公开(公告)号：JP2005062885A

公开(公告)日：2005-03-10

申请号：JP2004236339

申请日：2004-08-16

Applicant: Leica Microsystems Heidelberg Gmbh ,  ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/06 ,  G02B26/08 ,  G02B26/10

CPC classification number: G02B26/0816

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a beam deflection device that enables a light beam to be controlled (scanned) quickly and efficiently and that is almost maintenance-free and accompanied by little wear.
SOLUTION: The beam deflection device is provided with a rotatably mounted deflection means and is adjustable for the purpose of deflecting a light beam. The deflection device is characterized in that the bearing element of the deflection means contains a magnetic fluid.
COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够快速有效地控制（扫描）光束并且几乎免维护并且伴随着少量磨损的光束偏转装置。 解决方案：光束偏转装置设置有可旋转地安装的偏转装置，并且为了偏转光束而可调节。 偏转装置的特征在于，偏转装置的支承元件包含磁性流体。 版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

公开(公告)号：AT528669T

公开(公告)日：2011-10-15

申请号：AT04802699

申请日：2004-11-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B1/00 ,  G02B21/00 ,  G02B21/18 ,  G02B27/62

Abstract: A method for adjusting two objective lenses in a 4Pi system of a scanning microscope includes imaging a reference object in respective pupils of the objective lenses so as to form a respective Fourier image for each of the objective lenses from a respective image of the reference object. The respective Fourier images are brought into coincidence by moving at least one of the objective lenses relative to the other.

公开(公告)号：DE10344965A1

公开(公告)日：2005-04-21

申请号：DE10344965

申请日：2003-09-27

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： LEIMBACH VOLKER ,  RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00 ,  G02B26/00

Abstract: A 4Pi microscope provided with an interferometer wherein two lenses ( 31, 33 ) are arranged in such a way that they are opposite to each other on different sides of a sample plane ( 35 ); also comprising an optical element ( 19 ) which is used to inject illuminating light ( 3 ) into the interferometer and/or used to discharge detection light ( 41 ) from the interferometer and to deflect a detection beam path, containing a reflecting means ( 51 ) which reflects illuminating light discharged by the optical element back into the interferometer and/or which allows detection light which is deflected onto the deflection beam to pass, also reflecting other discharged detection light which is not deflected onto the detection beam path into the interferometer.

公开(公告)号：DE102006044235B4

公开(公告)日：2021-02-11

申请号：DE102006044235

申请日：2006-09-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SIECKMANN FRANK ,  RYGIEL REINER

IPC: G01B7/14 ,  G02B21/24

Abstract: Anordnung zum Bestimmen des Abstands zwischen einem Objektiv (8) eines Mikroskops und einer mit dem Mikroskop untersuchten Probe (5), mit einem auf das Objektiv (8) aufsteckbaren kapazitiven Sensor (7), wobei der Sensor (7) eine im Wesentlichen formschlüssig um das Objektiv (8) angeordnete innere Elektrode (3) und eine als Mantelfläche eines die innere Elektrode (3) umgebenden Zylinders ausgebildete äußere Elektrode (2) umfasst, wobei sich zwischen den Elektroden (2, 3) ein den Messbereich des Sensors (7) definierendes elektrisches Streufeld ausbildet, wobei sich im Messbereich ein die Probe (5) tragender Objektträger befindet oder in diesen bringbar ist, wobei die Probe (5) und/oder der Objektträger eine messbare Änderung der Kapazität des Sensors (7) hervorruft und wobei aus der Änderung der Kapazität des Sensors (7) der Abstand der Probe (5) und/oder des Objektträgers zu dem Sensor (7) und damit der Abstand der Probe (5) zu dem Objektiv (8) bestimmbar ist, und dass eine Auswerteschaltung vorgesehen ist, mit der die gemessene Kapazität des Sensors (7) einem Abstand zuordenbar ist.

