Invention Grant
KR101479249B1 간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템 有权
相干结构照明成像方法和相关结构照明显微镜系统

  • Patent Title: 간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템
  • Patent Title (English): Coherent Structured Illumination Imaging Method And Coherent Structured Illumination Microscope System
  • Patent Title (中): 相干结构照明成像方法和相关结构照明显微镜系统
  • Application No.: KR1020130135555
    Application Date: 2013-11-08
  • Publication No.: KR101479249B1
    Publication Date: 2015-01-05
  • Inventor: 이재용이은성이상원박주현
  • Applicant: 한국표준과학연구원
  • Applicant Address: 대전 유성구 가정로 ***(가정동, 한국표준과학연구원)
  • Assignee: 한국표준과학연구원
  • Current Assignee: 한국표준과학연구원
  • Current Assignee Address: 대전 유성구 가정로 ***(가정동, 한국표준과학연구원)
  • Agent 이평우
  • Main IPC: G01B9/02
  • IPC: G01B9/02 G01B11/25 G01B9/04 G02B21/00
간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템
Abstract:
본 발명은 간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템을 제공한다. 이 간섭성 구조조명 이미징 방법은 육각형 격자 패턴에 의하여 형성된 육각형 격자 진폭 구조조명을 측정 대상에 차례로 조사하는 단계; 상기 육각형 격자 진폭 구조조명들에 의하여 주파수 하향 변환된 원시 이미지들을 차례로 측정하는 단계; 및 상기 원시 이미지들을 처리하여 재구성된 물체 이미지를 산출하는 단계를 포함한다.
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