-
公开(公告)号：KR1020140070532A
公开(公告)日：2014-06-10
申请号：KR1020147003922
申请日：2012-07-10
Applicant: 헵타곤 마이크로 옵틱스 피티이. 리미티드
IPC: H01L31/167 , H01L31/0232 , H01L27/14
CPC classification number: H01L31/16 , B29D11/00298 , B29D11/00307 , G01J1/0209 , G01J1/0233 , G01J1/0271 , G01J1/0411 , G01J1/06 , G01J1/42 , G01J5/00 , G01J5/022 , G01J5/0235 , G01J5/024 , G01J5/0265 , G01J5/045 , G01J5/0806 , G01J5/20 , G01J2001/061 , G02B3/0031 , G02B3/0056 , G02B13/0085 , H01L25/167 , H01L27/14618 , H01L27/14625 , H01L27/14627 , H01L27/14687 , H01L31/02325 , H01L31/167 , H01L2924/0002 , Y10T29/49002 , H01L2924/00
Abstract: 광전 모듈들(1)을 제조하기 위한 방법은 a) 다수의 검출 부재들(D)이 배열되는 기판 웨이퍼(PW)를 제공하는 단계; b) 스페이서 웨이퍼(SW)를 제공하는 단계; c) 옵틱스 웨이퍼(OW)를 제공하는 단계 - 상기 옵틱스 웨이퍼는 상기 검출 부재들에 의해 일반적으로 검출가능한 광에 투명한 다수의 투명부들(t), 및 상기 검출 부재들에 의해 일반적으로 검출가능한 입사광을 실질적으로 감쇄시키거나 차단하기 위한 적어도 하나의 차단부(b)를 포함함 -; 및 d) 상기 검출 부재들(D)이 상기 기판 웨이퍼(PW)와 상기 옵틱스 웨이퍼(OW) 사이에 배열되도록 상기 스페이서 웨이퍼(SW)가 상기 기판 웨이퍼(PW)와 상기 옵틱스 웨이퍼(OW) 사이에 배열되는 웨이퍼 스택(2)을 준비하는 단계를 포함한다. 양호하게는, 상기 검출 부재들(D)에 의해 일반적으로 검출가능한 광을 방출하기 위한 다수의 방출 부재들(E)은, 다수의 이웃하는 방출 부재들 및 검출 부재들이 상기 기판 웨이퍼 상에 존재하도록, 상기 기판 웨이퍼(PW) 상에 배열된다. 상기 웨이퍼 스택(2)을 다수의 분리된 모듈들(1)로 분리함으로써 단일 모듈들(1)이 얻어질 수 있다. 이 제조 방법은 근접 센서의 제조에 적용될 수 있다.
-
公开(公告)号：KR101091791B1
公开(公告)日：2011-12-08
申请号：KR1020090117715
申请日：2009-12-01
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J1/02
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0295 , G01J2001/0481 , G01J2001/061 , G01J2001/4247
Abstract: 본발명은적분구광도계및 그측정방법을제공한다. 이적분구광도계는좌반구와우반구를포함하는적분구, 우반구의중심면에배치된광도계, 광도계의앞에광도계와이격되어배치되는주 차광막, 적분구의중심영역에배치되어적어도좌반구의조사영역에광을조사하는측정대상광원, 좌반구와우반구의접촉영역의근처에배치되고조사영역에광을조사하는보조방향성광원부, 및보조방향성광원부주위에배치되어측정대상광원으로부터발산되는빛이보조방향성광원부에직접조사되는것을방지하는보조차광막을포함한다.
-
公开(公告)号：KR1020140102604A
公开(公告)日：2014-08-22
申请号：KR1020140014619
申请日：2014-02-10
Applicant: 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤
Inventor： 오쿠보가즈아키
CPC classification number: G01J1/08 , G01J1/42 , G01J2001/061 , G01J2001/4252
Abstract: The present invention provides a novel standard light source which has light distribution characteristics different from that of the existing standard light source, is proper for measuring the whole light fluxes of a light source, and has a simpler structure; and a measuring method using the standard light source. The standard light source (10) includes a light emitting part (14); an electric power feeding part (18) which is electrically connected to the light emitting part; and a controlling part (16) which is installed between the light emitting part and the electric power feeding part and controls transmission of light irradiated from the light emitting part to the electric power feeding part. The surface to which light from the light emitting part of the controlling part enters is formed to diffuse and reflect the light.
