测试装置及电子器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101646954A

    公开(公告)日:2010-02-10

    申请号:CN200880010198.4

    申请日:2008-03-21

    CPC classification number: G01R31/31813 G01R31/318385 G01R31/318544

    Abstract: 本发明提供一种测试装置,是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置,所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输,所述测试装置包括:接口控制部,使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形;接口判断部,根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形,判定所述外部接口电路的好坏。

    测试装置及测试方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101657731B

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN200880012375.2

    申请日:2008-04-21

    Abstract: 本发明提供一种测试装置,是对被测试器件进行测试的测试装置,包括:产生用于规定应供给至被测试器件的测试信号的测试图案的图案生成部;产生表示将测试信号供给至被测试器件时序的时序信号的时序信号产生部;对测试图案进行滤波,输出表示与测试图案相对应的抖动的抖动控制信号的数字滤波器;根据抖动控制信号而使时序信号延迟,借此将抖动施加至时序信号的抖动施加部;以及波形成形部,以施加了抖动的时序信号为基准,生成已形成测试图案的测试信号。

    测试装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101088018B

    公开(公告)日:2010-05-12

    申请号:CN200580044457.1

    申请日:2005-11-25

    CPC classification number: G01R31/2889

    Abstract: 本发明提供一种测试装置,具有:向电子设备施加测试图案的测试头;设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架;将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元;其中电缆单元具有:用于传输控制信号的多个光纤电缆;设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器;对主机机架固定电缆单元的单元固定部;能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。

    信号发送/接收装置、测试装置、测试模块及半导体芯片

    公开(公告)号:CN101228718A

    公开(公告)日:2008-07-23

    申请号:CN200680027160.9

    申请日:2006-07-20

    CPC classification number: H04B10/504 H04B10/541

    Abstract: 本发明公开了一种信号发送装置,包括:输出与所给与的电源电流对应的强度的激光的发光单元、能够将对应多值数据跃迁的多个值的多个电流值的电源电流提供给发光元件的电流源、对应多值数据的跃迁,调制电流电源供给的电源电流的电流值的调制部;多值数据光信号由多位数码数值的输入而生成,电流源具有对应了数码数值位的个数的位电流源,每个位电流源生成与数码值的对应位的位单元对应的电流。调制部与位电流对应具有相应于数码值的位数的个数的电流控制开关,每个电流控制开关,根据数码值对应的位逻辑值,对是否将对应的电流源生成的电流提供给发光元件进行转换。

    可变延迟电路
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1883116A

    公开(公告)日:2006-12-20

    申请号:CN200480034305.9

    申请日:2004-04-28

    Abstract: 本发明的可变延迟电路包括:多段第1可变延迟元件,串联连接,使参考时钟信号或数据信号依次延迟;第2可变延迟元件,并联连接于多段第1可变延迟元件,使参考时钟信号延迟;相位比较器,将通过多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位,与通过第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位进行比较;以及延迟量控制部,根据相位比较器的比较结果,为了使多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位,与第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号在特定周期后的相位大致相等,对多段第1可变延迟元件的各延迟量进行控制。

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