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公开(公告)号：CN116087856A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211708038.5
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于芯片天线测量领域，具体涉及了一种芯片天线测量校准装置及方法，旨在解决现有的天线校准系统不适用芯片天线的计量的问题。本发明包括：射频信号子系统包括矢量网络分析仪、扩频模块、接收天线，用于电磁波信号的接收和发射；芯片天线馈电平台包括探针台、晶圆探针、显微镜，在显微镜的控制下，利用设置于探针台的晶圆探针精确接触天线馈电点进行馈电；三维扫描子系统包括三维扫描架、空间位置测量模块以及位置控制模块，用于按照设定的轨迹进行运动以实现待测天线的辐射方向图扫描测量。本发明实现了芯片天线方向图和增益的精确计量。
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公开(公告)号：CN119667309A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411941478.4
申请日：2024-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor： 范伯昊
Abstract: 本发明涉及天线测试校准领域，公开了一种天线球面分扇区扫描方法、系统及设备，旨在解决现有技术无法实现机械臂控制的芯片天线等特殊天线的方向图的测试校准的问题。本发明包括：将接收天线口面位置与发射天线口面同轴共面，测量之间的距离作为扫描半径，以发射天线作为中心构建扫描球；确定机械臂各关节不发生干涉的多个初始位置，将扫描球的扫描范围划分为多个扇区；遍历每一扇区，基于机械臂的初始位置控制机械臂在该扇区内运动以及进行球面扫描。本发明通过分扇区扫描方式避免机械臂自干涉，提高了球面扫描的稳定性和可靠性，解决机械臂在进行天线球面扫描测试时存在的自干涉风险高、扫描姿态优化困难、运动可靠性低等技术问题。
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公开(公告)号：CN119846322A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411941479.9
申请日：2024-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor： 范伯昊
Abstract: 本说明书公开了一种芯片天线单路探针馈电校准系统、方法，涉及芯片天线馈电校准技术领域，旨在解决GSG探针馈电时链路无法校准的技术问题。本发明系统包括：气浮隔帧平台、探针台、载物台、两个探针座、显微镜、两个扩频模块；气浮隔帧平台上设置探针台；探针台上设置载物台及两个探针座；载物台上放置直通校准片；探针座上放置探针、扩频模块，扩频模块与探针连接；显微镜设置于直通校准片的上方；探针座根据探针的位置，调节其位置，使探针与直通校准片的GSG馈电端口良好接触，进行馈电；矢量网络分析仪与两个扩频模块连接，用于获取两两探针直通的S21读数，计算各探针的插入损耗。本发明解决了GSG探针馈电时链路无法校准的问题。
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公开(公告)号：CN115343665A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202210819949.9
申请日：2022-07-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种同心锥型TEM室的内外导体设计方法及同心锥型TEM室，该设计方法包括S1、根据方程一计算得到不同高度处的外导体半径：Y_out＝0.176x+1.46方程一；其中，x为高度，Y_out为在x高度处的外导体半径；S2、根据方程二计算得到不同高度处的内导体半径：方程二；其中，x为高度，Y_in为在x高度处的内导体半径。通过设计同心锥形TEM室传输段的内外导体，有效地减少了高阶模的数量且提高了高阶模截止频率，提高同心锥形TEM室腔体标准场性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117630785A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311370211.X
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种集成电路静电放电模拟器校准组件，包括固定在非金属壳体内部的电阻、电流探头、衰减器。所述金属壳体设置有端口A、端口B、端口地。端口A和端口B之间连接所述电阻；所述端口B和端口地之间连接有导线。所述导线设置有所述电流探头，所述电流探头经所述衰减器连接到设置在金属壳体的测试端。本申请还包含使用所述组件进行测试的方法。本申请解决现有技术的测试过程中人工操作时存在不可靠性的问题。
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公开(公告)号：CN116559753A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310665915.3
申请日：2023-06-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法，所述系统包括：微波幅相单元、扫描设备单元和中心控制单元；微波幅相单元，用于接收信号并对所述信号进行幅度和相位测量；扫描设备单元，用于控制检测探头的接收位置和姿态；中心控制单元，用于对微波幅相单元和扫描设备单元远程控制，实时分析幅度和相位数据，自动化计算静区特性。根据扫描数据完成静区场幅度不平度、静区场相位不平度和静区场交叉极化三个指标量化，根据结果来评判紧缩场测试系统的性能，对于紧缩场初检和复检具有参考意，本发明还可帮助用户初检及后续复检紧缩场测试系统的性能。
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公开(公告)号：CN118569172A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202311827713.0
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F30/3323 , G06F30/3308 , H01Q1/22
Abstract: 本发明属于数据分析领域，具体涉及了一种针对芯片天线焊盘寄生参数分析方法、系统及设备，旨在解决现有的芯片天线性能受基板，布线方式，探针馈点耦合等多种方式影响的问题。本发明包括：基于等效电路获取GSG焊盘寄生参数；基于所述寄生参数通过仿真不同复介电常数的第一微带圆环谐振器、不同尺寸的第二微带圆环谐振器；实际加工不同尺寸的第三微带圆环谐振器；第一微带圆环谐振器和第二微带圆环谐振器构建不同的微带圆环谐振器进行全波仿真，获得不同的微带圆环谐振器的全波仿真结果；基于所述全波仿真结果进行修正、插值补齐，建立复介电常数数据库。本发明解决了焊盘寄生参数无法进行校准的问题。
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公开(公告)号：CN117669288A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311370204.X
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种暗室静区电平快速仿真方法，包括以下步骤：构建吸波材料计算模型，包含边界形状和材料参数；对所述吸波材料进行预计算，获得不同入射角度下反射和吸收特性；建立暗室静区计算模型，其中包含平板材料，用预计算结果设置所述平板材料的反射和吸收特性；用物理光学法和/或几何光学法计算暗室静区内电平。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请解决暗室内运用离散化电磁场计算方法计算效率低、耗费计算资源大的问题。
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公开(公告)号：CN117538810A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311416251.3
申请日：2023-10-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种电磁兼容低频功率放大器校准装置，包括：信号发生器，用于按校准频率输出电压；音频耦合变压器，设置在被测功率放大器的输出端，用于连接负载电阻；数字电压表，用于获得所述负载电阻两端的电压值。本申请实施例还提出一种电磁兼容低频功率放大器校准方法，使用所述校准装置。本申请解决大功率低阻抗环境下不容易实现低频功率放大器性能评估的问题，特别是涉及一种用于电磁兼容CS101试验专用低频功率放大器的校准。
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