Invention Grant
- Patent Title: 可变焦距透镜系统中的相位差校准
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Application No.: CN201710304253.1Application Date: 2017-05-03
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Publication No.: CN107367817BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: R.K.布里尔
- Applicant: 株式会社三丰
- Applicant Address: 日本神奈川县
- Assignee: 株式会社三丰
- Current Assignee: 株式会社三丰
- Current Assignee Address: 日本神奈川县
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 王珊珊
- Priority: 15/145,682 2016.05.03 US
- Main IPC: G02B7/36
- IPC: G02B7/36 ; G02B21/24 ; G02B21/36 ; G02B27/00 ; G03B13/36 ; H04N5/232

Abstract:
一种用于确定成像的表面的表面Z高度测量的可变焦距(VFL)透镜系统。所述系统的控制器配置为控制VFL透镜(例如,可调谐声学梯度折射率透镜)以周期性地调制其光功率,从而以第一操作频率周期性地调制聚焦位置,其中周期性调制的VFL透镜光功率定义第一周期性调制相位。相位定时信号与该控制器中的具有第一操作频率以及具有第二周期性调制相位的周期信号同步,所述第二周期性调制相位相对于第一周期性调制相位具有相位偏移。相位偏移补偿部分配置为执行相位偏移补偿处理,其提供Z高度测量,其中至少部分地消除与相位偏移贡献相关的Z高度误差或Z高度变化中的至少一个。
Public/Granted literature
- CN107367817A 可变焦距透镜系统中的相位差校准 Public/Granted day:2017-11-21
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