公开(公告)号：CN106323987A

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201610870870.3

申请日：2016-09-30

Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司

Inventor： 王磊 ,  段子爽

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/95

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0631 ,  G01N2201/0634

Abstract: 本发明提出一种用于检测高反射表面缺陷的照明光源，涉及一种机器视觉用照明光源，包括环形照明腔和穹顶照明腔，所述穹顶照明腔设置于所述环形照明腔正上方，待检测目标放置在所述环形照明腔内，所述穹顶照明腔的腔顶部设有LED光源，所述穹顶照明腔的腔顶部及所述环形照明腔的侧壁均设有观察口，每个所述观察口外均设有半透半反镜，所述半透半反镜与漫射LED光源对应，所述漫射LED光源的光束通过所述半透半反镜反射进入所述观察口，所述LED光源和所述漫射LED光源均由多通道光源控制器控制。本发明可对任意形状的高反射表面形成均匀明亮照明，极大提高了高反射表面缺陷检测的精度和分辨率。

公开(公告)号：CN1613007A

公开(公告)日：2005-05-04

申请号：CN02826886.5

申请日：2002-11-07

Applicant: S.A.E.埃菲金计算机化乳业管理系统 ,  以色列农业部农业研究所

Inventor： 泽夫·施米洛维奇 ,  基尔·卡茨 ,  埃夫林·马尔茨 ,  马丁I·卡泽尔 ,  莫兰·萨里格 ,  伊安·哈拉切米 ,  阿哈龙·霍夫曼 ,  海因·埃格齐 ,  艾山·乌内尔

IPC: G01N21/03 ,  G01N21/05 ,  G01N33/04 ,  G01N21/53

CPC classification number: G01N21/05 ,  G01J3/10 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N21/532 ,  G01N33/04 ,  G01N2201/06153

Abstract: 一种近红外光谱流体分析系统(1)使用一系列发光二极管(21)作为辐照光源，每一发光二极管都有其自己的预先选定的中心波长。这些波长具有交叠的光谱宽度，因此覆盖了一个很宽的光谱测量区段。发光二极管(21)依照顺序照射流体样品，而对各个发光二极管的谱段都测量穿过样品的透射吸收和样品的反射或散射。测量是由光检测器(24、27、29)完成的。流体组分的浓度可表示为一个多项式，该多项式是关于所测得的透射光强和/或反射光强以及经验系数的函数，经验系数是通过预先对从大量具有已知组分浓度的测试样品获取的测量光强的统计分析而求取的。还记述了一种新颖的样品室(16)，能够对流体流动样品进行光吸收测量。

公开(公告)号：CN109564168A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201780049672.3

申请日：2017-08-21

Applicant: 萨塔有限两合公司

Inventor： 诺贝特·迈尔 ,  埃瓦尔德·施蒙 ,  彼得·德特拉夫 ,  斯文·舒尔茨

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/255 ,  F21L4/027 ,  F21V9/02 ,  F21Y2105/18 ,  F21Y2115/10 ,  G01N21/29 ,  G01N21/57 ,  G01N21/8803 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本申请涉及一种用于特别是在机动车的涂漆修复工作领域中检查涂漆表面的日光手电筒(1)。光谱均匀地形成，使得在波长为400-700nm的光谱范围内，在30cm±0.5cm的距离处，核心和内边缘区域的日光偏差平均值小于20％，或关于核心和内边缘区域中的光束中心的光谱稳定系数的平均值小于10％。

公开(公告)号：CN102725625B

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201080049544.7

申请日：2010-10-25

Applicant: 伊莫拉SACMI机械合作公司

Inventor： M·伯德奇

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/909 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本发明涉及一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖的缺陷的设备，所述设备包括：用于照亮将接受检查的元件的装置(30)；用于采集图像的诸如照相机等的图像采集单元，其能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件的图像；用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元，其适于检测所述缺陷，其中，所述照明装置(30)根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的光路实现的入射角(α)相对于相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。

公开(公告)号：CN1806167A

公开(公告)日：2006-07-19

申请号：CN200480016204.9

申请日：2004-06-14

Applicant: 日本轻金属株式会社 ,  丰田自动车株式会社

Inventor： 仓增幸雄 ,  额见哲也

IPC: G01N21/17 ,  G01N33/20

CPC classification number: G01N33/206 ,  G01N21/8806 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8896 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0636

