Invention Grant
- Patent Title: 具有电荷补偿层和低阻通道的VDMOS及其制作方法
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Application No.: CN201910305038.2Application Date: 2019-04-16
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Publication No.: CN110047932BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 段宝兴 , 王彦东 , 杨鑫 , 杨银堂
- Applicant: 西安电子科技大学
- Applicant Address: 陕西省西安市太白南路2号
- Assignee: 西安电子科技大学
- Current Assignee: 西安电子科技大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市太白南路2号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 胡乐
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L29/10 ; H01L29/06 ; H01L21/336

Abstract:
本发明提出了一种具有电荷补偿层和低阻通道的VDMOS及其制作方法,该器件设置N+电流通道,纵向贯穿N型外延层的对称中心,上、下两端分别与栅氧化层、N+型衬底相接;并在N型外延层内部、两处P型基区的下方区域分别设置有相同半导体材料的P型电荷补偿层。器件导通时,重掺杂形成的N+电流通道改变了传统器件中的电流传输路径,而且电流分布几乎不受电荷补偿层的影响,这样大幅降低了器件的导通电阻。器件关断时,P型电荷补偿层辅助耗尽N+电流通道,同时产生的新电场峰优化了器件的纵向电场。
Public/Granted literature
- CN110047932A 具有电荷补偿层和低阻通道的纵向双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管及其制作方法 Public/Granted day:2019-07-23
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