Abstract translation: 本发明提供了一种具有与现有标准光源不同的光分布特性的新型标准光源，适用于测量光源的整体光通量，并具有更简单的结构; 以及使用标准光源的测量方法。 标准光源（10）包括发光部分（14）; 与所述发光部电连接的供电部（18）; 以及安装在发光部和供电部之间的控制部（16），控制从发光部照射到电力馈送部的光的发送。 来自控制部分的发光部分的光进入的表面形成为扩散并反射光。
-
公开(公告)号：KR1020110069856A
公开(公告)日：2011-06-23
申请号：KR1020117010584
申请日：2009-10-06
Applicant: 코닌클리케 필립스 엔.브이.
Inventor： 반보멜,티에스 , 메이어,에듀아르드,제이. , 히크메트,리파트,에이.,엠. , 반스프랑,헨드리크,에이. , 베르슈렌,마르쿠스,에이.
IPC: G01S3/783 , H01L31/0232 , H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1462 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0429 , G01J1/06 , G01J1/4257 , G01J2001/061 , G01S3/784 , H01L27/14625 , H01L27/14685
Abstract: 본 발명은 광 특성들을 측정하기 위한 광 센서들에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 광 방향, 광 콜리메이션 및 광 분포와 같은 광 특성들을 측정할 수 있는 광 방향성 센서에 관한 것이다. 본 발명의 제1 양태에 따르면, 복수의 감광성 요소들(3)을 포함하는 포토-센서(2), 및 광-흡수 광 선택 구조체들의 어레이를 형성하도록 포토-센서 상에 배열된 복수의 광-흡수 광 선택 구조체들(1)을 포함하는 광 방향성 센서가 제공된다. 광-흡수 광 선택 구조체들의 어레이에서, 광-흡수 광 선택 구조체들의 적어도 일부의 연속물은 가변되는 구조적 특성들을 갖고 있다. 가변되는 구조적 특성들은 어레이에 대해 상이한 각도 간격 내의 광이 감지될 수 있도록 형성된 그 연속물의 각각의 개별적인 구조체에 의해 달성된다. 또한, 본 발명의 제2 양태에 따르면, 본 발명의 제1 양태에 따른 광 센서를 형성하는 방법이 제공된다.
-
公开(公告)号：KR1020110061158A
公开(公告)日：2011-06-09
申请号：KR1020090117715
申请日：2009-12-01
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J1/02
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0295 , G01J2001/0481 , G01J2001/061 , G01J2001/4247
Abstract: PURPOSE: An integrating-sphere photometer and measuring method of the same are provided to effectively correct errors due to a self-screening effect and self-absorption when measuring the total luminous flux of a surface light source even if a general standard lamp is used. CONSTITUTION: An integrating-sphere photometer comprises an integrating sphere(70), a photometer(10), a main light shielding film(20), a target light source(30), a secondary light source, and a secondary light shielding film(60). The integrating sphere comprises a left hemisphere(70a) and a right hemisphere(70b). The photometer is arranged on the central surface of the right hemisphere. The main light shielding film is arranged before the photometer at an interval. The target light source is arranged on the central area of the integrating sphere and radiates light at least to the radiating area of the left hemisphere. The secondary light source is arranged near the interface of the left and right hemispheres and radiates light to the radiating area.
