Invention Grant
- Patent Title: 超声波质量控制方法及超声波检查装置
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Application No.: CN201680087026.1Application Date: 2016-11-29
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Publication No.: CN109313163BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: T·哈卡赖宁
- Applicant: 瓦锡兰芬兰有限公司
- Applicant Address: 芬兰瓦萨
- Assignee: 瓦锡兰芬兰有限公司
- Current Assignee: 瓦锡兰芬兰有限公司
- Current Assignee Address: 芬兰瓦萨
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 刘爱勤; 黄纶伟
- International Application: PCT/FI2016/050838 2016.11.29
- International Announcement: WO2018/100225 EN 2018.06.07
- Date entered country: 2018-12-21
- Main IPC: G01N29/06
- IPC: G01N29/06 ; G01N29/30 ; G01N29/44 ; G01S15/89 ; G06K9/36 ; G06T7/00

Abstract:
本发明提供一种超声波质量控制方法及超声波检查装置。一种超声波质量控制检查工件的质量并且自动地对工件进行分类。工件被扫描(101),并且通过所述扫描形成图像(102)。参考工件也被扫描(103),并且通过对参考工件的所述扫描形成参考图像(104)。此外,形成参考图像的负片图像(105),并且利用所述图像和所述负片图像来创建指示图像(106)。利用数个图像滤波器来对指示图像进行滤波,各个图像滤波器对除了特定于图像滤波器的指示等级数据之外的指示图像的所有数据进行滤波(107)。此外,由特定于图像滤波器的指示等级数据提供数个指示等级数据(108),并且利用数个指示等级数据对工件进行分类(109)。
Public/Granted literature
- CN109313163A 使用滤波图像数据的超声波质量控制 Public/Granted day:2019-02-05
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