Abstract:
The invention relates to a device for imaging a three-dimensional object (22) as an object image (30), which comprises an imaging system that is especially equipped with a microscope for imaging the object (22) and a computer. Actuators change the position of the object (22) in the x, y and z direction in a specific and rapid manner. A recording device records an image stack (26) of individual images (24) in different focal levels of the object (22). A control device controls the hardware of the imaging system, and an analytical device produces a three-dimensional elevation relief image (28) and a texture (29) from the image stack (24). A control device combines the three-dimensional elevation relief image (28) with the texture (29).
Abstract:
An immersion objective for the microscopic examination of a specimen, having a feed device (6) for feeding immersion medium, in particular immersion liquid (7), into the region between the specimen or the specimen slide and the outer lens (3) of the objective, wherein the feed device (6) comprises a cap (8) which encloses the objective body (4), is open in the region of the outer lens (3) and forms a gap (9) in the direction of the outer lens (3), wherein a space for receiving immersion liquid (7) is formed inside the cap (8) and wherein the immersion liquid (7) exits via the gap, is characterized in that the feed device (6) has at least one connection formed in the cap (8) for the continuous supply with immersion liquid (7).
Abstract:
The invention relates to a device for generating a three-dimensional image of an object (12), comprising a lens (10) and an object platform (14) for receiving the object (12). The invention is provided with a piezo-actuator (16, 22) for adjusting the distance between the lens (10) and the object (12). An image recording device records a series of individual images of the object (12) on different planes. A multifocus image is then generated from said series of individual images.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Vorrichtung (100) zum Bereitstellen von Funktionalitäten (F1-F15), umfassend: eine Speichereinheit (117) mit einem erste Parametersatz (102) mit ersten Parameterwerten (101.1), die angeben, ob eine einem ersten Parameterwert zugeordnete Funktionalität durch die Vorrichtung (100) anderen Vorrichtungen (120, 140) zur Verfügung gestellt werden kann; und mit einem zweiten Parametersatz (104) mit zweiten Parameterwerten (104.1), die angeben, ob eine einem zweiten Parameterwert zugeordnete Funktionalität durch andere Vorrichtungen der ersten Vorrichtung (100) zur Verfügung gestellt werden soll; eine Kommunikationsschnittstelle (119) zum Erhalten eines dritten Parametersatzes (122) von einer zweiten Vorrichtung (120), der dritte Parameterwerte (122.1) umfasst, die angeben, welche Funktionalitäten durch die zweite Vorrichtung (120) zur Verfügung gestellt werden können; eine Verarbeitungseinheit (118), die eingerichtet ist, den dritten Parametersatz (122) mit dem zweiten Parametersatz (104) zu vergleichen, und die eingerichtet ist, auf Grundlage des Vergleichs Funktionalitäten der zweiten Vorrichtung (120) zur Nutzung auszuwählen, und eine Nutzverbindung (160) aufzubauen, falls mindestens eine Funktionalität der zweiten Vorrichtung (120) zur Nutzung ausgewählt wurde. Die Erfindung betrifft außerdem ein System mit mehreren Vorrichtungen sowie ein Verfahren zum Bereitstellen von Funktionalitäten.
Abstract:
Anordnung zum Bestimmen des Abstands zwischen einem Objektiv (8) eines Mikroskops und einer mit dem Mikroskop untersuchten Probe (5), mit einem auf das Objektiv (8) aufsteckbaren kapazitiven Sensor (7), wobei der Sensor (7) eine im Wesentlichen formschlüssig um das Objektiv (8) angeordnete innere Elektrode (3) und eine als Mantelfläche eines die innere Elektrode (3) umgebenden Zylinders ausgebildete äußere Elektrode (2) umfasst, wobei sich zwischen den Elektroden (2, 3) ein den Messbereich des Sensors (7) definierendes elektrisches Streufeld ausbildet, wobei sich im Messbereich ein die Probe (5) tragender Objektträger befindet oder in diesen bringbar ist, wobei die Probe (5) und/oder der Objektträger eine messbare Änderung der Kapazität des Sensors (7) hervorruft und wobei aus der Änderung der Kapazität des Sensors (7) der Abstand der Probe (5) und/oder des Objektträgers zu dem Sensor (7) und damit der Abstand der Probe (5) zu dem Objektiv (8) bestimmbar ist, und dass eine Auswerteschaltung vorgesehen ist, mit der die gemessene Kapazität des Sensors (7) einem Abstand zuordenbar ist.