Abstract translation: 目的：提供一种积分球形光度计及其测量方法，以便即使使用通用标准灯来测量表面光源的总光通量时，由于自屏效应和自吸收有效地校正误差。 构成：积分球型光度计包括积分球（70），光度计（10），主遮光膜（20），目标光源（30），二次光源和次级遮光膜（ 60）。 积分球包括左半球（70a）和右半球（70b）。 光度计布置在右半球的中心表面。 主光屏蔽膜间隔布置在光度计之前。 目标光源布置在积分球的中心区域上，并且至少辐射到左半球的辐射区域。 二次光源配置在左右半球的界面附近，向散射区域照射光。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：TW201405106A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW102127493
申请日：2013-07-31
Applicant: 日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
Inventor： 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC: G01J1/42
CPC classification number: H01L25/0753 , G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0407 , G01J1/0411 , G01J1/06 , G01J1/28 , G01J2001/061 , G01J2001/068 , G01J2001/4252 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本發明提供一種構造簡單、能實現高精度測定之發光二極體的光量測定裝置。光量測定裝置3具備：一受光模組1，其係與LED101相向配置，接收從LED101所發出之放射狀的光，並測定其光量；一探針109，其係供給電力至LED101，以使LED101發光；以及一受光範圍設定機構，其係根據相對於LED101的發光中心軸LCA之角度θ，對從LED101發出的光之中使受光模組1受光之光範圍即受光範圍進行設定。在一切割片103b上排列有多個LED101。受光範圍設定機構在受光模組1接收由多個排列之LED101所發出的光時，將受光範圍設定為不論LED101的排列形態為何，使接收到的光之光量的測定誤差在規定比率以下。
Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种构造简单、能实现高精度测定之发光二极管的光量测定设备。光量测定设备3具备：一受光模块1，其系与LED101相向配置，接收从LED101所发出之放射状的光，并测定其光量；一探针109，其系供给电力至LED101，以使LED101发光；以及一受光范围设置机构，其系根据相对于LED101的发光中心轴LCA之角度θ，对从LED101发出的光之中使受光模块1受光之光范围即受光范围进行设置。在一切割片103b上排列有多个LED101。受光范围设置机构在受光模块1接收由多个排列之LED101所发出的光时，将受光范围设置为不论LED101的排列形态为何，使接收到的光之光量的测定误差在规定比率以下。
-
公开(公告)号：TW201740096A
公开(公告)日：2017-11-16
申请号：TW105141045
申请日：2016-12-12
Applicant: 帝斯曼知識產權資產管理有限公司 , DSM IP ASSETS B.V.
Inventor： 西亞斯 沃夫岡 , THEISS, WOLFGANG , 阿邦 吉拉德斯 , ABEN, GERARDUS
IPC: G01N21/47 , G01N21/86 , G01N21/896
CPC classification number: G01N21/474 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/061 , G01N21/59 , G01N21/8422 , G01N21/86 , G01N21/896 , G01N2021/4735 , G01N2021/8411 , G01N2021/8618 , G01N2201/0632 , G01N2201/065
Abstract: 本發明關於一種用於測量透明樣本片之光透射及/或光反射特性的系統，該系統包含一偵測總成與一控制單元，其中該偵測總成包含一積分球，其具有一取樣端口、一照明端口、一偵測端口、定位於該照明端口的一內部光源、及耦合至一光譜儀並定位於該偵測端口的一光偵測器；偵測直接來自該取樣端口或來自該積分球之壁之輻射的構件；軸向對齊於該取樣端口的一外部光源；以該內部光源或以該外部光源照明的構件；一參考標準，以及將其定位於該取樣端口及從該取樣端口定位的構件。此系統係相對緊湊，並可有利地用於既有片材產線以供製程和品質控制。 本發明亦關於一種用於應用該系統測量透明樣本片的光透射及/或光反射特性的方法；以及關於包含該方法之製作片材，尤其是AR-塗覆玻璃片的製程。
Abstract in simplified Chinese: 本发明关于一种用于测量透明样本片之光透射及/或光反射特性的系统，该系统包含一侦测总成与一控制单元，其中该侦测总成包含一积分球，其具有一采样端口、一照明端口、一侦测端口、定位于该照明端口的一内部光源、及耦合至一光谱仪并定位于该侦测端口的一光侦测器；侦测直接来自该采样端口或来自该积分球之壁之辐射的构件；轴向对齐于该采样端口的一外部光源；以该内部光源或以该外部光源照明的构件；一参考标准，以及将其定位于该采样端口及从该采样端口定位的构件。此系统系相对紧凑，并可有利地用于既有片材产线以供制程和品质控制。 本发明亦关于一种用于应用该系统测量透明样本片的光透射及/或光反射特性的方法；以及关于包含该方法之制作片材，尤其是AR-涂覆玻璃片的制程。
-
公开(公告)号：TWI557885B
公开(公告)日：2016-11-11
申请号：TW101125647
申请日：2012-07-17
Applicant: 新加坡恒立私人有限公司 , HEPTAGON MICRO OPTICS PTE. LTD.
Inventor： 盧德曼 哈馬特 , RUDMANN, HARTMUT , 羅西 馬克思 , ROSSI, MARKUS
CPC classification number: H01L31/16 , B29D11/00298 , B29D11/00307 , G01J1/0209 , G01J1/0233 , G01J1/0271 , G01J1/0411 , G01J1/06 , G01J1/42 , G01J5/00 , G01J5/022 , G01J5/0235 , G01J5/024 , G01J5/0265 , G01J5/045 , G01J5/0806 , G01J5/20 , G01J2001/061 , G02B3/0031 , G02B3/0056 , G02B13/0085 , H01L25/167 , H01L27/14618 , H01L27/14625 , H01L27/14627 , H01L27/14687 , H01L31/02325 , H01L31/167 , H01L2924/0002 , Y10T29/49002 , H01L2924/00
-
公开(公告)号：TW201320315A
公开(公告)日：2013-05-16
申请号：TW101125647
申请日：2012-07-17
Applicant: 海特根微光學公司 , HEPTAGON MICRO OPTICS PTE. LTD.
