Invention Grant
- Patent Title: 在离子阱中同时进行正负离子分析的方法
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Application No.: CN201810534658.9Application Date: 2018-05-29
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Publication No.: CN108538702BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 余泉 , 李曼 , 王晓浩 , 钱翔 , 倪凯
- Applicant: 清华大学深圳研究生院
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- Assignee: 清华大学深圳研究生院
- Current Assignee: 清华大学深圳研究生院
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- Agency: 深圳新创友知识产权代理有限公司
- Agent 徐罗艳
- Main IPC: H01J49/26
- IPC: H01J49/26

Abstract:
本发明公开了一种在离子阱中同时进行正负离子分析的方法,其特征在于:所述离子阱是由两个独立的离子阱轨道围成的环形离子阱,每个所述离子阱轨道均由四个独立的电极板围成其离子分析区域;所述方法包括:在所述环形离子阱的离子入射、分离阶段和离子分析阶段,均分别向两个所述离子阱轨道施加方向相反的直流恒定电压,使离子入射到所述环形离子阱内时按正负分离至两个所述离子阱轨道,从而使得在离子分析阶段,其中一个离子阱轨道进行正离子分析的同时,另一个离子阱轨道进行负离子分析。通过本发明可实现在同一个离子阱内正负离子的分离和同时分析。
Public/Granted literature
- CN108538702A 在离子阱中同时进行正负离子分析的方法 Public/Granted day:2018-09-14
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