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公开(公告)号：CN1556917A
公开(公告)日：2004-12-22
申请号：CN03801076.3
申请日：2003-03-24
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0232 , G01J3/04 , G01J2003/326 , G01N21/253 , G01N21/474 , G01N21/55 , G01N21/59 , G01N2201/043
Abstract: 本发明提供了一种多点测量系统，它包括：光源(1、2)；多个照明光纤(5、6)，用于将光源发出的光传送给试样，以便照亮试样的多个点(A、B)；多个接收光纤(8、9)，用于在该多个点采集光束，该光束包括透射、反射和散射光束；光学通路选择部件(10)，它包括旋转盘(12)，该旋转盘有孔，用于通过接收光纤(11)传递由多个接收光纤(8、9)中的一个采集的光束；以及MCPD(4)。当旋转盘(12)旋转以便使孔移动至或停止在所希望的通道的光能够通过的位置处时，可以只对相应接收光纤(8、9、11)通过的光进行测量。在其它通道处的光可以通过使旋转盘旋转预定角度来测量。
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公开(公告)号：CN1444727A
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN01813501.3
申请日：2001-07-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
Abstract: 按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板6移至光轴位置，光投射部分3a经过可动反射板6、不动反射板11、和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，另一方面，利用把可动反射板6移离光轴和把参照物8放在样品台10上，光投射部分3a经过参照物8投射的光，被光接收部分3b接收，据此确定两次接收的光强的比值。在样品测量时，则把可动反射板6移至光轴位置，光投射部分3a投射的光，经过可动反射板6、不动反射板11、和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，于是，用由此接收的光强和上述比值，估算用参照物测量的光强，用该估算的光强来校正经过样品接收的光强。
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公开(公告)号：CN1202414C
公开(公告)日：2005-05-18
申请号：CN01813501.3
申请日：2001-07-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01N21/276 , G01N21/4785 , G01N2021/4745 , G01N2201/128
Abstract: 按照本发明的自动光学测量方法，利用把可动的反射板6移至光轴位置，光投射部分3a经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，另一方面，利用把可动反射板6移离光轴和把参照物8放在样品台10上，光投射部分3a经过参照物8投射的光，被光接收部分3b接收，据此确定两次接收的光强的比值。在样品测量时，则把可动反射板6移至光轴位置，光投射部分3a投射的光，经过可动反射板6、不动反射板11和可动反射板6投射的光，被光接收部分3b接收，于是，用由此接收的光强和上述比值，估算用参照物测量的光强，用该估算的光强来校正经过样品接收的光强。
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公开(公告)号：CN1556919A
公开(公告)日：2004-12-22
申请号：CN03801077.1
申请日：2003-03-24
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6452 , G01N21/253 , G01N21/6458 , G01N2021/6417 , G01N2201/04 , G01N2201/0415
Abstract: 一种荧光测量装置布置成通过使用激发光源而基本同时测量在试样腔中的多个试样或者相同试样的多个点。该荧光测量装置有在激发光照射位置处的旋转试样台座(2)，多个通孔(2a)形成于旋转试样台座(2)的圆周上，且试样放置单元(3)可插入各个通孔(2a)中。通过使试样台座(2)相对于激发光照射位置运动，可以对多个试样进行荧光测量，同时不需要在试样腔(1)中更换试样。
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