Invention Grant
- Patent Title: Ge复合衬底、衬底外延结构及其制备方法
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Application No.: CN201710371220.9Application Date: 2017-05-24
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Publication No.: CN107195534BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 欧欣 , 张润春 , 龚谦 , 游天桂 , 黄凯 , 王曦
- Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Applicant Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Agency: 上海泰能知识产权代理事务所
- Agent 宋缨
- Main IPC: H01L21/02
- IPC: H01L21/02 ; H01L21/683 ; H01L29/04 ; H01L29/06

Abstract:
本发明提供一种Ge复合衬底、衬底外延结构及其制备方法,所述Ge复合衬底的制备方法包括:提供Ge衬底,且所述Ge衬底具有注入面,其中,所述Ge衬底为具有斜切角度的Ge衬底;于所述注入面进行离子注入,以在所述Ge衬底的预设深度处形成缺陷层;提供支撑衬底,将所述Ge衬底与所述支撑衬底键合;沿所述缺陷层剥离部分所述Ge衬底,使所述Ge衬底的一部分转移至所述支撑衬底上,以在所述支撑衬底上形成Ge薄膜,获得Ge复合衬底。通过上述方案,解决了在Si基衬底上直接生长III‑V族外延层困难、在Ge衬底上外延生长III‑V族外延层反相畴难抑制以及Ge与Si基材料等集成难的问题。
Public/Granted literature
- CN107195534A Ge复合衬底、衬底外延结构及其制备方法 Public/Granted day:2017-09-22
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IPC分类: