公开(公告)号：FR3037148B1

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：FR1555212

申请日：2015-06-08

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BACHER YANN ,  FROIDEVAUX NICOLAS

IPC: G01R31/26

公开(公告)号：FR3073626A1

公开(公告)日：2019-05-17

申请号：FR1760591

申请日：2017-11-10

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BACHER YANN ,  FROIDEVAUX NICOLAS

IPC: G01R31/28

Abstract: L'invention concerne un procédé de test d'un premier circuit, comprenant : a) appliquer un premier signal (203) entre deux bornes (110A, 110B) du premier circuit (100), le premier circuit étant hors tension d'alimentation ; et b) vérifier que des ondes radiofréquences (209) émises par le premier circuit correspondent à une émission attendue.