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公开(公告)号：CN119846270A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411918884.9
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请提供一种静电放电模拟器的支撑装置及应用，以解决静电放电模拟器在校准时的安装固定问题，静电放电模拟器校准时未考虑接地线对静电放电持续时间影响的问题，该装置包括：底座、支撑柱、接地线固定夹具和静电枪固定夹具，其中，支撑柱安装在底座的中心位置；接地线固定夹具的一端安装在支撑柱上，接地线固定夹具的另一端设置有接地线固定端子，其中，接地线固定端子用于将接地线搭在上面；静电枪固定夹具的一端安装在支撑柱上，静电枪固定夹具的另一端设置有静电枪固定孔，其中，静电枪固定孔用于放置静电放电模拟器的手持部分；接地线固定夹具和静电枪固定夹具在支撑柱的两侧，相互平行并且在同一平面上。
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公开(公告)号：CN119827847A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411966073.6
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种针对芯片引脚传导发射电压的测试装置及方法，包括设置有供电电源的测试电路板、测试探头、和接收机，测试探头包含测试探针和阻抗匹配网络，测试探针直接接触待测芯片的待测引脚，阻抗匹配网络的输入端连接测试探针，输出端连接接收机，待测芯片放置于测试电路板上，供电电源给待测芯片供电形成噪声源，接收机在预设频率范围内扫频得到芯片发射电压测试数据。利用芯片级测试探头测量芯片引脚处的对外发射电压幅值，为芯片的集成电路设计阶段，对无用信号的传导发射输出抑制能力和电路间的电磁兼容性提供评估方法和测量手段，也可作为芯片电磁兼容性筛选的依据。
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公开(公告)号：CN118133597A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311855190.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置，所述方法包括：通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型；对所述仿真模型进行有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。本发明通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型并开展有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，可并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。
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公开(公告)号：CN118130919A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311855194.9
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种基于紧缩场的雷达天线谐波乱真测量方法及装置，方法包括：搭建紧缩场测试暗室，所述紧缩场测试暗室包括：反射面、馈源和馈源转台，利用焦点处高性能馈源照射高精度反射面形成平面波信号，反射面边缘的处理和微波暗室的配合以在空间测试区域创造出一个静区，所述静区用于模拟被测物在无反射的自由空间中的辐射特性；在所述紧缩场测试暗室创造的无反射的自由空间的辐射特性条件下，对待测试的雷达天线进行谐波乱真测量。本发明在紧缩场的测量暗室环境下，利用反馈面形成平面波以等效远场测试条件，有效避免了外场测试条件的复杂电磁环境干扰，使其能够准确的测量由天线端辐射发射出的谐波、乱真干扰信号。
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公开(公告)号：CN116087856A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211708038.5
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于芯片天线测量领域，具体涉及了一种芯片天线测量校准装置及方法，旨在解决现有的天线校准系统不适用芯片天线的计量的问题。本发明包括：射频信号子系统包括矢量网络分析仪、扩频模块、接收天线，用于电磁波信号的接收和发射；芯片天线馈电平台包括探针台、晶圆探针、显微镜，在显微镜的控制下，利用设置于探针台的晶圆探针精确接触天线馈电点进行馈电；三维扫描子系统包括三维扫描架、空间位置测量模块以及位置控制模块，用于按照设定的轨迹进行运动以实现待测天线的辐射方向图扫描测量。本发明实现了芯片天线方向图和增益的精确计量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116047436A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211732927.5
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本说明书公开了一种有源相控阵雷达天线的近场幅相校准方法、系统、设备，涉及相控阵雷达天线校准技术领域，旨在解决现有技术对相控阵雷达天线进行近场校准鲁棒性较差的问题。本发明方法包括：对各发射通道一一进行平面扫描，获取相控阵雷达天线的各发射通道的幅度值、相位值；计算幅度值、相位值的误差，并基于误差对各发射通道进行校准；判断是否需要重新进行平面扫描，若否，则计算待测的发射通道的幅度值、相位值；获取待测的发射通道对应的参考阵面的幅度值、相位值，计算幅度值、相位值之间的误差，并基于误差对待测的发射通道再次进行校准。本发明提高了雷达天线方向图的补偿精度和效率，解决了有源相控阵雷达天线的幅相校准鲁棒性差问题。
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公开(公告)号：CN118569172A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202311827713.0
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F30/3323 , G06F30/3308 , H01Q1/22
Abstract: 本发明属于数据分析领域，具体涉及了一种针对芯片天线焊盘寄生参数分析方法、系统及设备，旨在解决现有的芯片天线性能受基板，布线方式，探针馈点耦合等多种方式影响的问题。本发明包括：基于等效电路获取GSG焊盘寄生参数；基于所述寄生参数通过仿真不同复介电常数的第一微带圆环谐振器、不同尺寸的第二微带圆环谐振器；实际加工不同尺寸的第三微带圆环谐振器；第一微带圆环谐振器和第二微带圆环谐振器构建不同的微带圆环谐振器进行全波仿真，获得不同的微带圆环谐振器的全波仿真结果；基于所述全波仿真结果进行修正、插值补齐，建立复介电常数数据库。本发明解决了焊盘寄生参数无法进行校准的问题。
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公开(公告)号：CN117669288A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311370204.X
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种暗室静区电平快速仿真方法，包括以下步骤：构建吸波材料计算模型，包含边界形状和材料参数；对所述吸波材料进行预计算，获得不同入射角度下反射和吸收特性；建立暗室静区计算模型，其中包含平板材料，用预计算结果设置所述平板材料的反射和吸收特性；用物理光学法和/或几何光学法计算暗室静区内电平。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请解决暗室内运用离散化电磁场计算方法计算效率低、耗费计算资源大的问题。
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公开(公告)号：CN119827949A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411968221.8
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开一种天线端口传导发射中脉冲发射机基波的测试方法，将待测脉冲发射机、衰减器、和扫描式接收机顺次通过电缆连接，获得测试设备组；使待测脉冲发射机进入稳定工作状态，发出预设的工作频率的工作信号；调整扫描式接收机的扫描参数，获得工作频率下的基波功率电平最大指示值；延长第一扫描时间为第二扫描时间，重复预设第一扫描时间之后的过程，循环数次，直到信号谱线完整显示；确认谐波和乱真发射电平输出来自使待测脉冲发射机而非测试设备组；比对所述谐波值和乱真发射电平值是否满足预设的测试标准。基波电平的准确测量对CE106测试项目起到了决定性作用，本方法可以有效解决脉冲发射机的基波频谱显示不连续，电平测量不准确的问题。
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公开(公告)号：CN117630785A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311370211.X
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种集成电路静电放电模拟器校准组件，包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器。所述金属壳体设置有端口A、端口B、端口地。端口A和端口B之间连接所述电阻；所述端口B和端口地之间连接有导线。所述导线设置有所述电流探头，所述电流探头经所述衰减器连接到设置在金属壳体的测试端。本申请还包含使用所述组件进行测试的方法。本申请解决现有技术的测试过程中人工操作时存在不可靠性的问题。
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