Abstract:
Verfahren zur Untersuchung einer multispektralen Probe (150) unter Verwendung eines Fluoreszenz-Mikroskops (100) mit einer Abbildungsoptik (120),wobei mittels einer multispektralen Lichtquelle (210), die mittels eines Auslösesignals betätigbar ist, die zu untersuchende Probe (150) beleuchtet wird,wobei mittels einer Bildaufnahmevorrichtung (230) ein durch die Abbildungsoptik (120) aus von der Probe (150) emittiertem Licht erzeugter Strahlengang (160) erfasst wird,wobei zwischen die Abbildungsoptik (120) und die Bildaufnahmevorrichtung (230) eine Filtervorrichtung (220) eingebracht wird, die mehrere verschiedene bewegbare Filter (222) aufweist, die jeweils einem unterschiedlichen Wellenlängenbereich zugeordnet sind und jeweils wahlweise zwischen die Abbildungsoptik (120) und die Bildaufnahmevorrichtung (230) einbringbar sind,dadurch gekennzeichnet, dass den mehreren verschiedenen bewegbaren Filtern (222) jeweils eine Kodierung hinsichtlich einer vorgegebenen Position in Bezug auf den Strahlengang (160) zugeordnet ist, unddass unter Verwendung der Kodierung durch die Filtervorrichtung (20) jeweils bei Erreichen der vorgegebenen Position der Filter (222) ein Auslösesignal (S1) erzeugt und darüber die multispektrale Lichtquelle (210) ausgelöst wird,wobei daraufhin eine Intensität (I) eines jeweils verwendeten Wellenlängenbereichs (λ) der multispektralen Lichtquelle (210) auf einen vorgegebenen Wert eingestellt wird, undwobei mittels der Bildaufnahmevorrichtung (230) für den jeweiligen Filter (222) jeweils bei Erreichen der vorgegebenen Position eine Bildaufnahme gestartet wird.
Abstract:
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung mit einer Klinge (4) zum Schneiden einer Probe (1) und einer Lichtquelle (2), die einen Lichtstrahl (3) aussendet. Um eine einfache Kontrolle des Schneidvorganges zu ermöglichen, wird vorgeschlagen zur Relativpositionsbestimmung zwischen der Probe (1) und der Klinge (4) den Lichtstrahl (3) derart auszurichten, dass er teilweise sowohl auf die Klinge (4) als auch auf die Probe (1) trifft, so dass sowohl von der Klinge (4) als auch von der Probe (1) Licht des Lichtstrahls (3) gestreut und/oder reflektiert wird.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren, bei dem eine Probe mit Manipulationslicht manipuliert wird und bei dem die Probe mittels SPIM-Technik unter Beleuchtung mit Beleuchtungslicht, insbesondere Anregungslicht zur Fluoreszenzanregung, in Form eines Beleuchtungslichtblatts abgebildet wird. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass sowohl das Manipulationslicht, als auch das Beleuchtungslicht durch dasselbe Objektiv, das in einer Objektivarbeitsposition angeordnet ist, oder durch unterschiedliche Objektive, die nacheinander in eine Objektivarbeitsposition gebracht werden, fokussiert wird und dass das Manipulationslicht und/oder das Beleuchtungslicht nach dem Durchlaufen des Objektivs mittels einer Umlenkeinrichtung derart umgelenkt wird, dass es sich unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Objektivs ausbreitet.
