Invention Publication
- Patent Title: 一种S波段测试台结构
- Patent Title (English): S band test bench structure
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Application No.: CN201710526026.3Application Date: 2017-06-30
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Publication No.: CN107247255APublication Date: 2017-10-13
- Inventor: 叶诚 , 刘鲁军 , 丁飞 , 汤咏 , 杜志杰 , 胡城镇 , 陈晶晶 , 孟欢 , 王为 , 尤龙
- Applicant: 安徽四创电子股份有限公司
- Applicant Address: 安徽省合肥市高新技术产业开发区香樟大道199号
- Assignee: 安徽四创电子股份有限公司
- Current Assignee: 安徽四创电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 安徽省合肥市高新技术产业开发区香樟大道199号
- Agency: 合肥和瑞知识产权代理事务所
- Agent 王挺
- Main IPC: G01S7/40
- IPC: G01S7/40

Abstract:
本发明属于雷达系统技术领域,具体地讲涉及一种S波段测试台结构,包括接收综合模块、发射电源模块、发射射频模块、馈线网络模块;所述接收综合模块与发射电源模块双向通信连接,接收综合模块的输出端连接发射射频模块的输入端,发射电源模块与发射射频模块双向通信连接,发射射频模块的输出端连接馈线网络模块的输入端,馈线网络模块的输出端连接接收综合模块的输入端。本发明为雷达产品提供了设计仿真和关键技术验证的研究环境,缩短了产业化和个性化设计改进的研发周期,提供了一个集产品测试、功能验证、备件维修和升级改进试验于一体的硬件平台。
Public/Granted literature
- CN107247255B 一种S波段测试台结构 Public/Granted day:2023-07-11
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