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公开(公告)号：KR101391180B1
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：KR1020120111495
申请日：2012-10-08
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은레이저스캔구조조명이미징방법을제공한다. 본발명의일 실시예에따른레이저스캔구조조명이미징방법은격자패턴조명(grating pattern illumination)의주기에대응하는라인점프간격을설정하고, 상기라인점프간격 () 을서브스캔개수()로분할하는서브스캔간격()을설정하는제1 단계; 레이저광원은광학계를통하여샘플평면을상기라인점프간격또는상기서브스캔간격으로순차적으로스캔하고, 샘플에서발생한신호광은공초점핀홀을통과하여감지되는제2 단계; 및상기공초점핀홀을이동시킨후 상기제2 단계를반복하는제3 단계를포함한다.
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公开(公告)号：KR1020140045625A
公开(公告)日：2014-04-17
申请号：KR1020120111495
申请日：2012-10-08
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: The present invention relates to a structured illumination imaging method using laser beam scanning. According to the present invention, the structured illumination imaging method using laser beam scanning includes the steps of conducting a first step wherein a line jump interval corresponding to the period of grating pattern illumination is set and a sub scan interval ( ) dividing the line jump interval ( ) into the number of sub scans ( ) is set; conducting a second step wherein a sample plane is scanned by a laser light source at the line jump intervals or the sub scan intervals and the signal light generated from the sample is passed through a confocal pinhole and sensed; and conducting a third step wherein the confocal pinhole is moved and the second step is repeatedly conducted. [Reference numerals] (AA) Set azimuth angle (Index k); (BB) Set azimuth angle (Index k); Is every azimuth angle scanned?; (CC) Move pinhole (q_1,k); (DD) Scan laser on sample scanning position (x, y) corresponding to j, l, k and acquire and store data; (S10) S10- Set line jump interval (Ts) and the number of lines (Nraw); Set the number of sub scans (Nsub) and sub scan interval (dsub); and the number of pinhole moving (2Q_max+1); (S51) Produce raw scan images; (S52) Separate raw sub scan images corresponding to different grafting phases from raw scan images; (S53) Laminate raw sub scan images corresponding to the same grafting phases and produce intermediate images; (S54) Inversely rotate intermediate images and produce final images; (S62) FT image section; (S64) Separate spectrum components; (S66) Move spectrum components; (S68) Inverse Fourier transformation; (S69) Output high resolution image
Abstract translation: 本发明涉及使用激光束扫描的结构化照明成像方法。 根据本发明，使用激光束扫描的结构化照明成像方法包括以下步骤：进行第一步骤，其中设置与光栅图案照明的周期相对应的线跳跃间隔和子扫描间隔（
）划分行跳转间隔（
）转换成子扫描次数（
）设置; 进行第二步骤，其中通过激光光源以线跳跃间隔或子扫描间隔扫描样品平面，并且从样品产生的信号光通过共焦孔并感测; 并且进行第三步骤，其中共焦针孔被移动，并且第二步骤被重复地进行。 （标号）（AA）设定方位角（索引k）; （BB）设定方位角（索引k）; 扫描每个方位角？ （CC）移动针孔（q_1，k）; （DD）在对应于j，l，k的样本扫描位置（x，y）上扫描激光并获取和存储数据; （S10）S10-设定行跳转间隔（Ts）和行数（Nraw）; 设置子扫描次数（Nsub）和子扫描间隔（dsub）; 和针孔移动数（2Q_max + 1）; （S51）生成原始扫描图像; （S52）从原始扫描图像分离对应于不同接枝相位的原始子扫描图像; （S53）对相同的接枝相层叠原始的副扫描图像并产生中间图像; （S54）相反旋转中间图像并产生最终图像; （S62）FT图像部分; （S64）分光谱成分; （S66）移动频谱分量; （S68）傅里叶逆变换; （S69）输出高分辨率图像
