接触型探测器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106017297A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610158104.4

    申请日:2016-03-18

    CPC classification number: G01B21/04 G01B7/001 G01B7/012 G01B7/18 G01B7/016

    Abstract: 一种接触型探测器,其包括触针、传感器和两个平行的大致平板。触针具有触头。传感器具有大致为平坦的形状,并且包括固定部、可动部和各自由平板构成的至少三个薄壁部,其中在该薄壁部上气相沉积有应变传感器,以及触针安装于该可动部,并且该可动部经由薄壁部在至少三个位置处连结至固定部。两个平行的大致平板在相对的两侧连接至固定部,并且以维持可动部和两个平行的大致平板之间的预定距离的方式夹持可动部,并将可动部的移动限制于第一可动范围。传感器由于应变传感器响应于来自触针的测量力发生变形而输出接触信号。

    使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备

    公开(公告)号:CN105091832B

    公开(公告)日:2018-01-12

    申请号:CN201510232918.3

    申请日:2015-05-08

    CPC classification number: G01B7/012 G01B5/012 G01B21/047

    Abstract: 本发明涉及一种使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备。利用接触检测器来测量工件。使接触检测器向着工件相对移动。多次测量随着接触检测器与工件的接触而发生改变的接触检测器的特性。根据多次测量到的特性并且使用计算机的处理器来外推接触检测器的特性将满足预定阈值时的规划时间。设置触发以在规划时间测量工件的坐标。基于所设置的触发来在规划时间测量工件的坐标。

    接触型探测器
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106017297B

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201610158104.4

    申请日:2016-03-18

    Abstract: 一种接触型探测器,其包括触针、传感器和两个平行的大致平板。触针具有触头。传感器具有大致为平坦的形状,并且包括固定部、可动部和各自由平板构成的至少三个薄壁部,其中在该薄壁部上气相沉积有应变传感器,以及触针安装于该可动部,并且该可动部经由薄壁部在至少三个位置处连结至固定部。两个平行的大致平板在相对的两侧连接至固定部,并且以维持可动部和两个平行的大致平板之间的预定距离的方式夹持可动部,并将可动部的移动限制于第一可动范围。传感器由于应变传感器响应于来自触针的测量力发生变形而输出接触信号。

    使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备

    公开(公告)号:CN105091832A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510232918.3

    申请日:2015-05-08

    CPC classification number: G01B7/012 G01B5/012 G01B21/047

    Abstract: 本发明涉及一种使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备。利用接触检测器来测量工件。使接触检测器向着工件相对移动。多次测量随着接触检测器与工件的接触而发生改变的接触检测器的特性。根据多次测量到的特性并且使用计算机的处理器来外推接触检测器的特性将满足预定阈值时的规划时间。设置触发以在规划时间测量工件的坐标。基于所设置的触发来在规划时间测量工件的坐标。

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