基于键合技术的SOI加速度敏感芯片制造方法
Abstract:
基于键合技术的SOI加速度敏感芯片制造方法,其特征在于:该方法是指加速度敏感芯片或相类似敏感芯片的制造方法,所述方法是利用硅硅直接键合技术将两片分别加工的SOI基片(A和B)键合并制成敏感芯片的技术方法。其具有灵敏度高、固有频率高、抗冲击性能好、交叉耦合系数小、重复性和稳定性好、耐高温以及制造工艺与IC工艺兼容等优点。
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