公开(公告)号：CA2030468A1

公开(公告)日：1991-05-23

申请号：CA2030468

申请日：1990-11-21

Applicant: CLAUSS GILLES ,  CHARTIER GERMAIN ,  TAILLANDIER JEAN MICHEL ,  BOULEE PASCAL

Inventor： CLAUSS GILLES ,  CHARTIER GERMAIN ,  TAILLANDIER JEAN-MICHEL ,  BOULEE PASCAL

IPC: G01D5/28 ,  G01D5/26 ,  G08C21/00

Abstract: A DISPLACEMENT DIRECTION AND AMPLITUDE SENSOR A direction and amplitude sensor for detecting displacement comprising a mirror integral with a mobile element and a photoemitter and photoreceptor assembly integral with a reference frame. The assembly comprises a central optical fiber (1) emitting a light cone towards the mirror (10) and optical receiving fibers (2-7). The mirror is circular and its diameter and its axial distance from the extremity of the fibers are such, in centered position, that its diameter substantially corresponds to that of the light cone (11) generated by the central fiber and that the reflected light cone (12) is substantially tangent to the external radial edges of the receiving fibers. The mirror (10) is fitted on the end transversal wall (22) of a tube (21) perpendicularly to the axis of this tube and centered, the other extremity of this tube being embedded in a frame (20), the optical fibers (1-7) having their extremities inside said tube and directed towards the mirror.

公开(公告)号：WO2009024669A2

公开(公告)日：2009-02-26

申请号：PCT/FR2008/000946

申请日：2008-07-02

Applicant: XENOCS SA ,  HOGHOJ, Peter ,  BOULEE, Pascal ,  NTOVA, Paraskevi ,  RODRIGUES, Sergio

Inventor： HOGHOJ, Peter ,  BOULEE, Pascal ,  NTOVA, Paraskevi ,  RODRIGUES, Sergio

IPC: H01J35/10 ,  H01J35/14 ,  H01J35/02 ,  H01J37/00 ,  H05G1/02 ,  G21K1/00 ,  G01N23/00 ,  G01B15/00

CPC classification number: H01J35/10 ,  B82Y10/00 ,  G21K2201/061 ,  G21K2201/064 ,  H01J35/14 ,  H01J35/20

Abstract: La présente invention concerne le domaine de l'instrumentation analytique par rayons X (RX). Elle concerne plus précisément un dispositif de délivrance d'un faisceau de rayons X à haute énergie, typiquement supérieure à 4 keV, pour des applications analytiques par rayons X.

Abstract translation: 本发明涉及X射线分析仪器（RX），更准确地说，一种用于提供通常高于4keV的高能X射线束用于X射线分析应用的装置。

公开(公告)号：WO02056089A2

公开(公告)日：2002-07-18

申请号：PCT/FR0200056

申请日：2002-01-09

Applicant: DYAMANT IND ,  ANGLARET LUC ,  BOULEE PASCAL ,  CUNY FRANCIS ,  LAFOND LUC

Inventor： ANGLARET LUC ,  BOULEE PASCAL ,  CUNY FRANCIS ,  LAFOND LUC

IPC: G02B26/10 ,  H04N1/113

CPC classification number: H04N1/113 ,  G02B26/105

Abstract: The invention concerns a device for transmitting a light beam to zones of a surface, comprising a first mirror (10) arranged in the path of a light beam (11) derived from a first light source (9), directed perpendicularly to said surface (3) and deflecting said beam parallel to said surface; means (13) for pivoting said first mirror along an axis perpendicular to said surface, the rotating beam (14) derived from said second mirror performing a rotary scan; second mirrors (15) distributed around and spaced apart from said first mirror (10), on the path of the light beam (14), and deflecting said beam towards said surface; and means (17) for pivoting said second mirrors (15) along an axis parallel to said surface. By actuating the means pivoting said first mirror (10) and the means pivoting said second mirrors (15), the beams (20) derived from said second mirrors describe beams (22) selectively scanning said zones (2). The invention is useful for heating soldering zones of electronic components.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于将光束传输到表面区域的装置，包括布置在从第一光源（9）导出的光束（11）的路径中的第一反射镜（10），垂直于所述表面 3）并且使所述光束平行于所述表面偏转; 用于使所述第一反射镜沿垂直于所述表面的轴线旋转的装置（13），所述旋转梁（14）从所述第二反射镜执行旋转扫描; 在所述光束（14）的路径上分布在所述第一反射镜（10）周围并与之隔开的第二反射镜（15），并且将所述光束偏转到所述表面; 以及用于沿着平行于所述表面的轴线枢转所述第二反射镜（15）的装置（17）。 通过驱动枢转所述第一反射镜（10）和枢转所述第二反射镜（15）的装置的装置，从所述第二反射镜衍生的光束（20）描述了选择性地扫描所述区域（2）的光束（22）。 本发明可用于加热电子部件的焊接区域。

