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公开(公告)号：KR100740885B1
公开(公告)日：2007-07-19
申请号：KR1020060072401
申请日：2006-07-31
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/2858
Abstract: 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 표면탄성파(SAW) 필터의 내전력 시험 시스템 및 그 방법에 관한 것임.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
본 발명은 SAW 디비이스(Device) 및 필터의 신뢰성 있는 내전력시험을 통해 수명을 예측하고, 가속수명시험의 가속조건이 성립하도록 정확한 온도를 유지하며 고장조건에 성립하는 시점에서 정확한 시간, 온도 그리고 전기적인 특성변화를 파악하고 가속수명모델을 적용하여 최적의 조건으로 수명을 예측하고, 차후 고장분석을 하기 위한 표면탄성파(SAW) 필터의 내전력 시험방법을 제공하는데 그 목적이 있음.
3. 발명의 해결방법의 요지
본 발명은 SAW 필터의 내전력 시험 시스템에 있어서, 오실레이터(Oscillator)의 지속파(Continous Wave)를 발생시키기 위한 신호발생 수단; 상기 신호발생 수단에서 인가된 신호를 측정하고자하는 전력레벨로 증폭하기 위한 고전력 증폭 수단; 상기 고전력 증폭 수단에서 증폭된 신호를 인가받아 SAW 필터에 인가되는 전력을 모니터링하고, 네트워크 분석기를 통한 전기적인 특성을 모니터링하기 위해 경로를 설정하기 위한 PDT(Power Durability Testing) 수단; 상기 PDT 수단에서 출력된 신호를 측정하기 위한 전력 측정 수단; 상기 PDT 수단의 전기적인 특성을 모니터링할 수 있도록 경로를 바꾸어 주기 위한 제어 수단; 상기 SAW 필터의 전기적인 특성을 분석하기 위한 상기 네트워크 분석 수단; 상기 SAW 필터에 시험온도를 가하고, 유지하기 위한 신뢰성 시험 수단; 상기 SAW 필터의 온도를 측정하기 위한 온도 측정 수단; 상기 신뢰성 시험 수단에 가해지는 시험온도를 제어하기 위한 온도 제어 수단; 및 상기 신호발생 수단, 전력 측정 수단, 네트워크 분석 수단, 제어 수단, 온도제어 수단, 온도 측정 수단을 제어하기 위한 컴퓨팅 수단을 포함함.
4. 발명의 중요한 용도
본 발명은 통신 시스템 등에 이용됨.
내전력, SAW Filter, 신뢰성 시험장치, 가속수명시험-
公开(公告)号：KR100827368B1
公开(公告)日：2008-05-06
申请号：KR1020060124587
申请日：2006-12-08
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: G01R31/30 , G01R1/045 , G01R21/002
Abstract: A method and a system for testing a withstand voltage are provided to decrease a test time by applying a step-stress scheme on a semiconductor RF(Radio Frequency) passive element. A high power amplifier(120) amplifies a continuous signal which is generated from an input test frequency, to a desired power level. A power meter(140) monitors the power level inputted to a semiconductor RF passive element, and the power level outputted from the semiconductor RF passive element. A network analyzer(160) measures electrical characteristics of the semiconductor RF passive element from the input power level. A control analysis computer(190) raises the test power from a start power level at predetermined steps during a predetermined time interval, monitors electrical characteristics of the semiconductor RF passive element, and sets the test frequency and a maximum test power level. The control analysis computer maintains the test power for a predetermined period and monitors the electrical characteristics of the passive element by using the test frequency.
Abstract translation: 提供了一种用于测试耐压的方法和系统，以通过在半导体RF（射频）无源元件上应用步进应力方案来减少测试时间。 大功率放大器（120）将从输入测试频率产生的连续信号放大到期望的功率电平。 功率计（140）监视输入到半导体RF无源元件的功率电平和从半导体RF无源元件输出的功率电平。 网络分析器（160）根据输入功率电平测量半导体RF无源元件的电特性。 控制分析计算机（190）在预定时间间隔内以预定步骤从起始功率电平提高测试功率，监视半导体RF无源元件的电特性，并设置测试频率和最大测试功率电平。 控制分析计算机将测试功率维持在预定时间段，并通过使用测试频率监视无源元件的电特性。
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公开(公告)号：KR1019940017895A
公开(公告)日：1994-07-27
申请号：KR1019920026144
申请日：1992-12-29
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04N7/18
Abstract: 본 발명은 시각검사공정의 자동화를 위하여 화상처리기술을 응용한 것으로, 검사라인에서 빠른 속도로 움직이고 있는 검사대상물을 실시간으로 화상계측을 할 수 있도록 시스템을 구성하고, 단순한 논리회로와 마이크로프로세서에 의한 간단한 제어프로그램으로 적은 비용과 소규모장치로 화상을 처리할 수 있도록 하기 위해 화상처리기법중 중요한 하나인 화소계측에 있어서, 불필요한 영역의 계측과 영상잡음으로 인한 고립점을 제거할 수 있도록 계측윈도우를 발생하는 방법을 제공한다.