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公开(公告)号：KR101890161B1
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：KR1020160049965
申请日：2016-04-25
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은암시야조명현미경시스템및 암시야조명현미경의동작방법을제공한다. 본발명의일 실시예에따른암시야현미경은광학박막에의한산란광을관측한다. 상기암시야현미경의동작방법은상기광학박막에제1 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제1 조명영상을제공하는단계; 상기광학박막에상기제1 조명광과동일한광경로를통하여제2 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제2 조명영상을제공하는단계; 및상기제1 조명영상과상기제2 조명영상의차이로구성된차동영상을제공하는단계를포함한다. 상기제1 조명광은상기광학박막에대하여투과광을증가시키는조건으로선택되고, 상기제2 조명광은상기광학박막에대하여반사광을증가시키는조건으로선택된다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101501512B1
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：KR1020130136271
申请日：2013-11-11
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 2차원 위상정합 비선형광학 구조조명 이미징 방법 및 2차원 위상정합 CARS 구조조명 현미경을 제공한다. 이 2차원 위상정합 비선형광학 구조조명 이미징 방법은 펌프광 주파수를 가진 펌프광을 제공하는 단계; 상기 펌프광을 정방형 격자패턴으로 공간 진폭 변조하여 정방형 격자 진폭 구조조명을 측정 대상에 평행하게 조사하는 단계; 스톡스광 주파수를 가진 스톡스광을 상기 측정 대상에 조사하는 단계; 상기 정방형 격자 진폭 구조조명된 펌프광과 상기 스톡스광에 의하여 CARS 여기된 상기 측정 대상의 반스톡스 신호광 공간분포를 측정하여 원시 이미지를 생성하는 단계; 및 상기 원시 이미지를 처리하여 재구성된 물체 이미지를 산출하는 단계를 포함한다.
Abstract translation: 本发明提供了一种二维相位匹配非线性光学结构照明成像方法， 和二维相位匹配CARS结构照明显微镜。 二维相位匹配非线性光学结构照明成像方法包括以下步骤：提供具有泵浦光频率的泵浦光; 通过以平方授权图案调制泵浦光的空间振幅，将具有方形光栅振幅结构的辐射照明并联到测量对象; 将具有斯克利夫光频率的斯托克斯光辐射到测量目标; 产生被所述飞行器CARS激发的所述测量对象的反斯托克斯信号的光空间分布和以所述正方形授权振幅结构辐射的所述泵浦光; 并且通过处理原始图像来产生重构的对象图像。
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公开(公告)号：KR1020170121491A
公开(公告)日：2017-11-02
申请号：KR1020160049965
申请日：2016-04-25
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은암시야조명현미경시스템및 암시야조명현미경의동작방법을제공한다. 본발명의일 실시예에따른암시야현미경은광학박막에의한산란광을관측한다. 상기암시야현미경의동작방법은상기광학박막에제1 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제1 조명영상을제공하는단계; 상기광학박막에상기제1 조명광과동일한광경로를통하여제2 조명광을조사하고상기광학박막으로부터산란된광을수집하여제2 조명영상을제공하는단계; 및상기제1 조명영상과상기제2 조명영상의차이로구성된차동영상을제공하는단계를포함한다. 상기제1 조명광은상기광학박막에대하여투과광을증가시키는조건으로선택되고, 상기제2 조명광은상기광학박막에대하여반사광을증가시키는조건으로선택된다.
Abstract translation: 本发明提供了一种暗视场照明显微镜系统和一种操作暗视场照明显微镜的方法。 根据本发明实施例的暗视野显微镜通过光学薄膜观察散射光。 该方法包括：用第一照明光照射该光学薄膜并且收集来自该光学薄膜的散射光以提供第一照明图像; 用第二照明光通过与第一照明光相同的光路照射光学薄膜，并且收集来自光学薄膜的散射光以提供第二照明图像; 并且提供由第一照明图像和第二照明图像之间的差异组成的差异视频。 选择第一照明光作为增加相对于光学薄膜的透射光的条件，并且选择第二照明光作为用于增加相对于光学薄膜的反射光的条件。
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公开(公告)号：KR101479249B1
公开(公告)日：2015-01-05
申请号：KR1020130135555
申请日：2013-11-08
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 간섭성 구조조명 이미징 방법 및 간섭성 구조조명 현미경 시스템을 제공한다. 이 간섭성 구조조명 이미징 방법은 육각형 격자 패턴에 의하여 형성된 육각형 격자 진폭 구조조명을 측정 대상에 차례로 조사하는 단계; 상기 육각형 격자 진폭 구조조명들에 의하여 주파수 하향 변환된 원시 이미지들을 차례로 측정하는 단계; 및 상기 원시 이미지들을 처리하여 재구성된 물체 이미지를 산출하는 단계를 포함한다.
