Invention Grant
- Patent Title: 基于高斯金字塔的EPR电缆绝缘老化状态测评方法
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Application No.: CN201911063494.7Application Date: 2019-11-03
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Publication No.: CN110632482BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 郭蕾 , 曹伟东 , 张靖康 , 邢立勐 , 杨涵 , 权圣威
- Applicant: 西南交通大学
- Applicant Address: 四川省成都市高新区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院
- Assignee: 西南交通大学
- Current Assignee: 河北华伦线缆有限公司
- Current Assignee Address: 062450 河北省沧州市河间市行别营工业区
- Agency: 成都盈信专利代理事务所
- Agent 崔建中
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12 ; G06T3/00
Abstract:
本发明公开了一种基于高斯金字塔的EPR电缆绝缘老化状态测评方法，包括步骤：采集实际运行电缆与待检测电缆的局部放电谱图信息、提取老化特征因子和根据老化特征因子估算电缆绝缘老化状态。本发明能准确、高效地估算EPR电缆绝缘老化状态，大量地降低检修工作量。
Public/Granted literature
- CN110632482A 基于高斯金字塔的EPR电缆绝缘老化状态测评方法 Public/Granted day:2019-12-31
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