度总数的方法及装置
  • Patent Title (English): Method and device for detecting ionosphere total electron density
  • Application No.: CN201710449241.8
    Application Date: 2017-06-14
  • Publication No.: CN107132423A
    Publication Date: 2017-09-05
  • Inventor: 周晨赵家奇赵正予
  • Applicant: 武汉大学
  • Applicant Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
  • Assignee: 武汉大学
  • Current Assignee: 武汉大学
  • Current Assignee Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
  • Agency: 武汉科皓知识产权代理事务所
  • Agent 蔡瑞
  • Main IPC: G01R29/00
  • IPC: G01R29/00
一种探测电离层电子密度总数的方法及装置
Abstract:
本发明涉及一种探测电离层电子密度总数的方法及装置。在待测区域架设两部双频GPS接收机天线相距10m左右,接受GPS卫星信号,并将GPS卫星信号经同轴电缆传入两台双频GPS接收机,双频GPS接收机处理卫星信号,将得到的数据通过通讯电缆保存至计算机,取一天数据,利用软件程序对数据进行处理。建立多项式模型计算双频GPS接收机和卫星硬件延迟,得到去除双频GPS接收机和卫星硬件延迟后的斜向电子密度总数,将两站双频GPS接收机斜向电子密度总数综合,通过投影函数,即可将其转换为垂直电子密度总数。本发明采用10m级短基线基于地基GPS双站布站方式探测电离层电子密度总数,精度高,数据存储、管理以及设备维护方便。
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