Invention Publication
CN112563103A 带电粒子束装置
审中-实审
- Patent Title: 带电粒子束装置
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Application No.: CN202011014963.9Application Date: 2020-09-24
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Publication No.: CN112563103APublication Date: 2021-03-26
- Inventor: 村木礼奈 , 上本敦 , 麻畑达也
- Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 日本株式会社日立高新技术科学
- Current Assignee: 日本株式会社日立高新技术科学
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 黄志坚; 崔成哲
- Priority: 2019-173888 20190925 JP 2020-047650 20200318 JP
- Main IPC: H01J37/20
- IPC: H01J37/20 ; H01J37/244 ; H01J37/26

Abstract:
本发明提供一种带电粒子束装置,能够使自动微采样高速化。带电粒子束装置是从试样自动地制作试样片的带电粒子束装置,具备:带电粒子束照射光学系统,其照射带电粒子束;试样台,其载置着所述试样移动;试样片移设单元,其保持并运送从所述试样分离及摘出的所述试样片;保持器固定台,其保持供移设所述试样片的试样片保持器;以及计算机,其根据学习第1信息而得到的机器学习的模型和第2信息来进行与第2对象物相关的位置的控制,其中,所述第1信息包含第1对象物的第1图像,所述第2信息包含通过所述带电粒子束的照射而取得的第2图像。
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