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公开(公告)号：KR101094796B1
公开(公告)日：2011-12-16
申请号：KR1020090080592
申请日：2009-08-28
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 본 발명은 단일급전 빔 조향 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기생소자를 이용한 단일급전 빔 조향 장치에 관한 것이다.
본 발명에서는 안테나의 복잡도를 줄일 수 있으며, 가격을 저렴하게 할 수 있고, 소형화가 가능한 빔 조향 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 빔 조향 장치는, 단일 급전 빔 조향 장치에 있어서, 접지 평면상에 유전체가 평판형으로 구성되고, 상기 유전체의 상측면에 상기 단일 급전에 의하여 직접 RF 신호가 여기되는 하나의 능동소자와 상기 능동소자와 일정한 거리를 가지며 대칭적으로 구성된 적어도 2개 이상의 기생소자를 포함하는 유전체기판과, 상기 각 기생소자에 부하되는 리액턴스 값을 각각 제어하기 위한 리액턴스 회로와, 상기 리액턴스 회로의 전압을 제어하기 위한 제어회로와, 상기 능동소자에 상기 단일 급전을 공급하기 위한 급전부를 포함한다.
단일 급전, 빔 조향, 기생소자, 능동소자-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020070057644A
公开(公告)日：2007-06-07
申请号：KR1020060072401
申请日：2006-07-31
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/2858
Abstract: A PDT(Power Durability Testing) system and a method of a SAW(Surface Acoustic Wave) filter are provided to reliably estimate the life time of RF(Radio Frequency) passive parts like the SAW filter and a duplexer by using a reliability testing system capable of controlling test temperature with an RTD(Resistance Temperature Detector) sensor. A PDT system of a SAW filter(161) is composed of a signal generating unit(111) generating a continuous wave of an oscillator; a high-power amplifying unit(112) amplifying a signal applied from the signal generating unit, at the power level to be measured; a PDT unit(120) monitoring power applied to the SAW filter by receiving the signal amplified in the high-power amplifying unit and setting a path to monitor the electrical characteristic with a network analyzer(140); a power measuring unit measuring a signal output from the PDT unit; a control unit changing the path to monitor the electrical characteristic of the PDT unit; a network analysis unit analyzing the electrical characteristic of the SAW filter; a reliability testing unit(160) applying predetermined test temperature to the SAW filter and maintaining the applied temperature; a temperature measuring unit(180) measuring the temperature of the SAW filter; a temperature control unit(190) controlling the test temperature applied to the reliability testing unit; and a computing unit(170) controlling the signal generating unit, the power measuring unit, the network analysis unit, the control unit, the temperature control unit, and the temperature measuring unit.
