Invention Grant
- Patent Title: 半导体器件
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Application No.: CN201911347524.7Application Date: 2013-11-13
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Publication No.: CN111048469BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 柳镐仁 , 赵太熙 , 金根楠 , 廉癸憙 , 朴正焕 , 张贤禹
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 张波
- Priority: 10-2012-0128224 20121113 KR
- Main IPC: H01L21/768
- IPC: H01L21/768 ; H01L27/105 ; H01L27/108 ; H01L29/423

Abstract:
本发明提供了半导体器件。该半导体器件包括:衬底,包括单元区和外围区;单元栅电极,埋入在与单元区的单元有源部分交叉的凹槽中;单元线图案,横跨单元栅电极,单元线图案连接到在单元有源部分中处于单元栅电极的一侧的第一源/漏区;外围栅极图案,横跨外围区的外围有源部分;平坦化的层间绝缘层,在衬底上处于外围栅极图案周围;以及覆盖绝缘层,在平坦化的层间绝缘层和外围栅极图案的顶表面上,覆盖绝缘层包括相对于平坦化的层间绝缘层具有蚀刻选择性的绝缘材料。
Public/Granted literature
- CN111048469A 半导体器件及其制造方法 Public/Granted day:2020-04-21
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