Invention Grant
CN107132423B 一种探测电离层电子密度总数的方法及装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种探测电离层电子密度总数的方法及装置
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Application No.: CN201710449241.8Application Date: 2017-06-14
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Publication No.: CN107132423BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 周晨 , 赵家奇 , 赵正予
- Applicant: 武汉大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- Assignee: 武汉大学
- Current Assignee: 武汉大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- Agency: 武汉科皓知识产权代理事务所
- Agent 蔡瑞
- Main IPC: G01R29/00
- IPC: G01R29/00

Abstract:
本发明涉及一种探测电离层电子密度总数的方法及装置。在待测区域架设两部双频GPS接收机天线相距10m左右,接受GPS卫星信号,并将GPS卫星信号经同轴电缆传入两台双频GPS接收机,双频GPS接收机处理卫星信号,将得到的数据通过通讯电缆保存至计算机,取一天数据,利用软件程序对数据进行处理。建立多项式模型计算双频GPS接收机和卫星硬件延迟,得到去除双频GPS接收机和卫星硬件延迟后的斜向电子密度总数,将两站双频GPS接收机斜向电子密度总数综合,通过投影函数,即可将其转换为垂直电子密度总数。本发明采用10m级短基线基于地基GPS双站布站方式探测电离层电子密度总数,精度高,数据存储、管理以及设备维护方便。
Public/Granted literature
- CN107132423A 一种探测电离层电子密度总数的方法及装置 Public/Granted day:2017-09-05
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