公开(公告)号：CN101072996A

公开(公告)日：2007-11-14

申请号：CN200580041982.8

申请日：2005-12-07

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： D·J·W·克隆德 ,  M·范赫佩恩 ,  M·巴利斯特雷里 ,  C·利登巴姆 ,  M·普林斯 ,  R·温贝格尔-弗里德尔 ,  R·库尔特

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/648 ,  G01N2021/1772 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2021/6478 ,  G01N2201/0461

Abstract: 本发明涉及通过由隐失波生成的多个样本光点(501)检验样本材料的方法和设备。通过多点发生器，例如，多模干涉仪(106)生成源光点(510)阵列，并通过(微)透镜(202，203)或通过Talbot效应将其映射到样本层(302)内的样本光点(501)上。对由所述源光点(510)构成的输入光(504)整形，从而使所有输入光都在透明载体板(301)和样本层(302)之间的界面处受到全内反射。因而，所述样本光点(501)仅由隐失波构成，并被限制在有限体积。在优选应用中，采用CCD阵列(401)通过空间分解探测在样本光点(501)中激励的荧光。

公开(公告)号：CN101080627A

公开(公告)日：2007-11-28

申请号：CN200580043317.2

申请日：2005-12-13

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： D·J·W·克隆德 ,  M·范赫佩恩 ,  M·巴利斯特雷里 ,  M·普林斯

IPC: G01N21/64 ,  B01J19/00 ,  C12Q1/68 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/645 ,  B01L3/5085 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/0635

Abstract: 本发明涉及一种用于对存储在存储单元(300)的样本舱(303)中的样本材料进行检查的方法和装置。多点生成器MSG(100)和传输部分(200)在样本舱内产生样本光点(501)阵列。将在前向方向上离开存储单元(300)的输入光(504)映射到CCD阵列(401)上，并且对其进行测量以作为参考。此外，通过垂直于输入光(504)光路安置的第二个CCD阵列对样本舱(303)中激发的荧光(500)进行测量。

公开(公告)号：CN101080627B

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200580043317.2

申请日：2005-12-13

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： D·J·W·克隆德 ,  M·范赫佩恩 ,  M·巴利斯特雷里 ,  M·普林斯

IPC: G01N21/64 ,  B01J19/00 ,  C12Q1/68 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/645 ,  B01L3/5085 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/0635

Abstract: 本发明涉及一种用于对存储在存储单元(300)的样本舱(303)中的样本材料进行检查的方法和装置。多点生成器MSG(100)和传输部分(200)在样本舱内产生样本光点(501)阵列。将在前向方向上离开存储单元(300)的输入光(504)映射到CCD阵列(401)上，并且对其进行测量以作为参考。此外，通过垂直于输入光(504)光路安置的第二个CCD阵列对样本舱(303)中激发的荧光(500)进行测量。