公开(公告)号：CN102197314A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200980142810.8

申请日：2009-10-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安高刚 ,  小野淳

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2877

Abstract: 一种测试装置，具有设置在测试基板上，测试被测试器件的测试电路；以覆盖形成测试电路的测试基板的区域的状态设置的、用于密闭测试电路，而且，在密闭空间填充有冷却材料的密闭部；以及贯通密闭部而设置，且不通过所述测试基板将所述测试电路及所述密闭部外侧设置的元件进行电连接的贯通连接器。

公开(公告)号：CN104898037A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201510056916.3

申请日：2015-02-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 増田伸 ,  原英生 ,  安高刚

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31917 ,  G01R31/3163 ,  G01R31/31713 ,  G01R31/31901 ,  G01R31/3191

Abstract: 本发明的测试装置对具备光接口的多个被测器件简便地进行测试。本发明提供一种测试装置及测试方法，该测试装置包括：光测试信号产生部，产生光测试信号；光信号供给部，将光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件；第一光开关部，在多个被测器件所输出的光信号中选择由测试对象的被测器件输出的光信号；及光信号接收部，接收所选择的光信号。

公开(公告)号：CN102197313B

公开(公告)日：2016-05-18

申请号：CN200980142610.2

申请日：2009-10-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安高刚 ,  小岛昭二

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2874

Abstract: 设置有彼此相对配置的第1测试基板及第2测试基板；设置在所述第1测试基板中的与所述第2测试基板对着的面上，测试被测试器件的第1测试电路；设置在第2测试基板中的与第1测试基板对着的面上，测试被测试器件的第2测试电路；通过密闭第1测试基板及第2测试基板之间的空间，将第1测试电路及第2测试电路密闭在共同的空间内，且在共同的空间填充冷却材料的密闭部。

公开(公告)号：CN102197313A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200980142610.2

申请日：2009-10-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安高刚 ,  小岛昭二

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2874

Abstract: 设置有彼此相对配置的第1测试基板及第2测试基板；设置在所述第1测试基板中的与所述第2测试基板对着的面上，测试被测试器件的第1测试电路；设置在第2测试基板中的与第1测试基板对着的面上，测试被测试器件的第2测试电路；通过密闭第1测试基板及第2测试基板之间的空间，将第1测试电路及第2测试电路密闭在共同的空间内，且在共同的空间填充冷却材料的密闭部。