Invention Publication
- Patent Title: 一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法
- Patent Title (English): Graphical estimation method for optimal detection frequency under array size constraint
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Application No.: CN201810724272.4Application Date: 2018-07-04
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Publication No.: CN109031316APublication Date: 2018-12-18
- Inventor: 张驰 , 唐建生 , 张立琛 , 张晓亮
- Applicant: 中国船舶工业系统工程研究院
- Applicant Address: 北京市海淀区丰贤东路1号
- Assignee: 中国船舶工业系统工程研究院
- Current Assignee: 中国船舶工业系统工程研究院
- Current Assignee Address: 北京市海淀区丰贤东路1号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 范晓毅
- Main IPC: G01S15/08
- IPC: G01S15/08

Abstract:
本发明公开了一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法,包括:获取初始参数;取工作频率集,并确定工作频率集对应的吸收系数集;确定常阈值C的表达式和工作频率fi时的频率距离相关函数yi:进行图形化处理,依次绘制距离范围r内的频率距离相关曲线Yi,以及,绘制常阈值C的直线;并确定常阈值C的直线与频率距离相关曲线Yi的交点Pi(ri,C);解算得到集合[r1,r2,…,ri,…,rw]内最大值rp,并确定工作频率fp为声纳的最优工作频率。本发明通过绘制曲线与常阈值,能够直观的得到不同工作频率下的基阵探测距离,并可以直观的看出探测距离随频率的变化趋势,以及得到不同常阈值区间内的最优工作频率。
Public/Granted literature
- CN109031316B 一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法 Public/Granted day:2021-04-13
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