公开(公告)号：FR3095560B1

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：FR1904484

申请日：2019-04-26

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： FROIDEVAUX NICOLAS ,  LOPEZ LAURENT

IPC: H02H7/20 ,  H03K19/0944

Abstract: Association de transistors en série La présente description concerne un dispositif comportant, en série (71) : un premier transistor (73) ; un deuxième transistor (75), connecté au premier transistor (71) ; et un troisième transistor (77), connecté au deuxième transistor (75), ledit troisième transistor (77) étant commandé par un signal numérique. Figure pour l'abrégé : Fig. 5

公开(公告)号：FR3095560A1

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：FR1904484

申请日：2019-04-26

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： FROIDEVAUX NICOLAS ,  LOPEZ LAURENT

IPC: H03K19/0944 ,  H02H7/20

Abstract: Association de transistors en série La présente description concerne un dispositif comportant, en série (71) : un premier transistor (73) ; un deuxième transistor (75), connecté au premier transistor (71) ; et un troisième transistor (77), connecté au deuxième transistor (75), ledit troisième transistor (77) étant commandé par un signal numérique. Figure pour l'abrégé : Fig. 5

公开(公告)号：FR3106708A1

公开(公告)日：2021-07-30

申请号：FR2000712

申请日：2020-01-24

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： FROIDEVAUX NICOLAS ,  LOPEZ LAURENT

IPC: H03M3/00 ,  G01D3/032 ,  G01F1/60

Abstract: L’invention concerne un circuit intégré de conditionnement d’un signal analogique oscillant comprenant une succession d’oscillations amorties, le circuit intégré comprenant une cellule d’entrée/sortie (IO) comportant : - un premier port (PAD) configuré pour recevoir ledit signal analogique oscillant, dit signal d’entrée, - un deuxième port (ANA) configuré pour délivrer un signal analogique de sortie à partir du signal d’entrée, - des moyens de contrôle couplés entre le premier port et le deuxième port et configurés pour supprimer du signal d’entrée au moins la première oscillation de façon à délivrer dans le signal de sortie des oscillations du signal d’entrée ayant une amplitude inférieure à un premier seuil. Figure pour l’abrégé : Figure 1

公开(公告)号：FR3037148B1

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：FR1555212

申请日：2015-06-08

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BACHER YANN ,  FROIDEVAUX NICOLAS

IPC: G01R31/26

公开(公告)号：FR3073626A1

公开(公告)日：2019-05-17

申请号：FR1760591

申请日：2017-11-10

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BACHER YANN ,  FROIDEVAUX NICOLAS

IPC: G01R31/28

Abstract: L'invention concerne un procédé de test d'un premier circuit, comprenant : a) appliquer un premier signal (203) entre deux bornes (110A, 110B) du premier circuit (100), le premier circuit étant hors tension d'alimentation ; et b) vérifier que des ondes radiofréquences (209) émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.