Inventor： 盧德曼 哈馬特 , RUDMANN, HARTMUT , 羅西 馬克思 , ROSSI, MARKUS
CPC classification number: H01L31/16 , B29D11/00298 , B29D11/00307 , G01J1/0209 , G01J1/0233 , G01J1/0271 , G01J1/0411 , G01J1/06 , G01J1/42 , G01J5/00 , G01J5/022 , G01J5/0235 , G01J5/024 , G01J5/0265 , G01J5/045 , G01J5/0806 , G01J5/20 , G01J2001/061 , G02B3/0031 , G02B3/0056 , G02B13/0085 , H01L25/167 , H01L27/14618 , H01L27/14625 , H01L27/14627 , H01L27/14687 , H01L31/02325 , H01L31/167 , H01L2924/0002 , Y10T29/49002 , H01L2924/00
Abstract: 一種用以製造光電模組(1)的方法，包含：a)設置其上配置多個偵測構件(D)的基板晶圓(PW)；b)設置間隔晶圓(SW)；c)設置光學晶圓(OW)，該光學晶圓包含對該等偵測構件通常可偵測的光而言可穿透之多個透明部分(t)、以及用以實質上衰減或阻擋該等偵測構件通常可偵測的入射光之至少一個阻擋部分(b)；及d)備製晶圓堆疊(2)，在該晶圓堆疊中該間隔晶圓(SW)被配置於該基板晶圓(PW)與該光學晶圓(OW)之間，使得該等偵測構件(D)被配置於該基板晶圓與該光學晶圓之間。較佳地，用以發射該等偵測構件(D)通常可偵測的光之多個發射構件(E)被配置於該基板晶圓(PW)上，使得多個鄰近的發射構件與偵測構件係出現於該基板晶圓上。單一模組(1)可藉由分離該晶圓堆疊(2)而成為多個個別模組(1)來加以獲得。
Abstract in simplified Chinese: 一种用以制造光电模块(1)的方法，包含：a)设置其上配置多个侦测构件(D)的基板晶圆(PW)；b)设置间隔晶圆(SW)；c)设置光学晶圆(OW)，该光学晶圆包含对该等侦测构件通常可侦测的光而言可穿透之多个透明部分(t)、以及用以实质上衰减或阻挡该等侦测构件通常可侦测的入射光之至少一个阻挡部分(b)；及d)备制晶圆堆栈(2)，在该晶圆堆栈中该间隔晶圆(SW)被配置于该基板晶圆(PW)与该光学晶圆(OW)之间，使得该等侦测构件(D)被配置于该基板晶圆与该光学晶圆之间。较佳地，用以发射该等侦测构件(D)通常可侦测的光之多个发射构件(E)被配置于该基板晶圆(PW)上，使得多个邻近的发射构件与侦测构件系出现于该基板晶圆上。单一模块(1)可借由分离该晶圆堆栈(2)而成为多个个别模块(1)来加以获得。
-
公开(公告)号：TW201443402A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW102148622
申请日：2013-12-27
Applicant: 大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
Inventor： 大久保和明 , OHKUBO, KAZUAKI
CPC classification number: G01J1/08 , G01J1/42 , G01J2001/061 , G01J2001/4252
Abstract: 提供更簡易構成的新標準光源及使用其標準光源的測量方法，適於具有不同於習知的標準光源之配光特性的光源的總光通量測量。標準光源(10)，包括發光部(14)、與發光部電性連接的供電部(18)、以及設置於發光部與供電部之間並控制從發光部放射的光往供電部側傳送之控制部(16)。控制部在來自發光部的光入射的表面，構成為擴散反射。
Abstract in simplified Chinese: 提供更简易构成的新标准光源及使用其标准光源的测量方法，适于具有不同于习知的标准光源之配光特性的光源的总光通量测量。标准光源(10)，包括发光部(14)、与发光部电性连接的供电部(18)、以及设置于发光部与供电部之间并控制从发光部放射的光往供电部侧发送之控制部(16)。控制部在来自发光部的光入射的表面，构成为扩散反射。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
102
records
(took 0.018 seconds)