Abstract: 一种杂质测量装置，包括：在其上放置着断裂表面(h)朝上的样品(S)的工作台(T)；照明装置(7)，其从多个方向用光(L)照射断裂表面(h)；用来检测断裂表面(h)的图像的图像检测装置；用来将所检测图像处理成连续色调图像的连续色调图像处理装置；和用来通过连续色调图像处理结果与阈值之间的比较将连续色调图像二进制化的二进制化装置。由于从多个方向照射断裂表面(h)，通过检测断裂表面(h)的图像所获得的图像没有由断裂表面(h)上的微小不规则性导致的阴影或光学不规则性。因而，所述图像经过连续色调图像处理和二进制化后，样品(S)中的杂质就能被从断裂表面(h)中精确地检测到。

公开(公告)号：CN108896508A

公开(公告)日：2018-11-27

申请号：CN201810465068.5

申请日：2018-05-16

Applicant: 北京遥感设备研究所

Inventor： 王鹏飞 ,  张越 ,  王学锋 ,  谢剑锋 ,  许铁明

IPC: G01N21/3504

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本发明公开了一种用于烟花爆竹监测的红外触发器，包括：镜片(1)和安装筒(3)，还包括：信号处理电路(2)和光电二极管(4)。目标闪光信号通过镜片(1)到达光电二极管(4)完成光电转换，信号处理电路(2)将光电信号放大整形，输出标记脉冲。本发明的红外触发器具有体积小、成本低、灵敏度高、性能可靠等优点。

公开(公告)号：CN102725625A

公开(公告)日：2012-10-10

申请号：CN201080049544.7

申请日：2010-10-25

Applicant: 伊莫拉SACMI机械合作公司

Inventor： M·伯德奇

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/909 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本发明涉及一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖的缺陷的设备，所述设备包括：用于照亮将接受检查的元件的装置(30)；用于采集图像的诸如照相机等的图像采集单元，其能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件的图像；用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元，其适于检测所述缺陷，其中，所述照明装置(30)根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的光路实现的入射角(α)相对于相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。

公开(公告)号：CN1134750A

公开(公告)日：1996-10-30

申请号：CN94194106.X

申请日：1994-11-08

Applicant: 尤尼帕思有限公司

Inventor： M·卡特 ,  P·H·C·蒙蒂尔 ,  M·E·普里奥尔

IPC: G01N21/86 ,  G01N33/558 ,  G01N33/543

CPC classification number: B01L3/5023 ,  B01L2200/12 ,  B01L2300/0825 ,  B01L2400/0406 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/8618 ,  G01N2021/8654 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0696

Abstract: 一种“读取”化验结果的方法，所说的化验是通过将可检测材料集中到载体相对较小区域内进行的，上述载体呈条片、板片或薄层的形式，电磁辐射诸如可见光可透过上述载体的厚度，其中，所述载体一面的至少一部分暴露于入射的电磁辐射内，该电磁辐射在整个这一部分上基本上是均匀的，所说的这一部分包括上述较小区域，并且，可以测量从前述载体的相对表面出射的电磁辐射，以测定所说的化验结果，所说的电磁辐射最好是散射光线。

公开(公告)号：CN107449370A

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201710390715.6

申请日：2017-05-27

Applicant: 艾可有限公司

Inventor： 安斯加尔·考普 ,  索伦·斯普林曼 ,  迪尔克·吕特晏斯

IPC: G01B11/24 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/8901 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8627 ,  G01N2021/8663 ,  G01N2021/8812 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2021/8962 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0631 ,  G01N2201/0634 ,  G01B11/24 ,  G01N21/474 ,  G01N21/55 ,  G01N2021/556

Abstract: 为了进行光学检测，应当在尽可能大的角度范围内尽可能均匀地照亮反射区或压印区。

公开(公告)号：CN101680835A

公开(公告)日：2010-03-24

申请号：CN200880015309.0

申请日：2008-04-24

Applicant: 贝克曼考尔特公司

Inventor： 小川祐司

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/77

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01N21/31 ,  G01N2201/06153 ,  G01N2201/0627

Abstract: 提供一种具备即使使用LED作为光源也能够得到期望波长的光的光源装置的自动分析装置。对保持在容器中的液体的光学特性进行测量的自动分析装置具备光源装置(12)，该光源装置(12)具有：多个光源(12a、12b)，该多个光源(12a、12b)分别射出峰值波长不同的光，在所射出的光的波长区域存在其它光源所射出的光的峰值波长；以及透镜(12c)或半透半反镜，其将多个光源分别射出的多个光进行混合，其中，该光源装置(12)射出具有与各峰值波长不同的期望的混合峰值波长的光。