公开(公告)号：DE102011055294A1

公开(公告)日：2013-05-16

申请号：DE102011055294

申请日：2011-11-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FOELLING JONAS

IPC: G01N21/64 ,  G01B11/03 ,  G01B11/14 ,  G01B11/24 ,  G02B21/00

Abstract: Beschrieben ist eine mikroskopische Einrichtung (100) zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten, umfassend eine Detektionsoptik (36, 108), die in punktförmige Objekte (30, 114) jeweils in Form einer dreidimensionalen Fokuslichtverteilung in einen Bildraum abbildet, eine Farbtrennvorrichtung (126), die das Licht in mindestens zwei separate Lichtbündel teilt, deren Lichtwellenlängen in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen liegen, mindestens zwei in dem Bildraum angeordnete Detektoreinheiten (146, 148), von denen eine Detektoreinheit das eine der beiden Lichtbündel und die andere Detektoreinheit das andere der beiden Lichtbündel empfängt, wobei jede Detektoreinheit (146, 148) eine Detektionsfläche (38, 150, 152) zum Erfassen von Lichtflecken (42) aufweist, eine Auswerteeinheit (154), die durch Auswerten des jeweiligen auf der jeweiligen Detektionsfläche (38, 150, 152) erfassten Lichtflecks (42) eine laterale x-y-Position des zugehörigen punktförmigen Objektes (30, 114) und eine axiale z-Position des zugehörigen punktförmigen Objektes (30, 114) relativ zu der Schärfenebene (40) in Richtung einer senkrecht zu der Schärfenebene (40) liegenden optischen Achse (O) ermittelt, wobei in der Auswerteinheit (154) für mindestens einen der beiden Wellenlängenbereiche mindestens ein z-Positionskorrekturwert gespeichert ist, der einen Farblängsfehler der Detektionsoptik (36, 108) in diesem Wellenlängenbereich angibt, und die Auswerteeinheit (154) die in dem jeweiligen Wellenlängenbereich ermittelte z-Position mit dem zugehörigen z-Positionskorrekturwert korrigiert.

公开(公告)号：DE102011055294B4

公开(公告)日：2013-11-07

申请号：DE102011055294

申请日：2011-11-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FOELLING JONAS

IPC: G01N21/64 ,  G01B11/03 ,  G01B11/14 ,  G01B11/24 ,  G02B21/00

Abstract: Mikroskopische Einrichtung (100) zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten (30, 114) in einer Probe (112), umfassend: eine Detektionsoptik (36, 108), die in einem Objektraum angeordnete punktförmige Objekte (30, 114) jeweils in Form einer dreidimensionalen Fokuslichtverteilung in einen Bildraum abbildet, eine Farbtrennvorrichtung (126), die das von der Detektionsoptik (36, 108) zum Abbilden der punktförmigen Objekte (30, 114) erzeugte Licht in mindestens zwei separate Lichtbündel teilt, deren Lichtwellenlängen in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen liegen, mindestens zwei in dem Bildraum angeordnete Detektoreinheiten (146, 148), von denen eine Detektoreinheit das eine der beiden Lichtbündel und die andere Detektoreinheit das andere der beiden Lichtbündel empfängt, wobei jede Detektoreinheit (146, 148) eine zur Einfallsrichtung des jeweiligen Lichtbündels senkrecht angeordnete Detektionsfläche (38, 150, 152) zum Erfassen von Lichtflecken (42) aufweist, die jeweils einen ebenen Schnitt durch die zugehörige Fokuslichtverteilung darstellen, eine Auswerteeinheit (154), die durch Auswerten des jeweiligen auf der jeweiligen Detektionsfläche (38, 150, 152) erfassten Lichtflecks (42) eine laterale x-y-Position des zugehörigen punktförmigen Objektes (30, 114) innerhalb einer zu einer Schärfenebene (40) parallelen Objektebene und eine axiale z-Position des zugehörigen punktförmigen Objektes (30, 114) relativ zu der Schärfenebene (40) in Richtung einer senkrecht zu der Schärfenebene (40) liegenden optischen Achse (O) ermittelt, wobei die jeweilige Schärfenebene (40) eine in dem Objektraum liegende Ebene ist, die zu einer in dem Bildraum liegenden Detektionsebene, in der die jeweilige Detektionsfläche (38, 150, 152) angeordnet ist, optisch konjugiert ist, wobei in der Auswerteinheit (154) für mindestens einen der beiden Wellenlängenbereiche mindestens ein z-Positionskorrekturwert gespeichert ist, der einen Farblängsfehler der Detektionsoptik (36, 108) in diesem Wellenlängenbereich angibt, und die Auswerteeinheit (154) die in dem jeweiligen Wellenlängenbereich ermittelte z-Position des jeweiligen punktförmigen Objektes (30, 114) mit dem zugehörigen z-Positionskorrekturwert korrigiert.

