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公开(公告)号：CN112902899A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110074497.1
申请日：2017-06-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/04
Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机CMM包括CMM控制系统、表面扫描探头、以及探头测量定时子系统，该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定所述可预测的时间，并确定探头工件测量采样周期的当前持续时间；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间；操作探头测量定时子系统以开始探头工件测量采样周期的当前实例和确定探头工件测量的相关联的当前实例；操作CMM控制系统以在下一个可预测的时间输出当前的测量同步触发信号，并锁存与当前的测量同步触发信号相关联的CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出探头工件测量的当前实例。
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公开(公告)号：CN109211155A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810695030.7
申请日：2018-06-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： S.E.亨明斯
IPC: G01B21/00
Abstract: 公开了一组相应的自配置探针接口电路板(SC-MPIC)，用于与包括主电子器件和相应可互换的测量探针的测量系统一起使用。每个构件SC-MPIC包括：用于探针识别、信号处理和板间信号控制的本地电路(LS)；以及分别“指向”和远离测量探针的上方和下方连接器。构件SC-MPIC通过在其上方连接器上产生较低板存在信号、在其下方连接器上产生较高板存在信号并且基于从相邻SC-MPIC接收那些信号来确定它们是否是最高和/或最低SC-MPIC来建立处理层级。它们可以使用来自兼容和不兼容探针的探针识别数据独立地执行探针识别匹配操作，且最高SC-MPIC首先完成。根据层级、各种接收到的信号以及内部处理，构件SC-MPIC有利地传递或隔离来自组中其他构件的信号。
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公开(公告)号：CN111325785A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201911272226.6
申请日：2019-12-12
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了一种用于操作可调谐声学梯度(TAG)透镜成像系统的方法。该方法包括：(a)提供智能光照脉冲控制例程/电路(SLPCRC)，SLPCRC提供与TAG透镜成像系统的离焦点(PFF)模式相对应的第一曝光控制模式和与TAG透镜成像系统的扩展景深(EDOF)模式相对应的第二曝光控制模式；(b)将工件放置在TAG透镜成像系统的视场中；以及(c)周期性地调制TAG透镜成像系统的聚焦位置，而不宏观地调节TAG透镜成像系统中元件之间的间距，其中以至少30kHz的调制频率在包括工件的表面高度的聚焦范围内沿着聚焦轴方向在多个聚焦位置上周期性地调制聚焦位置。
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公开(公告)号：CN111325785B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201911272226.6
申请日：2019-12-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G02B21/36 , G01N21/88 , G02B3/14 , G02B21/24 , G02B21/06 , H04N23/74 , H04N23/73 , G01B11/06 , G02B21/02 , G01B11/00 , G01B11/24 , G03B13/36 , H04N23/67
Abstract: 提供了一种用于操作可调谐声学梯度(TAG)透镜成像系统的方法。该方法包括：(a)提供智能光照脉冲控制例程/电路(SLPCRC)，SLPCRC提供与TAG透镜成像系统的离焦点(PFF)模式相对应的第一曝光控制模式和与TAG透镜成像系统的扩展景深(EDOF)模式相对应的第二曝光控制模式；(b)将工件放置在TAG透镜成像系统的视场中；以及(c)周期性地调制TAG透镜成像系统的聚焦位置，而不宏观地调节TAG透镜成像系统中元件之间的间距，其中以至少30kHz的调制频率在包括工件的表面高度的聚焦范围内沿着聚焦轴方向在多个聚焦位置上周期性地调制聚焦位置。
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公开(公告)号：CN107543484A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710492854.X
申请日：2017-06-26
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B7/012
CPC classification number: G01B5/008 , G01B21/045
Abstract: 公开了一种用于操作包括工件扫描测头的坐标测量机(CMM)的方法。该方法在扫描测头中提供两个不同的测量采样周期持续时间：第一较短的采样周期持续时间提供具有第一精度的较快测量，第二较长的采样周期持续时间提供具有第二(更好)精度的较慢测量。较短的采样持续时间可与较长的采样持续时间重复交错或交替，以便在CMM的正在进行的操作期间为运动控制目的提供足够的精度和响应时间。较长的采样持续时间可以提供高精度的测头测量，以与来自位于CMM的运动轴上的编码器(位于扫描测头外部)的位置坐标值相组合，以在期望的频率或按要求提供高精度的工件测量。测头测量定时子系统可以确定第一和第二采样持续时间的启动时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114688954B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202111559678.X
申请日：2021-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了坐标测量机探头的感应式位置传感器信号增益控制。一种用于具有感应式位置传感器信号增益控制的坐标测量机的扫描探头包含具有场生成线圈和感测线圈的触针位置检测部分，并且对于所述触针位置检测部分，对应的输出信号指示触针的探头尖端的位置。信号处理和控制电路系统被配置成实施不同的操作区域，如对应于中心探头尖端位置范围的中心高增益操作区域以及其它较低增益操作区域，对于所述不同的操作区域，可以执行转变操作以调整增益。在各个实施方案中，用于调整增益的转变操作可以包含以下操作，如：调整场生成线圈配置的功率；调整前端放大器的增益；改变感测线圈的特性；调整模数转换器的输入范围等。
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公开(公告)号：CN114688954A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202111559678.X
申请日：2021-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了坐标测量机探头的感应式位置传感器信号增益控制。一种用于具有感应式位置传感器信号增益控制的坐标测量机的扫描探头包含具有场生成线圈和感测线圈的触针位置检测部分，并且对于所述触针位置检测部分，对应的输出信号指示触针的探头尖端的位置。信号处理和控制电路系统被配置成实施不同的操作区域，如对应于中心探头尖端位置范围的中心高增益操作区域以及其它较低增益操作区域，对于所述不同的操作区域，可以执行转变操作以调整增益。在各个实施方案中，用于调整增益的转变操作可以包含以下操作，如：调整场生成线圈配置的功率；调整前端放大器的增益；改变感测线圈的特性；调整模数转换器的输入范围等。
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公开(公告)号：CN107543519A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710485296.4
申请日：2017-06-23
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机包括CMM控制系统、通过输出探头工件测量测量工件表面的表面扫描探头、以及探头测量定时子系统。该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间，其是探头工件测量采样周期的当前持续时间的一小部分，以在测量同步触发信号的下一个可预测的时间之前的预触发提前时间开始探头测量采样周期的当前实例；操作CMM控制系统以锁存CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出与CMM位置坐标值的当前集合相关联的探头工件测量的当前实例。
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公开(公告)号：CN116379897A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211643595.3
申请日：2022-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种用于坐标测量机的扫描探头包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；干扰器配置；以及信号处理和控制电路模块。该触针位置检测模块包括：传感器配置，该传感器配置包括各种线圈；以及屏蔽配置，该屏蔽配置围绕该传感器配置定位并且包括用于屏蔽该传感器配置的导电材料。该触针位置检测模块使用模块安装配置安装到该触针悬挂模块，该模块安装配置使得能够在该扫描探头的组装期间调整该传感器配置的相对位置以用于对准。
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公开(公告)号：CN116379896A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211641541.3
申请日：2022-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种用于坐标测量机的扫描探头的模块化配置包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；以及信号处理和控制电路模块。触针位置检测模块被配置成与触针悬挂模块分开组装，之后才安装到触针悬挂模块。信号处理和控制电路模块被配置成与触针位置检测模块和触针悬挂模块分开组装，之后才作为组装扫描探头的一部分刚性地耦接到触针位置检测模块。
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