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公开(公告)号：CN118765378A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202380023677.4
申请日：2023-02-28
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 一种光检测装置(300)，包括：滤光器阵列(10)，包括包含第1滤光器和第2滤光器的多个滤光器；以及图像传感器(50)，具有多个像素，且对经过所述滤光器阵列后的光进行检测。具有多个极大值的所述第1滤光器的第1透射谱与具有多个极大值的所述第2滤光器的第2透射谱不同。所述多个滤光器沿着相互交叉的第1方向及第2方向以矩阵状排列，所述多个像素沿着相互交叉的第3方向及第4方向以矩阵状排列。Rp1及Rp2中的至少一方与1不同。所述Rp1是所述第1方向上的所述多个滤光器的间距除以所述第3方向上的所述多个像素的间距而得到的商，所述Rp2是所述第2方向上的所述多个滤光器的间距除以所述第4方向上的所述多个像素的间距而得到的商。
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公开(公告)号：CN113167649B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN201980081721.0
申请日：2019-12-11
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 有关本发明的一形态的光检测装置具备滤光器阵列和图像传感器；所述滤光器阵列是包括二维排列的多个滤光器的滤光器阵列，包含在上述多个滤光器中的第1及第2滤光器各自包括第1反射层、第2反射层及在它们之间的中间层，并且具有共振构造，该共振构造具有等级相互不同的多个共振模式，上述第1及第2滤光器的上述中间层的折射率及/或厚度根据滤光器而不同，上述第1及第2滤光器各自的透射光谱在包含于某个波段中的多个波长处具有透射率的极大值，上述多个波长与上述多个共振模式分别对应；所述图像传感器包括各自被配置在接受透射过上述多个滤光器中的1个滤光器的光的位置、对于上述波段的光具有感度的多个光检测元件。
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公开(公告)号：CN118089943A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410376037.8
申请日：2019-12-20
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导，且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。
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公开(公告)号：CN113396317B
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN201980089626.5
申请日：2019-12-20
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J3/36
Abstract: 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导，且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素，而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此，可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。
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公开(公告)号：CN111537066B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202010418543.0
申请日：2016-08-04
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 分光器具备：支撑体，具有设置有包含凹曲面状的内面的凹部以及与凹部相邻接的周边部的底壁部、相对于底壁部被配置于凹部开口的一侧的侧壁部；光检测元件，以与凹部相对的状态被支撑于侧壁部；分光部，被配置于凹部的内面上。在从凹部和光检测元件互相相对的第1方向观察的情况下，构成分光部的多个光栅槽排列的第2方向上的凹部的长度大于垂直于第2方向的第3方向上的凹部的长度。在从第1方向观察的情况下，在第2方向上与凹部相邻接的周边部的面积大于在第3方向上与凹部相邻接的周边部的面积。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114199379B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202111528373.2
申请日：2021-12-14
Applicant: 深圳思凯测试技术有限公司
Inventor： 杨荣华
Abstract: 本发明公开一种光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法，其中，光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。本发明技术方案能提高光谱仪检测CIERGB的效率。
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公开(公告)号：CN115066598A
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202080083857.8
申请日：2020-12-02
Applicant: 艾迈斯传感器德国有限责任公司
Inventor： 甘特·西塞斯
IPC: G01J3/02 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/50 , G01J3/52 , G01N21/25
Abstract: 一种对表面的颜色进行测量的方法。装置定位在表面的上方。该装置包括光学传感器和显示屏。光学传感器对多个光谱波道中的可见光水平进行测量，每个波道具有不同的光谱灵敏度特征。该装置定位成使得传感器对从表面反射的光进行测量。多个图案依次显示在显示屏上，每个图案在距光学传感器各自不同的距离处包括照射区域。光学传感器用于在每个图案的显示期间对由表面反射的光进行测量。确定对应于测得的由表面反射的光的强度的第一局部最大值的从光学传感器至照射区域的距离的值，该第一局部最大值是图案的漫反射的最大值。基于对应于与第一局部最大值对应的距离的值的每个光谱波道中的可见光水平来确定与表面的颜色或表面的反射光谱相对应的颜色空间中的位置。
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公开(公告)号：CN111164394B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN201880062990.8
申请日：2018-08-30
Applicant: AMS有限公司
Inventor： 休伯特·叶尼切尔迈尔 , 格哈德·艾尔姆施泰纳
Abstract: 光学感测装置(10)包括光电探测器阵列(11)，包括至少一个第一光电探测器(12)和至少一个第二光电探测器(13)，光电探测器阵列(11)设置在半导体衬底(14)上。光学感测装置(10)还包括滤波叠层(15)，设置在衬底(14)上，并且覆盖光电探测器阵列(11)。滤波叠层(15)包括至少两个第一下部电介质镜(16)和至少两个第二下部电介质镜(17)，其中第一和第二下部镜(16、17)设置在第一光电探测器(12)上，并且第一和第二下部镜(16、7)设置在第二光电探测器(13)之上，并且其中第一下部镜(16)在垂直于衬底(14)延伸的主平面的垂直方向(z)上的厚度与第二下部镜(17)不同。滤波叠层(15)还包括设置在第一和第二下部镜(16、17)上的间隔叠层(18)，以及设置在间隔叠层(18)上并且覆盖光电探测器阵列(11)的上部电介质镜(19)。此外，提供了制造光学感测装置(10)的方法。
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公开(公告)号：CN114207391A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN201980095428.X
申请日：2019-04-16
Applicant: 华为技术有限公司
Abstract: 一种用于测量来自样本的光的多个频率分量的光谱仪(100)，包括具有入射面和出射面的光波导(108)。出射面的表面积大于入射面的表面积。所述光波导(108)通过入射面(105)允许来自样本(106)的光进入，并通过出射面(107)分发所述允许进入的光。空间相关滤波器(112)设置在靠近出射面的位置，用于滤波所述分发的光。多个光电探测器(114)设置在靠近所述光滤波器的位置，用于接收所述经滤波的光。所述分发的光可以以不超过10度的角度分发。第二光波导(104)可以将来自光源的光发送到样本。第一光波导、第二光波导、滤波器和光电探测器可以彼此平行设置在外壳(116)中。
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公开(公告)号：CN114199379A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111528373.2
申请日：2021-12-14
Applicant: 深圳思凯测试技术有限公司
Inventor： 杨荣华
Abstract: 本发明公开一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法，其中，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。本发明技术方案能提高光谱仪检测CIERGB的效率。
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