超级结的沟槽填充方法
Abstract:
本发明公开了一种超级结的沟槽填充方法,包括如下步骤:步骤一、提供表面形成有第一导电类型外延层的半导体晶圆;步骤二、形成硬质掩模层,光刻刻蚀形成多个沟槽;步骤三、进行第一次外延生长形成第一层第二导电类型外延层填充沟槽并在边缘区域中的沟槽内的外延层完全合并后停止,停止后在中央区域的沟槽顶部中间区域形成V型开口;步骤四、以硬质掩模层为终止层对第一层第二导电类型外延层进行回刻;步骤五、进行第二次外延生长形成第二层第二导电类型外延层将中央区域的沟槽的V型开口完全填充。本发明能提高面内均匀性,减少缺陷产生并提高器件性能。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04 ..至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18 ...器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/30 ....用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的(在半导体材料上制作电极的入H01L21/28)
H01L21/31 .....在半导体材料上形成绝缘层的,例如用于掩膜的或应用光刻技术的(密封层入H01L21/56);以及这些层的后处理;这些层的材料的选择
H01L21/3105 ......后处理
H01L21/311 .......绝缘层的刻蚀
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