公开(公告)号：BR112013016756B1

公开(公告)日：2020-12-29

申请号：BR112013016756

申请日：2011-12-23

Applicant: ST MICROELECTRONICS INT NV

Inventor： AMEDEO VENEROSO ,  FRANCESCO VARONE ,  PASQUALE VASTANO ,  VITANTONIO DI STASIO

IPC: G07F7/08 ,  G06F11/00 ,  G06F11/07 ,  G11C16/34 ,  G11C29/50 ,  H04W24/00

Abstract: método para controlar uma perda de confiabilidade de uma memória não volátil (mnv) e cartão de circuito integrado (cci) a presente invenção refere-se a um método para controlar uma perda de confiabilidade de uma memória não volátil (mnv) incluída em um cartão de circuito integrado (cci). o método compreende as etapas de determinar a mnv é confiável ou não no lado do sistema operacional (os) do dito cci, e gerar um evento associado à confiabilidade da mnv no lado de os para uma aplicação do dito cci, se a mnv for determinada como não sendo confiável.