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公开(公告)号：DE102006009832B4
公开(公告)日：2013-07-04
申请号：DE102006009832
申请日：2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： GUGEL HILMAR DR , DYBA MARCUS DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, umfassend die Schritte, dass die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) zunächst in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht wird und dass mittels eines optischen Signals (4) der zweite Zustand (Z2, B) induziert wird, wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden, und wobei das optische Signal (4) gleichzeitig in mehreren Brennpunkten gebündelt wird und die Brennpunkte in verschiedene Orte der Probe (1) fokussiert werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Pupillenfunktionen der einzelnen Brennpunkte moduliert werden, wobei die Modulation derart durchgeführt wird, dass in jedem Brennpunkt mindestens eine Intensitäts-Nullstelle (5) entsteht.
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公开(公告)号：DE102010017630B4
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：DE102010017630
申请日：2010-06-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DYBA MARCUS DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur (2, 34), mit folgenden Schritten: Präparieren der Probenstruktur (2, 34) mit Markern, die in einen lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführbar sind, Erzeugen einer Sequenz von Einzelbild-Datensätzen durch sequentielles Abbilden der Probenstruktur (2, 34) derart, dass für jede Abbildung jeweils nur eine Teilmenge der Gesamtheit der Marker in den lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführt wird, wobei die Marker der jeweiligen Teilmenge einen mittleren Abstand voneinander haben, der größer ist als die Auflösungsgrenze der lichtmikroskopischen Abbildung, welche die Ausdehnung einer den jeweils abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilung bestimmt, Erzeugen von mindestens zwei Datenblöcken, in denen jeweils mehrere aufeinander folgende Einzelbild-Datensätze zusammengefasst sind, Überlagern der in dem jeweiligen Datenblock enthaltenen Einzelbild-Datensätze zu einem Überlagerungsbild-Datensatz, Ermitteln eines Bildversatzes zwischen den Überlagerungsbild-Datensätzen, Korrigieren der Einzelbild-Datensätze, die in mindestens einem der Überlagerungsbild-Datensätze enthalten sind, an Hand des ermittelten Bildversatzes, Bestimmen von Schwerpunktpositionen der die abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilungen und Zusammensetzen der Schwerpunktpositionen zu einem versatzkorrigierten Gesamtbild.
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公开(公告)号：DE102006009830B4
公开(公告)日：2019-06-13
申请号：DE102006009830
申请日：2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： GUGEL HILMAR DR , DYBA MARCUS DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaften voneinander unterscheiden, umfassend die folgenden Schritte:a) Mittels eines Schaltsignals (2) wird die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht,b) mittels eines optischen Signals (4) wird der zweite Zustand (Z2, B) induziert,wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden,c) mittels eines Testsignals (7) werden die verbliebenen ersten Zustände (Z1, A 1, A2, A3) ausgelesen, undd) die Schritte a) bis c) werden wiederholt, wobei das optische Signal (4) zur Rasterung der Probe (1) bei jeder Wiederholung verschoben wird, dadurch gekennzeichnet, dass die einzelnen Schritte a) bis d) in einer an die jeweilige Messsituation angepassten Reihenfolge durchgeführt werden,wobei innerhalb des Gesamtzyklus umfassend die Schritte a) bis d) ein Teilzyklus umfassend eine Teilmenge der Schritte a) bis d) wiederholt ausgeführt wird.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102010009679A1
公开(公告)日：2012-03-08
申请号：DE102010009679
申请日：2010-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FOELLING JONAS , DYBA MARCUS DR
Abstract: Beschrieben ist eine Probenhalterung für ein Mikroskop, mit einem Probentisch (32), einem auf dem Probentisch (32) angeordneten Halter (34), einem an den Halter (34) koppelbaren Probenträger (36), an dem eine Probe anbringbar ist, und einer an dem Halter (34) angreifenden Stellvorrichtung (44), durch die der Probenträger (36) zusammen mit dem Halter (34), an den der Probenträger (36) gekoppelt ist, relativ zu einem Objektiv (46) auf dem Probentisch (32) in eine Zielposition verfahrbar ist. Es ist eine Entkopplungsvorrichtung vorgesehen, die den in der Zielposition angeordneten Probenträger (36) beim Abbilden der Probe durch das Objektiv (46) von dem Halter (34) entkoppelt.
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公开(公告)号：DE102010036709A1
公开(公告)日：2012-02-02
申请号：DE102010036709
申请日：2010-07-28
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DYBA MARCUS DR , FOELLING JONAS DR
Abstract: Beschrieben sind eine Einrichtung und ein Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur. Vorgehesen sind eine Optik (30, 38, 54, 56, 58) zum Abbilden der Probenstruktur (34) und eine Referenzstruktur (50) sowie eine Drifterfassungseinheit (42, 52) zum Erfassen einer Drift der Probenstruktur (34) relativ zur Optik (30, 38, 54, 56, 58) anhand der abgebildeten Referenzstruktur. Die Optik (30, 38, 54, 56, 58) weist eine erste Schärfenebene (46) zum Abbilden der Probenstruktur (34) und zugleich eine relativ zur ersten Schärfenebene (46) lageveränderbare zweite Schärfenebene (60) zum Abbilden der Referenzstruktur (50) auf.