Abstract translation: 提供PDT（电力耐久性测试）系统和SAW（表面声波）滤波器的方法，以通过使用可靠性测试系统来可靠地估计RF（射频）无源部件如SAW滤波器和双工器的寿命 用RTD（电阻温度检测器）传感器控制测试温度。 SAW滤波器（161）的PDT系统由产生振荡器的连续波的信号生成单元（111）构成; 高功率放大单元，以待测量的功率电平放大从信号产生单元施加的信号; PDT单元（120），其通过接收在所述高功率放大单元中放大的信号来监测施加到所述SAW滤波器的功率，并且利用网络分析器（140）设定用于监视所述电特性的路径; 功率测量单元，测量从PDT单元输出的信号; 控制单元改变路径以监视PDT单元的电气特性; 分析SAW滤波器的电特性的网络分析单元; 可靠性测试单元（160）将预定的测试温度施加到SAW滤波器并保持施加的温度; 测量SAW滤波器的温度的温度测量单元（180）; 温度控制单元，控制施加到可靠性测试单元的测试温度; 以及控制信号生成单元，功率测量单元，网络分析单元，控制单元，温度控制单元和温度测量单元的计算单元（170）。
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公开(公告)号：KR100679229B1
公开(公告)日：2007-02-05
申请号：KR1020040103699
申请日：2004-12-09
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: G02B6/125 , G02B6/12004 , G02B6/12007
Abstract: 본 발명은 광통신 분야에 사용되는 평면형 광부품 및 광모듈에 적용되는 평면형 광도파로 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 기판 상에 형성된 하부 클래드, 상기 하부 클래드 상에 형성된 코어, 상기 코어를 둘러싸는 절연층, 상기 절연층을 포함하는 상기 하부 클래드 상에 형성된 상부 클래드를 포함한다. 코어와 클래드 사이에 굴절률이 낮은 절연층을 형성함으로써 코어와 클래드 사이의 굴절률 차이가 증가되어 광이 코어로 더욱 밀도있게 집속되므로 강한 에너지를 갖는 단일모드가 형성되어 도파손실이 최소화된다.
평면형 광도파로, 절연층, 실리콘 산화물, 도파손실-
公开(公告)号：KR1020090056772A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：KR1020080021347
申请日：2008-03-07
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: A high power test system of a high frequency and a method thereof are provided to increase the reliability and accuracy of a test by testing the property of the device under high power RF environment. A signal input part(210) generates a high frequency signal sweeping the frequency, and a monitor unit(220) monitors high frequency signal and power of output signal of a device to be tested. A test controller(230) calculates power difference between high frequency signal and the output signal of the device to be tested and obtains the loss of the frequency.
Abstract translation: 提供了一种高频高功率测试系统及其方法，通过在高功率RF环境下测试器件的性能来提高测试的可靠性和准确性。 信号输入部（210）产生扫描频率的高频信号，监视部（220）监视被测设备的高频信号和输出信号的功率。 测试控制器（230）计算高频信号与要测试的设备的输出信号之间的功率差，并获得频率的损失。
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公开(公告)号：KR100825744B1
公开(公告)日：2008-04-29
申请号：KR1020060113479
申请日：2006-11-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R31/3173
CPC classification number: G01R31/2858 , G01R31/31907 , G01R31/31908
Abstract: A broadband power durability test system and a method for testing the same are provided to enhance power durability characteristics by detecting a weak point of a resonator electrode according to a weak frequency. A network analyzer(100) generates a continuous wave signal according to a frequency sweep in order to analyze electrical characteristics of a DUT(Device Under Test)(420). A BPDT(Broadband Power Durability Testing) module(300) receives the continuous wave signal, monitors power of input and output signals, and transfers the monitored power to the network analyzer. A high temperature tester(400) tests a high temperature stress acceleration lifetime of the DUT. A control analysis computer(800) controls each of components of a system and analyzes test data from the components.
Abstract translation: 提供宽带电力耐久性测试系统及其测试方法，以通过根据弱频率检测谐振器电极的弱点来增强功率耐久性特性。 网络分析器（100）根据频率扫描生成连续波信号，以便分析DUT（被测设备）的电特性（420）。 BPDT（宽带电源耐久性测试）模块（300）接收连续波信号，监视输入和输出信号的功率，并将监控的功率传输到网络分析仪。 高温测试仪（400）测试DUT的高温应力加速寿命。 控制分析计算机（800）控制系统的每个组件并分析来自组件的测试数据。
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公开(公告)号：KR100613105B1
公开(公告)日：2006-08-17
申请号：KR1020040107036
申请日：2004-12-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2865 , G01R31/2868 , G01R31/2877 , G01R31/2887
Abstract: 본 발명은 반도체 시료의 신뢰성 시험장치에 관한 것으로, 반도체 시료와 평가회로판을 포함하는 부품들이 탑재되는 시료 탑재부와, 반도체 시료의 하부에 장착되어 시험온도를 유지시키기 위한 가열블럭과, 가열블럭과 분리된 구조로 상기 가열블럭를 에워싸는 구조로 제작되어 주변 부품들의 온도를 냉각시키기 위한 냉각블럭과, 반도체 시료를 상, 하로 이동시키는 고정블럭을 포함하는 반도체 시료의 신뢰성 시험장치를 제공한다.
신뢰성, 반도체 시료, 신뢰성 시험장치
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