Abstract translation: 本发明提供一种相干结构照明成像方法和一种相干结构的照明显微镜系统。 相干结构照明成像方法包括以下步骤：将由六角形格子图案形成的六边形晶格振幅结构照明顺序地扫描到被测物体上; 测量原始图像通过六边形晶格振幅结构照明下变频; 以及计算通过处理原始图像重新配置的对象图像。
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公开(公告)号：KR101401283B1
公开(公告)日：2014-05-29
申请号：KR1020120111575
申请日：2012-10-09
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 광 위상 변조 검출 장치 및 광 위상 변조 검출 방법을 제공한다. 이 장치는 변조 주파수로 세기 변조된 펌프광을 시료에 제공하는 펌프 광원부, 탐색광을 시료에 제공하는 탐색 광원부, 탐색광을 분기하여 샘플 경로를 통하여 상기 시료에 제1 탐색광을 제공하고, 탬색광을 분기하여 기준 경로를 통하여 시료를 거치지 않는 제2 탐색광을 제공하고, 샘플 경로를 거친 제1 탐색광과 기준 경로를 거친 제2 탐색광을 합산하여 합산 탐색광을 제공하는 간섭 광경로 제공부, 샘플 경로와 기준 경로 중에서 하나에 45도 선형 편광을 제공하고, 샘플 경로와 기준 경로 중에서 다른 하나에 원형 편광을 제공하고 편광 제공부, 및 합산 탐색광에서 제1 방향으로 선형 편광된 제1 간섭광과 제1 방향에 수직한 제2 방향으로 선형 편광된 제2 간섭광으로 각각 분리하는 편광 빔 분리기를 포함한다. 펌프광은 시료에 굴절률 변화를 제공하고, 굴절률 변화는 제1 탐색광에 변조 위상을 제공한다.
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公开(公告)号：KR1020140045628A
公开(公告)日：2014-04-17
申请号：KR1020120111575
申请日：2012-10-09
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: The present invention relates to an optical phase modulation detection apparatus and a method therefor. The apparatus includes: a pump light source part supplying pump light, the intensity of which is modulated to a modulated frequency, to a sample; a search light source part supplying search light to the sample; an interference light path supply part branching the search light to supply first search light to the sample through a sample path, branching the search light to supply second search light not passed through the sample through a reference path, and mixing the first search light passed through the sample path and the second search light passed through the reference path to supply mixed search light; a polarized light supply part supplying linear polarized light of 45° to one of the sample path and the reference path and supplying circular polarized light to the other; and a polarized light beam separator separating the mixed search light into first interference light linearly polarized in a first direction and second interference light linearly polarized in a second direction vertical to the first direction. The pump light provides the variation of the reflective index for the sample, and the variation of the reflective index provides the modulated phase for the first search light. [Reference numerals] (190) Specimen
Abstract translation: 本发明涉及光相位调制检测装置及其方法。 该装置包括：泵浦光源部分，将其强度被调制到调制频率的泵浦光提供给样品; 搜索光源部分，向样本提供搜索光; 干涉光路供给部，其分支所述搜索光，以通过采样路径向所述样本提供第一搜索光，分支所述搜索光以提供未通过所述样本的第二搜索光通过参考路径，并且混合通过的所述第一搜索光 所述采样路径和所述第二搜索光通过所述参考路径以提供混合搜索光; 偏振光供给部，其向所述采样路径和所述基准路径之一提供45°的线偏振光，并将圆偏振光提供给另一方; 以及偏振光束分离器，将混合搜索光分离成在第一方向上线偏振的第一干涉光和在与第一方向垂直的第二方向上线偏振的第二干涉光。 泵浦光提供样品的反射指数的变化，并且反射指数的变化为第一搜索光提供调制相位。 （附图标记）（190）试样
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