公开(公告)号：CN1556917A

公开(公告)日：2004-12-22

申请号：CN03801076.3

申请日：2003-03-24

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 藤村慎二 ,  播磨达也 ,  田口都一

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/27 ,  G01N21/95

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/04 ,  G01J2003/326 ,  G01N21/253 ,  G01N21/474 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N2201/043

Abstract: 本发明提供了一种多点测量系统，它包括：光源(1、2)；多个照明光纤(5、6)，用于将光源发出的光传送给试样，以便照亮试样的多个点(A、B)；多个接收光纤(8、9)，用于在该多个点采集光束，该光束包括透射、反射和散射光束；光学通路选择部件(10)，它包括旋转盘(12)，该旋转盘有孔，用于通过接收光纤(11)传递由多个接收光纤(8、9)中的一个采集的光束；以及MCPD(4)。当旋转盘(12)旋转以便使孔移动至或停止在所希望的通道的光能够通过的位置处时，可以只对相应接收光纤(8、9、11)通过的光进行测量。在其它通道处的光可以通过使旋转盘旋转预定角度来测量。