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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107543519A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710485296.4
申请日：2017-06-23
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机包括CMM控制系统、通过输出探头工件测量测量工件表面的表面扫描探头、以及探头测量定时子系统。该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间，其是探头工件测量采样周期的当前持续时间的一小部分，以在测量同步触发信号的下一个可预测的时间之前的预触发提前时间开始探头测量采样周期的当前实例；操作CMM控制系统以锁存CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出与CMM位置坐标值的当前集合相关联的探头工件测量的当前实例。
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公开(公告)号：CN112902899A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110074497.1
申请日：2017-06-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/04
Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机CMM包括CMM控制系统、表面扫描探头、以及探头测量定时子系统，该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定所述可预测的时间，并确定探头工件测量采样周期的当前持续时间；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间；操作探头测量定时子系统以开始探头工件测量采样周期的当前实例和确定探头工件测量的相关联的当前实例；操作CMM控制系统以在下一个可预测的时间输出当前的测量同步触发信号，并锁存与当前的测量同步触发信号相关联的CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出探头工件测量的当前实例。
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公开(公告)号：CN107543484A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710492854.X
申请日：2017-06-26
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/012
CPC classification number: G01B5/008 , G01B21/045
Abstract: 公开了一种用于操作包括工件扫描测头的坐标测量机(CMM)的方法。该方法在扫描测头中提供两个不同的测量采样周期持续时间：第一较短的采样周期持续时间提供具有第一精度的较快测量，第二较长的采样周期持续时间提供具有第二(更好)精度的较慢测量。较短的采样持续时间可与较长的采样持续时间重复交错或交替，以便在CMM的正在进行的操作期间为运动控制目的提供足够的精度和响应时间。较长的采样持续时间可以提供高精度的测头测量，以与来自位于CMM的运动轴上的编码器(位于扫描测头外部)的位置坐标值相组合，以在期望的频率或按要求提供高精度的工件测量。测头测量定时子系统可以确定第一和第二采样持续时间的启动时间。
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公开(公告)号：CN112902899B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202110074497.1
申请日：2017-06-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/04
Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机CMM包括CMM控制系统、表面扫描探头、以及探头测量定时子系统，该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定所述可预测的时间，并确定探头工件测量采样周期的当前持续时间；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间；操作探头测量定时子系统以开始探头工件测量采样周期的当前实例和确定探头工件测量的相关联的当前实例；操作CMM控制系统以在下一个可预测的时间输出当前的测量同步触发信号，并锁存与当前的测量同步触发信号相关联的CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出探头工件测量的当前实例。
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公开(公告)号：CN107543484B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201710492854.X
申请日：2017-06-26
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/012
Abstract: 公开了一种用于操作包括工件扫描测头的坐标测量机(CMM)的方法。该方法在扫描测头中提供两个不同的测量采样周期持续时间：第一较短的采样周期持续时间提供具有第一精度的较快测量，第二较长的采样周期持续时间提供具有第二(更好)精度的较慢测量。较短的采样持续时间可与较长的采样持续时间重复交错或交替，以便在CMM的正在进行的操作期间为运动控制目的提供足够的精度和响应时间。较长的采样持续时间可以提供高精度的测头测量，以与来自位于CMM的运动轴上的编码器(位于扫描测头外部)的位置坐标值相组合，以在期望的频率或按要求提供高精度的工件测量。测头测量定时子系统可以确定第一和第二采样持续时间的启动时间。
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