公开(公告)号：WO2008012419A2

公开(公告)日：2008-01-31

申请号：PCT/FR2007001252

申请日：2007-07-20

Applicant: XENOCS ,  BOULEE PASCAL ,  CENDA DAN MIHAI ,  HOGHOJ PETER

Inventor： BOULEE PASCAL ,  CENDA DAN MIHAI ,  HOGHOJ PETER

CPC classification number: H05G1/02 ,  G21K1/04

Abstract: The invention relates to a system (1) for delivering an X-ray beam, comprising a source block (100) that emits a source X-ray beam and conditioning means (500) for conditioning the source beam sent towards a specimen. The system (1) includes stabilization means (800) designed to thermally stabilize a region of the system (1) lying downstream of the source block (100), in order to limit heat transfer towards the conditioning means for the purpose of preventing thermal perturbations in the conditioning means (500).

Abstract translation: 本发明涉及一种用于传送X射线束的系统（1），其包括发射源X射线束的源块（100）和用于调节朝向样本发送的源束的调节装置（500）。 系统（1）包括稳定装置（800），其被设计成热稳定位于源块（100）下游的系统（1）的区域，以限制向调节装置传热，以防止热扰动 在调节装置（500）中。

公开(公告)号：WO2008012419A3

公开(公告)日：2008-01-31

申请号：PCT/FR2007/001252

申请日：2007-07-20

Applicant: XENOCS ,  BOULEE, Pascal ,  CENDA, Dan Mihai ,  HOGHOJ, Peter

Inventor： BOULEE, Pascal ,  CENDA, Dan Mihai ,  HOGHOJ, Peter

IPC: G21K1/04 ,  H05G1/02 ,  G01N23/223

Abstract: L'invention concerne un système (1) de délivrance de faisceau de rayons X comprenant un bloc source (100) émettant un faisceau source de rayons X, des moyens de conditionnement (500) permettant de conditionner le faisceau source en direction d'un échantillon. Le système (1) comporte des moyens de stabilisation (800) agencés de manière à stabiliser thermiquement une zone du système (1) située en aval du bloc source (100), pour limiter des transferts thermiques vers les moyens de conditionnement en vue de prévenir des perturbations thermiques au niveau des moyens de conditionnement (500).

公开(公告)号：WO2009024669A3

公开(公告)日：2009-04-16

申请号：PCT/FR2008000946

申请日：2008-07-02

Applicant: XENOCS SA ,  HOGHOJ PETER ,  BOULEE PASCAL ,  NTOVA PARASKEVI ,  RODRIGUES SERGIO

Inventor： HOGHOJ PETER ,  BOULEE PASCAL ,  NTOVA PARASKEVI ,  RODRIGUES SERGIO

IPC: H01J35/10 ,  H01J35/14

CPC classification number: H01J35/10 ,  B82Y10/00 ,  G21K2201/061 ,  G21K2201/064 ,  H01J35/14 ,  H01J35/20

Abstract: The invention relates to X-ray analytical instruments (RX), more precisely a device for providing a high energy X-ray beam, typically above 4 keV, for X-ray analysis applications. The device comprises an X-ray tube with a turning anode and an X-ray lens for shaping the beam.

Abstract translation: 本发明涉及X射线分析仪器（RX），更准确地说，一种用于提供通常高于4keV的高能X射线束用于X射线分析应用的装置。 该装置包括具有转向阳极的X射线管和用于使束成形的X射线透镜。

公开(公告)号：WO2002056089A3

公开(公告)日：2002-07-18

申请号：PCT/FR2002/000056

申请日：2002-01-09

Applicant: DYAMANT INDUSTRIE ,  ANGLARET, Luc ,  BOULEE, Pascal ,  CUNY, Francis ,  LAFOND, Luc

Inventor： ANGLARET, Luc ,  BOULEE, Pascal ,  CUNY, Francis ,  LAFOND, Luc

IPC: G02B26/10

Abstract: Dispositif de transmission d'un rayon de lumière vers des zones d'une surface, comprenant un premier miroir (10) placé sur le chemin d'un rayon de lumière (11), issu d'une source de lumière (9), dirigé perpendiculairement à ladite surface (3) et déviant ce rayon parallèlement à cette surface; des moyens (13) pour faire pivoter ledit premier miroir selon un axe perpendiculaire à ladite surface, le rayon tourant (14) issu de ce second miroir effectuant un balayage rotatif; des deuxièmes miroirs (15) répartis autour et à distance dudit premier miroir (10), sur le chemin du rayon (14), et déviant sélectivement ce rayon vers ladite surface; et des moyens (17) pour faire pivoter lesdits deuxièmes miroirs (15) selon un axe parallèle à ladite surface. En actionnant les moyens de pivotement dudit premier miroir (10) et les moyens de pivotement desdits deuxièmes miroirs (15), les rayons (20) issus desdits deuxièmes miroirs décrivent des faisceaux (22) balayant sélectivement lesdites zones (2). Application au chauffage de zones de soudage de composants électroniques.