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公开(公告)号:CN106605130B
公开(公告)日:2019-06-28
申请号:CN201580039107.X
申请日:2015-05-19
Applicant: IDT欧洲有限责任公司
IPC: G01J1/02 , G01J5/02 , G01J5/04 , H01L31/0203 , H01L31/0216
CPC classification number: G01J1/0214 , G01J1/0295 , G01J1/429 , G01J1/44 , G01J5/0285 , G01J5/045 , G01J2001/0276 , G01J2001/446 , H01L27/1462 , H01L27/14623 , H01L27/14636 , H01L27/14643 , H01L31/0203 , H01L31/02164 , H01L2224/48091 , H01L2224/49175 , H01L2924/00014
Abstract: 本发明涉及在CMOS方法中产生的紫外光传感器,包括带有表面的基底,设计在上述基底中并检测射线的一个或多个传感器元件,至少一个置于上述基底表面上方的钝化层,以及置于上述钝化层上方并以至少一个滤光层形式设计的功能层。根据配置,通过直接设计在平坦钝化层上的滤光层,以及上述至少一个传感器元件周围和/或所述紫外光传感器周围的杂散光抑制装置,解决了通过本发明提供专门在紫外线波长范围内灵敏的紫外光传感器所处理的问题。根据上述方法,通过测量来自至少两个适用不同滤光层的光敏二极管的两个输出信号,并通过确定上述两个输出信号之间的数学关系,解决了上述问题。
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公开(公告)号:CN109564323A
公开(公告)日:2019-04-02
申请号:CN201780050314.4
申请日:2017-07-31
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B6/12007 , G01J1/0488 , G01J1/44 , G02B5/208 , G02B6/124 , G02B2006/12107 , G02B2006/12109 , G02B2006/12138
Abstract: 本发明提供了一种光学滤波器及使用其的光学装置,该光学滤波器包括:覆层;多个金属图案,其被规则地图案化在所述覆层上;以及光波导层,其形成在所述多个金属图案上方,其中,光从所述光波导层行进至所述覆层。
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公开(公告)号:CN109520616A
公开(公告)日:2019-03-26
申请号:CN201811456310.9
申请日:2018-11-30
Applicant: 天津大学
IPC: G01J1/44
CPC classification number: G01J1/44
Abstract: 本发明公开了一种基于周期性光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器,包括具有周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFET、低噪声前置放大器和电压反馈回路;所述金属栅MOSFET的源极用于接收太赫兹信号,所述金属栅MOSFET的栅极经一号偏置电阻连接一号偏置电压源,所述金属栅MOSFET的漏极和低噪声前置放大器的正向输入端之间连接有一号隔直电容;所述低噪声前置放大器的正向输入端经二号偏置电阻连接二号偏置电压源;所述电压反馈回路包括反馈电阻、接地电阻、二号隔直电容和三号隔直电容。本发明通过调节源极的光栅化结构参数来实现THz响应波段范围的调节,从而提高探测器的探测灵敏度。
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公开(公告)号:CN108960021A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201710741766.9
申请日:2017-08-25
CPC classification number: G06K9/0004 , B32B37/02 , B32B37/14 , B32B2038/045 , B32B2307/40 , G01J1/0204 , G01J1/0411 , G01J1/44 , G02B3/0012 , G02B3/0031 , G02B3/0056 , G02B13/0085
Abstract: 本发明提供一种光学元件的制作方法及光学感应装置。其中,光学元件的制作方法包括:首先,分别形成微透镜层与微型光通道层,其中微透镜层包括微透镜与第一基底,而微型光通道层包括微型光通道与第二基底;接着,进行第一接合制程,使微透镜层接合至微型光通道层上,并使得微透镜与微型光通道在垂直与第二基底表面的一垂直投影方向上互相对应,然后移除微透镜层中的第一基底。
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公开(公告)号:CN108955876A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201810673042.X
申请日:2018-06-26
Applicant: 天津艾科仪科技有限公司
Inventor: 李健
IPC: G01J1/44
CPC classification number: G01J1/44
Abstract: 本发明提供了一种新型光功率检测设备,包括固定波长光功率检测单元和通用波长光功率检测单元和红光源单元、MCU;所述MCU的信号输出端连接红光源单元;所述固定波长光功率检测单元包括依次连接的光耦合器和光滤波器、光电转换器,所述固定波长光功率检测单元通过A/D转换电路连接MCU;所述固定波长光功率检测单元用于检测固定波长的光功率;所述通用波长光功率检测单元包括光电转换器,所述通用波长光功率检测单元通过A/D转换电路连接MCU;通用波长光功率检测单元用于检测输入的光信号中所有波长的光功率。本发明所述的新型光功率检测设备将WDM/CWDM固定波长光功率检测与通用多波长光功率检测和红光源完美融合在一起。
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公开(公告)号:CN108760045A
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201810515855.6
申请日:2018-05-25
Applicant: 西安工业大学
