公开(公告)号：CN105091832A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201510232918.3

申请日：2015-05-08

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： M·布里格尔 ,  E·波士 ,  F·柯南

IPC: G01B21/20

CPC classification number: G01B7/012 ,  G01B5/012 ,  G01B21/047

Abstract: 本发明涉及一种使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备。利用接触检测器来测量工件。使接触检测器向着工件相对移动。多次测量随着接触检测器与工件的接触而发生改变的接触检测器的特性。根据多次测量到的特性并且使用计算机的处理器来外推接触检测器的特性将满足预定阈值时的规划时间。设置触发以在规划时间测量工件的坐标。基于所设置的触发来在规划时间测量工件的坐标。

公开(公告)号：CN105091832B

公开(公告)日：2018-01-12

申请号：CN201510232918.3

申请日：2015-05-08

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： M·布里格尔 ,  E·波士 ,  F·柯南

IPC: G01B21/20

CPC classification number: G01B7/012 ,  G01B5/012 ,  G01B21/047

Abstract: 本发明涉及一种使用接触检测器来测量工件的方法和计算机设备。利用接触检测器来测量工件。使接触检测器向着工件相对移动。多次测量随着接触检测器与工件的接触而发生改变的接触检测器的特性。根据多次测量到的特性并且使用计算机的处理器来外推接触检测器的特性将满足预定阈值时的规划时间。设置触发以在规划时间测量工件的坐标。基于所设置的触发来在规划时间测量工件的坐标。