公开(公告)号：DE10250247B4

公开(公告)日：2006-06-01

申请号：DE10250247

申请日：2002-10-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/34 ,  G02B21/00

公开(公告)号：DE102004001441A1

公开(公告)日：2005-10-13

申请号：DE102004001441

申请日：2004-01-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/18 ,  G02B27/62

Abstract: A method for adjusting two objective lenses in a 4Pi system of a scanning microscope includes imaging a reference object in respective pupils of the objective lenses so as to form a respective Fourier image for each of the objective lenses from a respective image of the reference object. The respective Fourier images are brought into coincidence by moving at least one of the objective lenses relative to the other.

公开(公告)号：DE10250247A1

公开(公告)日：2004-05-13

申请号：DE10250247

申请日：2002-10-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/34

公开(公告)号：DE102010060747A1

公开(公告)日：2012-05-24

申请号：DE102010060747

申请日：2010-11-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00

Abstract: Ein konfokales Laser-Scanmikroskop (20) zum Untersuchen einer Probe (46) hat eine Lichtquelle (22), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) erzeugt, und eine Scaneinheit (38), die den Beleuchtungslichtstrahl (24) so ablenkt, dass er die Probe (46) optisch abtastet. Ein Hauptstrahlteiler (34) trennt den Beleuchtungslichtstrahl (24) von von der Probe (46) ausgehendem Detektionslicht (48). Das vom Beleuchtungslichtstrahl (24) getrennte Detektionslicht (48) tritt zumindest teilweise durch eine Detektionslochblende (50). Mindestens zwei Detektoreinheiten (102, 104, 106) detektieren das durch die Detektionslochblende (50) tretende Detektionslicht (48). Ein optisches Element (62) ist in Strahlrichtung zwischen der Detektionslochblende (50) und den Detektoreinheiten (102, 104, 106) angeordnet und trennt das Detektionslicht (48) in mindestens zwei Strahlbündel (70, 72, 74) und spaltet es innerhalb der Strahlbündel (70, 72, 74) spektral auf.

公开(公告)号：DE102004001441B4

公开(公告)日：2006-04-27

申请号：DE102004001441

申请日：2004-01-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/18 ,  G02B27/62

Abstract: A method for adjusting two objective lenses in a 4Pi system of a scanning microscope includes imaging a reference object in respective pupils of the objective lenses so as to form a respective Fourier image for each of the objective lenses from a respective image of the reference object. The respective Fourier images are brought into coincidence by moving at least one of the objective lenses relative to the other.

公开(公告)号：DE102010060747B4

公开(公告)日：2014-04-03

申请号：DE102010060747

申请日：2010-11-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RYGIEL REINER

IPC: G02B21/00 ,  G01J3/14 ,  G01J3/36 ,  G01N21/64

Abstract: Konfokales Laser-Scanmikroskop (20) zum Untersuchen einer Probe (46), mit einer Lichtquelle (22), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) erzeugt, einer Scaneinheit (38), die den Beleuchtungslichtstrahl (24) so ablenkt, dass er die Probe (46) optisch abtastet, einem Hauptstrahlteiler (34), der den Beleuchtungslichtstrahl (24) von von der Probe (46) ausgehendem Detektionslicht (48) trennt, einer Detektionslochblende (50), durch die zumindest teilweise das vom Beleuchtungslichtstrahl (24) getrennte Detektionslicht (48) tritt, mindestens zwei Detektoreinheiten (102, 104, 106), die das durch die Detektionslochblende (50) tretende Detektionslicht (48) detektieren, und mit einem optischen Element (62), das in Strahlrichtung zwischen der Detektionslochblende (50) und den Detektoreinheiten (102, 104, 106) angeordnet ist und das das Detektionslicht (48) in mindestens zwei Strahlbündel (70, 72, 74) trennt und innerhalb der Strahlbündel (70, 72, 74) spektral aufspaltet.