公开(公告)号：CN102597750A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201080035136.6

申请日：2010-07-30

Applicant: 伊莫拉SACMI机械合作公司

Inventor： M·伯德奇 ,  S·卡罗利

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/90

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/9036 ,  G01N21/909 ,  G01N21/954

Abstract: 本发明涉及一种用于检查诸如容器、盖子(3)等的凹入元件的设备(1)，以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷，该设备包括用于照亮待接受检查的凹入元件(3)的装置(4)、诸如相机(6)等的图像检测单元、光学组件(5)和用于处理通过所述图像检测单元(6)获得的图像以区别所述凹入元件(3)的所述污染物的装置，其特征在于，所述照明装置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″)，第一光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照，第二光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的外部侧向表面(3″)上的掠入射光照，并且所述光学组件(5)放置成检测由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)发射的光并将光传送到所述图像检测单元(6)。

公开(公告)号：CN102725625B

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201080049544.7

申请日：2010-10-25

Applicant: 伊莫拉SACMI机械合作公司

Inventor： M·伯德奇

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/909 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本发明涉及一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖的缺陷的设备，所述设备包括：用于照亮将接受检查的元件的装置(30)；用于采集图像的诸如照相机等的图像采集单元，其能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件的图像；用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元，其适于检测所述缺陷，其中，所述照明装置(30)根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的光路实现的入射角(α)相对于相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。

公开(公告)号：CN102725625A

公开(公告)日：2012-10-10

申请号：CN201080049544.7

申请日：2010-10-25

Applicant: 伊莫拉SACMI机械合作公司

Inventor： M·伯德奇

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/909 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2201/06153

Abstract: 本发明涉及一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖的缺陷的设备，所述设备包括：用于照亮将接受检查的元件的装置(30)；用于采集图像的诸如照相机等的图像采集单元，其能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件的图像；用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元，其适于检测所述缺陷，其中，所述照明装置(30)根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的光路实现的入射角(α)相对于相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。