Invention Publication
- Patent Title: 反应腔室及半导体加工设备
- Patent Title (English): Reaction cavity and semiconductor processing device
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Application No.: CN201610318302.2Application Date: 2016-05-12
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Publication No.: CN107369604APublication Date: 2017-11-21
- Inventor: 李兴存 , 韦刚 , 成晓阳 , 苏恒毅
- Applicant: 北京北方华创微电子装备有限公司
- Applicant Address: 北京市经济技术开发区文昌大道8号
- Assignee: 北京北方华创微电子装备有限公司
- Current Assignee: 北京北方华创微电子装备有限公司
- Current Assignee Address: 北京市经济技术开发区文昌大道8号
- Agency: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- Agent 彭瑞欣; 张天舒
- Main IPC: H01J37/32
- IPC: H01J37/32 ; H01L21/265 ; H01L21/67

Abstract:
本发明提供一种反应腔室及半导体加工设备,包括上电极装置和下电极装置,该下电极装置设置在反应腔室内,用于承载晶片。上电极装置包括介质筒、线圈、上功率电源和上电极组件,其中,介质筒设置在反应腔室的顶部;线圈环绕设置在介质筒的外围;上电极组件包括上电极板,该上电极板设置在介质筒的顶部;上功率电源用于同时或者分别向上电极板和线圈加载激励功率。本发明提供的反应腔室,其不仅可以减小线圈的输出端与输入端之间的电压差异,而且可以削弱由线圈的电场不均匀产生的影响,从而可以提高等离子体的密度分布均匀性。
Public/Granted literature
- CN107369604B 反应腔室及半导体加工设备 Public/Granted day:2019-10-11
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