公开(公告)号：CN107155247B

公开(公告)日：2021-04-20

申请号：CN201710072303.8

申请日：2017-02-10

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 金子智 ,  家永隆 ,  石井和美 ,  藤井谦雄 ,  郡司高久

IPC: H05B47/10 ,  H05B47/20

Abstract: 本发明涉及半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统。本发明提供能够诊断通信网络质量的半导体装置。所公开的是耦接到光源的半导体装置，该半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器，其中信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度，劣化检测器基于表示接口模块所接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。

公开(公告)号：CN107155247A

公开(公告)日：2017-09-12

申请号：CN201710072303.8

申请日：2017-02-10

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 金子智 ,  家永隆 ,  石井和美 ,  藤井谦雄 ,  郡司高久

IPC: H05B37/02 ,  H05B37/03

CPC classification number: H05B37/0254 ,  G01R29/027 ,  H04L1/205 ,  H05B37/0227 ,  H05B37/02 ,  H05B37/03

Abstract: 本发明涉及半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统。本发明提供能够诊断通信网络质量的半导体装置。所公开的是耦接到光源的半导体装置，该半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器，其中信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度，劣化检测器基于表示接口模块所接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。