公开(公告)号：DE102010009679A1

公开(公告)日：2012-03-08

申请号：DE102010009679

申请日：2010-03-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FOELLING JONAS ,  DYBA MARCUS DR

IPC: G02B21/26 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben ist eine Probenhalterung für ein Mikroskop, mit einem Probentisch (32), einem auf dem Probentisch (32) angeordneten Halter (34), einem an den Halter (34) koppelbaren Probenträger (36), an dem eine Probe anbringbar ist, und einer an dem Halter (34) angreifenden Stellvorrichtung (44), durch die der Probenträger (36) zusammen mit dem Halter (34), an den der Probenträger (36) gekoppelt ist, relativ zu einem Objektiv (46) auf dem Probentisch (32) in eine Zielposition verfahrbar ist. Es ist eine Entkopplungsvorrichtung vorgesehen, die den in der Zielposition angeordneten Probenträger (36) beim Abbilden der Probe durch das Objektiv (46) von dem Halter (34) entkoppelt.

公开(公告)号：DE102011086230A1

公开(公告)日：2013-05-16

申请号：DE102011086230

申请日：2011-11-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FOELLING JONAS

IPC: G02B21/06

Abstract: Ein Verfahren zur Beleuchtung und Detektion in der RESOLFT-Mikroskopie mit gepulster oder kontinuierlicher Lichtquelle für Anregungslicht und Schaltlicht, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Anregungslicht (4) gepulst eingestrahlt wird und dass der Puls des Anregungslichts (4) länger als 150 Pikosekunden, vorzugsweise bis zu einigen hundert Pikosekunden bis hin zu einigen Nanosekunden lang ist. Eine entsprechende Vorrichtung nutzt das erfindungsgemäße Verfahren.

公开(公告)号：DE102011051278A1

公开(公告)日：2012-12-27

申请号：DE102011051278

申请日：2011-06-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FOELLING JONAS

IPC: G02B21/00

Abstract: Beschrieben sind ein Verfahren und eine Einrichtung zur bildlichen Darstellung einer Probe (16). Es wird in einer Sequenz von Einzelbildern aufgenommen, indem die Probe (16) mittels einer Abbildungsoptik (40) auf einen Bildsensor (28) abgebildet wird. Für die Aufnahme jedes Einzelbildes wird die Probe (16) jeweils mit einer Markerstruktur versehen, in der einzelne Marker mittels der Abbildungsoptik (40) in Form von räumlich voneinander trennbaren Lichtverteilungen (82) auf den Bildsensor (28) abbildbar sind. Es werden die Schwerpunktpositionen (84, 86, 88) der Lichtverteilungen (8) ermittelt und zu einem Gesamtbild der Probe (16) überlagert. Erfindungsgemäß wird während der Aufnahme der Sequenz von Einzelbildern eine bilddriftinduzierende Temperaturgröße (&Dgr;T1, &Dgr;T2, ..., &Dgr;Tn) gemessen. Der bilddriftinduzierenden Temperaturgröße (&Dgr;T1, &Dgr;T2, ..., &Dgr;Tn) wird an Hand vorbestimmter Zuordnungsdaten (400) eine temperaturabhängige Driftgröße (&Dgr;X1, &Dgr;X2, ..., &Dgr;Xn; &Dgr;Y1, &Dgr;Y2, ..., &Dgr;Yn) zugeordnet. Die ermittelten Schwerpunktpositionen (84, 86, 88) werden anhand der Driftgröße (&Dgr;X1, &Dgr;X2, ..., &Dgr;Xn; &Dgr;Y1, &Dgr;Y2, ..., &Dgr;Yn) korrigiert.

公开(公告)号：DE102010061167B3

公开(公告)日：2012-05-31

申请号：DE102010061167

申请日：2010-12-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND DIPL ING ,  FOELLING JONAS

IPC: G02B21/26 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskoptisch (14) mit einer Tischplatte (16), einem auf der Tischplatte (16) aufliegenden Probenträger (18) und einer Positioniereinrichtung (20) zum Bewegen des Probenträgers (18) in einer zur Tischplatte (16) parallelen Verstellebene. Der Mikroskoptisch (14) weist eine Positioniereinrichtung (20) mit zwei mechanisch voneinander entkoppelten Verstellvorrichtungen (34, 36) auf, von denen eine erste Verstellvorrichtung (34) ausgebildet ist, den Probenträger (18) längs einer ersten Achse in der Verstellebene zu bewegen, und eine zweite Verstellvorrichtung (36) ausgebildet ist, den Probenträger (18) längs einer zweiten Achse quer zur ersten Achse in der Verstellebene zu bewegen.