公开(公告)号：CN106595854B

公开(公告)日：2019-08-13

申请号：CN201611139570.4

申请日：2012-06-12

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 厄尔·詹森 ,  梅·孙 ,  凯文·奥布赖恩

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G01J3/12 ,  G01J1/58

CPC classification number: G01J3/0259 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213

Abstract: 本申请涉及晶片级光谱仪。本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

公开(公告)号：CN109507166A

公开(公告)日：2019-03-22

申请号：CN201710830826.4

申请日：2017-09-15

Applicant: RAVR有限公司

Inventor： 张幼文

IPC: G01N21/65 ,  G01J3/44

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/10 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G01N2201/0612

Abstract: 本发明公开了一种双通道微型拉曼光谱仪，它包括顺次相连的近红外激光二极管或近紫外激光发射器、激光扩束准直镜、反激光但透激光和拉曼光的第一分束器、变焦或不变焦的柱面或球面物镜、反激光透拉曼的第二分束器、中继光学系统、狹縫、二只成谱透镜、线阵或面阵CCD或CMOS探测器、GPS、数据处理和无线收发系统。在激光通道对目标拍照並对准光轴及拉曼通道对样品作测量后，把数据无线发送到手机和云计算机作光谱分离、波峰寻找、谱库建立、物质识别等处理，快速得出结论。本发明体积小，携帶和使用方便，只要有互联网的地方都可看到测量结果，而敏度和分辨率都比同类产品高。

公开(公告)号：CN106133487B

公开(公告)日：2018-07-27

申请号：CN201580016218.9

申请日：2015-02-06

Applicant: 微-埃普西龙光电股份有限公司

Inventor： T·奥托

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/14 ,  G01J3/22 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/14 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/18 ,  G01J3/22 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1208

Abstract: 本发明涉及种光谱仪,所述光谱仪包括至少个光栅(1)和至少个棱镜(2)的组合,其特征在于,在至少个棱镜(2)中使用全反射,以获得紧凑结构的光谱仪。

公开(公告)号：CN108106727A

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201810044170.8

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/04

CPC classification number: G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18

Abstract: 分光器(1A)具备：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)及光检测部(22)；支撑体(30)，其以在与光通过部(21)及光检测部(22)之间形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)中，将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；以及分光部(40)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将由第2反射部(12)反射的光(L1)相对于光检测部(22)进行分光并反射。

公开(公告)号：CN107328471A

公开(公告)日：2017-11-07

申请号：CN201710676605.6

申请日：2017-08-09

Applicant: 濮阳市质量技术监督检验测试中心

Inventor： 焦再峰 ,  巩合春 ,  任广义 ,  葛广乾 ,  赵洪涛 ,  霍磊 ,  胡兴彬 ,  张凯

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G08C17/02 ,  H04B10/079

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0204 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28 ,  G01J2001/0481 ,  G08C17/02 ,  H04B10/079

Abstract: 本发明公开了一种基于Arduino的无线光检测系统，属于电光源检验领域。该系统以Arduino控制模块为中心，由显示模块、Arduino控制模块、网络模块1、网络模块2、光谱仪、积分球组成。所述显示模块采用TFT触摸屏，可显示对光谱仪的命令菜单和光谱仪上传的数据。所述网络模块1和网络模块2采用Wifi芯片,可进行数据透传。所述光谱仪带有一块TFT触摸屏，可实现光谱仪无线网络通信参数设置和显示功能，可显示热电偶采集的积分球内温度。所述光谱仪采集的温度数据，可通过网络模块2传输给网络模块1，从而上报给Arduino控制模块，并在显示模块上显示温度值。

公开(公告)号：CN107250740A

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：CN201580070737.3

申请日：2015-11-05

Applicant: 光谱引擎股份公司

Inventor： 亚尔科·安蒂拉 ,  尤拉·坎托加维 ,  亚斯·马科耶恩

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0286

Abstract: 本发明涉及光学测量系统(1)，包括：电调谐的珀耳帖元件(11)，用于探测来自测量区域(26)中的辐射源(25)的辐射的探测器(23)，所述探测器(23)与所述珀耳帖元件(11)热连接，设于所述探测器(23)之前的所述辐射的路径(16)中的电调谐的法布里‑珀罗干涉仪(10)，所述法布里‑珀罗干涉仪(10)与所述珀耳帖元件(11)热连接，以及配置成控制所述珀耳帖元件(11)、所述干涉仪(10)和所述探测器(23)的控制电子电路。本发明还涉及一种用于分析对象的光谱的方法。