Abstract: 本发明涉及一种大动态范围的光电探测电路,该前置光电探测电路包括:光电二极管、跨阻放大电路、同相比例运算放大电路和级间反馈电路。光信号经光电二极管转换为电流信号,输出到跨阻放大电路,跨阻运放的反相输入端接电流输入信号,同相输入端接地,跨阻运放输出通过反馈电阻连接至其反相输入端,同时作为同相比例运算放大电路的输入信号接同相比例运放的同相输入端,同相比例运放的反相输入端通过电阻接地,并通过反馈电阻将同相比例运放电路的输出反馈至其反相输入端,通过级间反馈电阻将同相比例运放电路的输出反馈至跨阻放大电路运放的反相输入端。该光电探测电路,可以实现多通道的增益模式,并能显著增大可探测输入光功率的动态范围。
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公开(公告)号:CN108139267A
公开(公告)日:2018-06-08
申请号:CN201680058139.9
申请日:2016-10-10
Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司
Inventor: V·V·里那玛查理
CPC classification number: G01J1/44 , G01J3/027 , G01J3/44 , G01J2001/4406 , G02B21/0084
Abstract: 本发明涉及一种包括锁定放大器(300)的用于显微镜(20)的电路,其中,所述锁定放大器(300)包括输入信号(s)的输入端、参考信号(r)的输入端、输出信号(o)的输出端、和带宽滤波器设备(302),其中,所述带宽滤波器设备(302)被适配为使得能够可变地设置低带宽频率值和/或高带宽频率值,其中,所述电路包括动态带宽控制器单元(500),其中,所述显微镜(20)的当前设置的至少一个参数(P)被输入所述动态带宽控制器单元(500),其中,所述动态带宽控制器单元(500)被适配为以所述显微镜(20)的当前设置的至少一个参数(P)的函数来控制所述锁定放大器(300)的低带宽频率值和/或高带宽频率值。
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公开(公告)号:CN105264346B
公开(公告)日:2018-04-13
申请号:CN201480031945.8
申请日:2014-05-29
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G02B27/0068 , A61B3/1015 , A61B3/12 , G01J1/44 , G01J9/00 , G01M11/00 , G01M11/02 , G02B3/0006 , G02B27/0927 , G02F2203/12 , G02F2203/18
Abstract: 本发明提供一种自适应光学系统的角度偏离检测方法,该自适应光学系统包括:对入射至调制面上的光学像的相位进行空间调制的空间光调制器;和从上述空间光调制器接收调制后的上述光学像的波前传感器,其具有将多个透镜排列成二维状的透镜阵列以及对包含由上述透镜阵列形成的会聚光斑的光强度分布进行检测的光检测元件,该自适应光学系统基于根据上述光强度分布得到的上述光学像的波前形状对显示于上述空间光调制器的相位图案进行控制来补偿波前畸变,该自适应光学系统的角度偏离检测方法在该自适应光学系统中算出上述调制面和上述波前传感器的角度偏离量。
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公开(公告)号:CN104885222B
公开(公告)日:2018-03-02
申请号:CN201380066623.2
申请日:2013-10-01
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
IPC: H01L27/146 , G01J1/42 , G01T1/20 , H01L31/02 , H04N5/369
CPC classification number: H04N5/378 , G01J1/44 , H01L27/14609 , H01L27/14612 , H01L27/14623 , H01L27/14634 , H01L27/14665 , H01L31/107 , H01L2924/381 , H04N5/357 , H04N5/361 , H04N5/369 , H04N5/37455
Abstract: 本发明提供一种半导体光检测器,通过与以往相比大幅减小暗噪声和倍增噪声,从而能够检测包含随机光在内的微弱光。半导体光检测器至少具有1个单位像素,该单位像素具有光电变换部、电荷积蓄部、以及检测电路。光电变换部对入射光进行光电变换,并且具有通过雪崩倍增对电荷进行倍增的电荷倍增区域。电荷积蓄部与光电变换部连接,积蓄来自光电变换部的信号电荷。检测电路与电荷积蓄部连接,将电荷积蓄部中积蓄的信号电荷变换为电压,通过放大部进行放大后输出。
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公开(公告)号:CN107677366A
公开(公告)日:2018-02-09
申请号:CN201710889983.2
申请日:2017-09-27
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC: G01J1/42 , G01J1/44 , G05B19/042
CPC classification number: G01J1/4204 , G01J1/42 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G01J2001/4266 , G01J2001/446 , G01J2001/448 , G05B19/0421 , G05B19/0423 , G05B2219/21137 , G05B2219/2214 , G05B2219/25257
Abstract: 本发明公开了一种大动态范围的辐照度观测系统,先由光信号监测模块接收输入光信号,判断信号强弱,光信号切换机构根据判定结果切换工作光路,打开相应光信号探测模块的入光口;光信号探测模块分强弱两路,弱光信号探测光路探测器为光电倍增管,而较强光信号探测光路使用Si光电二极管作为探测器,为保护光电倍增管,模拟信号处理模块将来自探测器的信号经放大滤波等处理过程,减少信号噪声提高系统信噪比,处理后的模拟电信号送至数据采集模块,数据采集模块将模拟信号转换成数字信号后存储于内存中或实时上传计算机;本发明采用光谱探测技术、PMT技术,实现光谱辐照度全天候观测,大大拓宽了辐照度观测系统的应有范围。
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