一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法
Abstract:
本发明公开了一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法,包括:获取初始参数;取工作频率集,并确定工作频率集对应的吸收系数集;确定常阈值C的表达式和工作频率fi时的频率距离相关函数yi:进行图形化处理,依次绘制距离范围r内的频率距离相关曲线Yi,以及,绘制常阈值C的直线;并确定常阈值C的直线与频率距离相关曲线Yi的交点Pi(ri,C);解算得到集合[r1,r2,…,ri,…,rw]内最大值rp,并确定工作频率fp为声纳的最优工作频率。本发明通过绘制曲线与常阈值,能够直观的得到不同工作频率下的基阵探测距离,并可以直观的看出探测距离随频率的变化趋势,以及得到不同常阈值区间内的最优工作频率。
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