公开(公告)号：CN107110705A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580054563.1

申请日：2015-10-07

Applicant: 德累斯顿工业技术大学

Inventor： 迈克·朗纳 ,  哈特姆特·弗勒布 ,  瓦迪姆·G·利森科 ,  马尔卡斯·苏德丘斯 ,  卡尔·莱奥

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G02B5/28

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1234 ,  G02B5/288

Abstract: 本发明涉及用于将光谱信息转换为位置信息的装置(70)的光学过滤器元件(50)，该装置具有接入的用于检测信号的探测器(30)，该光学过滤器元件至少包括两个微谐振器(10、11)，其中，微谐振器(10；11)至少具有‑至少两个面叠置的反射层结构(4、6；8、9)，其至少由带有高折射率的材料层(2)和带有低折射率的材料层(3)以交替顺序构成，以及‑至少一个面叠置的谐振层(5；7)，其分别布置在两个面叠置的反射层结构(4、6；8、9)之间。在此，过滤器元件(50)包括至少一个透明的、平行平面式的基底(1)，其用于两个微谐振器(10、11)的光学解耦，其中，第一微谐振器(10；11)位于基底(1)的两个对置的表面(51；52)中的第一表面上，其中，在基底(1)上，第二微谐振器(11；10)位于基底(1)的与第一表面(51)对置的第二表面(54)上，并且其中，至少一个微谐振器(10；11)的谐振层(5；7)和/或分别包围谐振层(5；7)的反射层结构(4、6；8、9)沿过滤器元件(50)的水平轴线(25)具有可变的层厚。

公开(公告)号：CN105492879B

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201480045789.0

申请日：2014-07-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 铃木智史 ,  藁科祯久 ,  笠森浩平 ,  杉本达哉 ,  伊藤穣

IPC: G01J3/45 ,  B81C1/00 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01B9/02051 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/4532 ,  G01J3/4535

Abstract: 制造光干涉仪的方法包括：在支承基板的主面和形成在主面上的第一绝缘层上形成用于分束器的第一半导体部和用于可动镜的第二半导体部的第一工序；在第一半导体部的第一侧面与第二半导体部的第二侧面之间配置第一壁部的第二工序；和使用荫罩掩模在第二侧面形成第一金属膜，由此在第二半导体部形成镜面的第三工序。在第三工序中，在利用掩模部和第一壁部掩蔽第一侧面并且使第二侧面从开口部露出的状态下形成第一金属膜。

公开(公告)号：CN103703348B

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201280036758.X

申请日：2012-06-12

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 厄尔·詹森 ,  梅·孙 ,  凯文·奥布赖恩

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0259 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213

Abstract: 本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

公开(公告)号：CN103348270B

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201280008223.1

申请日：2012-02-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G02B5/18 ,  B29C43/02 ,  G02B5/10 ,  B29L11/00

CPC classification number: G02B5/0808 ,  B29C43/021 ,  B29C43/36 ,  B29D11/00769 ,  B29L2011/0016 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J2003/1852 ,  G02B5/00 ,  G02B5/10 ,  G02B5/18 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1852 ,  G02B5/1861 ,  Y10T428/24521

Abstract: 本发明的光学元件(1)具备于表面（2a）形成有凹部（3）的基材（2），及配置于基材（2）上的成形层（4）。成形层（4）具有自凹部（3）的深度方向观察的情形下位于凹部（3）内的本体部（5）、及在与本体部（5）连接的状态下位于基材（2）的表面（2a）上的攀爬部（6）。于本体部（5）中在与凹部（3）的底面（3b）对向的曲面（4b）上，设置有光学功能部（10）。