公开(公告)号：CN101088018A

公开(公告)日：2007-12-12

申请号：CN200580044457.1

申请日：2005-11-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 小野淳 ,  冈安俊幸 ,  藤本明博 ,  柴田正志

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 本发明提供一种测试装置，具有：向电子设备施加测试图案的测试头；设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架；将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元；其中电缆单元具有：用于传输控制信号的多个光纤电缆；设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器；对主机机架固定电缆单元的单元固定部；能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。

公开(公告)号：CN102197314A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200980142810.8

申请日：2009-10-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安高刚 ,  小野淳

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2877

Abstract: 一种测试装置，具有设置在测试基板上，测试被测试器件的测试电路；以覆盖形成测试电路的测试基板的区域的状态设置的、用于密闭测试电路，而且，在密闭空间填充有冷却材料的密闭部；以及贯通密闭部而设置，且不通过所述测试基板将所述测试电路及所述密闭部外侧设置的元件进行电连接的贯通连接器。

公开(公告)号：CN101088018B

公开(公告)日：2010-05-12

申请号：CN200580044457.1

申请日：2005-11-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 小野淳 ,  冈安俊幸 ,  藤本明博 ,  柴田正志

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 本发明提供一种测试装置，具有：向电子设备施加测试图案的测试头；设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架；将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元；其中电缆单元具有：用于传输控制信号的多个光纤电缆；设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器；对主机机架固定电缆单元的单元固定部；能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。