Abstract:
Optischer Aufbau (101-1101) für ein Mikroskop (103-1103), insbesondere für ein Weitfeldmikroskop (105), umfassend- eine von einer ersten Seite (107-1107) eines Probenvolumens (109-1109) zum Probenvolumen (109-1109) weisende erste optische Anordnung (111-1111) mit einer ersten optischen Achse (113-1113);- eine von einer zweiten Seite (115-1115) des Probenvolumens (109-1109), zum Probenvolumen (109-1109) weisende zweite optische Anordnung (117-1117) mit einer zweiten optischen Achse (119-1119), wobei die erste Seite (107-1107) der zweiten Seite (115-1115) des Probenvolumens (109-1109) gegenüberliegt,- einen Probenhalter, der im Wesentlichen zwischen der ersten (111-1111) und der zweiten optischen Anordnung (117-1117) angeordnet ist und der eine ebenfalls zwischen der ersten optischen Anordnung (111-1111) und der zweiten optischen Anordnung (117-1117) liegenden Probenebene definiert, wobei die erste (113-1113) und die zweite optische Achse (119-1119) das Probenvolumen (109-1109) schneiden und die erste optische Achse (113-1113) und die zweite optische Achse (119-1119) im Probenvolumen nichtparallel zueinander angeordnet sind, und wobei die erste (113-1113) und die zweite optische Achse (119-1119) zumindest im Probenvolumen (109-1109) einen Winkel zwischen 45° und 90° zueinander einschließen, dadurch gekennzeichnet, dass der optische Aufbau (101-1101) wenigstens ein Aufnahmegefäß (447-1147) aufweist, wobei der Boden (451-1151) des Aufnahmegefäßes (447-1147) eine Aufnahmeöffnung (453-1153) aufweist, dass die Aufnahmeöffnung (453-1153) ausgestaltet ist, ein dem Probenvolumen (109-1109) zugewandtes vorderes Ende (454-1154) der ersten optischen Anordnung (111-1111) oder der zweiten optischen Anordnung (117-1117) aufzunehmen, wobei das Aufnahmegefäß (447-1147) an derjenigen optischen Anordnung (111-1111, 117-1117) befestigt ist, deren vorderes Ende (454-1154) den Boden (451-1151) durchdringt, dass der optische Aufbau (101-1101) einen wenigstens teilweise optisch durchlässigen Probenträger (355-1155) aufweist, auf dessen einer Seite eine Probe (108-1108) im Probenvolumen (109-1109) positionierbar ist und an dessen anderer Seite das Aufnahmegefäß (447-1147) positionierbar ist, dass das Aufnahmegefäß (447-1147) mit einem Immersionsmedium (449-1149) befüllbar ist, und dass das Aufnahmegefäß (447-1147) in einem Abstand vom Probenträger (355-1155) positionierbar ist, in dem das Immersionsmedium (449-1149) einen den Abstand überbrückenden Meniskus ausbildet.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren (1300) und eine Vorrichtung (100) zur Optimierung von Arbeitsabläufen mindestens eines Mikroskops oder Mikroskopsystems (210; 330, 350; 500; 1050; 1212, 1214, 1216). Die Lösungen aus dem Stand der Technik haben den Nachteil, dass Arbeitsabläufe nur mit großem Aufwand optimiert werden können. Das erfindungsgemäße Verfahren (1300) und die erfindungsgemäße Vorrichtung (100) verbessern Lösungen aus dem Stand der Technik durch die folgenden Schritte: a) Ausführen (1310) eines Arbeitsablaufes durch ein oder mehrere Komponenten (260, 270) mindestens eines Mikroskops und/oder Mikroskopsystems (210; 330, 350; 500; 1050; 1212, 1214, 1216), wobei der Arbeitsablauf ein Erfassen von ersten Daten (510, 520) umfasst, und b) Bestimmen (1320) eines trainierten Modells (420, 430, 440; 530; 1220) für den Arbeitsablauf zumindest teilweise auf Basis der erfassten ersten Daten (510, 520).