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公开(公告)号：DE102010009679B4
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：DE102010009679
申请日：2010-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FÖLLING JONAS , DYBA MARCUS DR
Abstract: Probenhalterung für ein Mikroskop, mit- einem Probentisch (32),- einem auf dem Probentisch (32) angeordneten Halter (34),- einem an den Halter (34) koppelbaren Probenträger (36), an dem eine Probe anbringbar ist, und- einer an dem Halter (34) angreifenden Stellvorrichtung (44), durch die der Probenträger (36) zusammen mit dem Halter (34), an den der Probenträger (36) gekoppelt ist, auf dem Probentisch (32) relativ zu einem Objektiv (46) und dem Probentisch (32) in eine Zielposition verfahrbar ist,- gekennzeichnet durch eine Entkopplungsvorrichtung, die den in der Zielposition angeordneten Probenträger (36) beim Abbilden der Probe durch das Objektiv (46) von dem Halter (34) entkoppelt, so dass der Probenträger (36) beim Abbilden der Probe frei auf dem Probentisch (32) aufliegt.
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公开(公告)号：DE102006009831B4
公开(公告)日：2013-07-04
申请号：DE102006009831
申请日：2006-03-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DYBA MARCUS DR , GUGEL HILMAR DR
Abstract: Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben, wobei die zu untersuchende Probe (1) durch ein Objektiv (3, 13) beleuchtet wird und wobei die Probe (1) eine Substanz umfasst, die wiederholt von einem ersten Zustand (Z1, A) in einen zweiten Zustand (Z2, B) überführbar ist, wobei sich die ersten und die zweiten Zustände (Z1, A; Z2, B) in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, umfassend die Schritte, dass die Substanz in einem zu erfassenden Probenbereich (P) zunächst in den ersten Zustand (Z1, A) gebracht wird und dass mittels eines optischen Signals (4) der zweite Zustand (Z2, B) induziert wird, wobei innerhalb des zu erfassenden Probenbereichs (P) räumlich begrenzte Teilbereiche gezielt ausgespart werden, und wobei das optische Signal (4) in Form einer Fokuslinie (10) mit einem Querschnittsprofil mit mindestens einer Intensitätsnullstelle (5) mit seitlich benachbarten Intensitätsmaxima (9) bereitgestellt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokuslinie (10) mittels einer linienförmigen Ausleuchtung in einer zur Pupille (P1) des Objektivs (3, 13) konjugierten Pupillenebene (P3) – Pupillenlinie (14) – und durch Phasenmodulation entlang der Pupillenlinie (14) erzeugt wird, wobei die Phasenmodulation derart vorgenommen wird, dass entlang der Pupillenlinie (14) ein oder mehrere Phasensprünge eingeführt werden.
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公开(公告)号：DE102010017630A1
公开(公告)日：2011-12-29
申请号：DE102010017630
申请日：2010-06-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： DYBA MARCUS DR , SEYFRIED VOLKER DR
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur (2, 34), mit folgenden Schritten: Präparieren der Probenstruktur (2, 34) mit Marker, die in einen lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführbar sind, Erzeugen einer Sequenz von Einzelbild-Datensätzen durch sequentielles Abbilden der Probenstruktur (2, 34) derart, dass für jede Abbildung jeweils nur eine Teilmenge der Gesamtheit der Marker in den lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführt wird, wobei die Marker der jeweiligen Teilmenge einen mittleren Abstand voneinander haben, der größer ist als die Auflösungsgrenze der lichtmikroskopischen Abbildung, welche die Ausdehnung einer den jeweils abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilung bestimmt, Erzeugen von mindestens zwei Datenblöcken, in denen jeweils mehrere aufeinander folgende Einzelbild-Datensätze zusammengefasst sind, Überlagern der in dem jeweiligen Datenblock enthaltenen Einzelbild-Datensätze zu einem Überlagerungsbild-Datensatz, Ermitteln eines Bildversatzes zwischen den Überlagerungsbild-Datensätzen, Korrigieren der Einzelbild-Datensätze, die in mindestens einem der Überlagerungsbild-Datensätze enthalten sind, an Hand des ermittelten Bildversatzes, Bestimmen von Schwerpunktpositionen der die abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilungen und Zusammensetzen der Schwerpunktpositionen zu einem versatzkorrigierten Gesamtbild.
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