光测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109477797A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201780046021.9

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 光测量装置(1)是对试样照射激发光而检测测量光的光测量装置。光测量装置(1)具备:积分器(20),其形成有入射激发光的入射开口(22)、及出射测量光的出射开口(23),且配置有试样;导光部(30),其引导自出射开口(23)出射的测量光;及光检测部(40),其检测由导光部(30)引导的测量光。导光部(30)具有以入射端面(32a)经由出射开口(23)而朝向积分器(20)内的方式配置的多个导光构件(32)。光检测部(40)检测由多个导光构件(32)的至少一个引导的测量光。多个导光构件(32)的入射端面(32a)侧的受光区域在积分器(20)内彼此重叠。

    量子产率测定装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103229043B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201180057407.2

    申请日:2011-08-31

    Inventor: 井口和也

    CPC classification number: G01N21/645 G01N2201/065

    Abstract: 量子产率测定装置(1),通过将激发光(L1)照射在用于容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3),检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一方所放出的被测定光(L2),来测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1)具有:暗箱(5),其在内部配置有试料容纳部(3);光产生部,其具有连接于暗箱(5)的光出射部(7),并产生激发光(L1);光检测部,其具有连接于暗箱(5)的光入射部(11),并检测被测定光(L2);积分球(14),其具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16),且配置于暗箱(5)内;及移动机构(30),以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式,使积分球(14)在暗箱(5)内移动,在第1状态,使光入射开口(15)与光出射部(7)相对,并使光出射开口(16)与光入射部(11)相对。

    分光测定方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102187203B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN200980140897.5

    申请日:2009-09-08

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部,根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0,并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ,并由φ=βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此,实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

    分光测定装置及分光测定方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118089945A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410376316.4

    申请日:2019-12-20

    Abstract: 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导,且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此,可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。

    分光测定装置及分光测定方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118089944A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410376149.3

    申请日:2019-12-20

    Abstract: 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导,且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此,可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。

    测量装置
    8.
    发明公开
    测量装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117480378A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202280042180.2

    申请日:2022-02-18

    Abstract: 本发明的测量装置(1)具备:积分球(4),其在内部配置有测量物(S);激发光学系统(3),其将激发光(L1)朝向配置于积分球(4)的测量物(S)导光;光检测器(6),其检测通过激发光(L1)的照射而由积分球(4)内的测量物(S)产生的被测量光(L2);以及第1检测光学系统(7),其将被测量光(L2)从积分球(4)朝向光检测器(6)导光。在激发光学系统(3)中入射于积分球(4)内的测量物(S)的激发光(L1)的光轴、与在第1检测光学系统(7)中从积分球(4)出射的被测量光(L2)的光轴斜交,第1检测光学系统(7)具有:限制光检测器(6)的被测量光(L2)的检测范围的开口部(36),测量物(S)上的激发光(L1)的照射点(La)与开口部(36)为光学共轭关系。

    分光测定装置及分光测定方法

    公开(公告)号:CN110621967B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN201880032081.X

    申请日:2018-04-02

    Abstract: 分光测定装置是测定自试样发出的被测定光的分光测定装置,具备:积分球,其具有内壁面及安装孔;接合器,其具有引导被测定光的引导孔,且配置于积分球;板,其具有自积分球的外侧覆盖引导孔且载置试样的第1面、及第2面,且使被测定光透过;保持器,其具有载置板的凹部,且安装于安装孔;及分光检测器,其检测被测定光。凹部包含:与第2面相对的底面、及包围板的周围的侧面。底面及侧面由反射被测定光的反射材覆盖。

    光测量装置及光测量方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106461463B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201580025951.7

    申请日:2015-04-07

    CPC classification number: G01N21/64 G01J3/0254 G01J3/443 G01N2201/12753

    Abstract: 光测量装置向配置有试样的积分球内输入激发光,使激发光以规定的光束截面照射至试样,并利用光检测器检测来自积分球的测量光而取得试样的强度数据。光测量装置包括:存储部,其存储有修正数据;及光特性计算部,其基于试样的强度数据及修正数据,计算出试样的光特性。修正数据基于对第1光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第1修正用强度数据、以及对第2光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第2修正用强度数据而计算出。规定的光束截面被第1光吸收构件覆盖并且覆盖第2光吸收构件。

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