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公开(公告)号：CN104007546A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410055055.2
申请日：2014-02-18
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G02B26/001 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/26 , G01J3/42 , G01J3/51
Abstract: 本发明提供了波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光模块以及电子设备，其具备：与第一反射膜（35）电连接的第一驱动电极（36），与第二反射膜（45）电连接的第二驱动电极（46），第一驱动电极（36）的厚度尺寸形成得大于第一反射膜的厚度尺寸，第二驱动电极的厚度尺寸形成得大于第二反射膜的厚度尺寸，第一驱动电极在与第一反射膜连接的端部，具有厚度尺寸小于第一反射膜的厚度尺寸的第一阶梯部（37），第二驱动电极在与第二反射膜连接的端部具有厚度尺寸小于第二反射膜的厚度尺寸的第二阶梯部（47），第一反射膜从固定基板（30）的表面延伸至第一阶梯部的表面而形成，第二反射膜（45）从可动基板（40）的表面延伸至第二阶梯部的表面而形成。
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公开(公告)号：CN104007499A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410060508.0
申请日：2014-02-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 西村晃幸
CPC classification number: G02B26/001 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J3/42 , G01J3/44 , G01J3/51
Abstract: 本发明提供了一种波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光学模块及电子设备。该波长可变干涉滤波器（5）具备一对基板（51、52）；设置在这些基板上的一对反射膜（54、55）；第一电极（561）；第二电极（562）；设置在第一基板（51）上、从第一电极起一直设置到第一基板的外周缘侧的第一导通电极（563）；设置在第二基板（52）上、与第一导通电极导通的第二导通电极（564）；以及接合基板的接合面的接合层。第一基板具有与第一导通电极与第二导通电极接触的接触面相对的第一导通电极面（516），第二基板具有与上述接触面相对的第二导通电极面（564A），从第一导通电极面到第二导通电极面的最小距离D1与从第一接合面（515）到第二接合面（524）的最小距离D2不同。
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公开(公告)号：CN102460120B
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201080025328.9
申请日：2010-04-07
Applicant: 莱尔照明公司
Inventor： 罗伯特·G·梅塞施米特
CPC classification number: G01N21/552 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0264 , G01J3/42 , G01J3/427
Abstract: 描述了针对样品临界角的光谱学设备，该设备对样品的谱特性检测，其中，该设备包括：电磁辐射源，适于用引入样品的电磁辐射以临界角或临界角附近的入射角在一位置激发样品；与电磁辐射源和样品通信的透射晶体，该透射晶体具有适于对电磁辐射进行内反射的高折射率；反射器，适于以透射晶体与样品之间的临界角或该临界角附近的入射角将电磁辐射引入样品；检测器，用于检测来自样品的电磁辐射。还提供了包含近临界反射光谱学设备的方法、系统和套件。
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公开(公告)号：CN102365742B
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201080014897.3
申请日：2010-02-04
Applicant: 诺基亚公司
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14645 , G01J1/46 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/0291 , G01J3/2823 , G01J3/50 , H01L27/14607 , H01L27/14634 , H01L27/14647 , H04N5/335 , H04N5/3355 , H04N9/045 , H04N2209/047
Abstract: 一种装置，包括：安置于具有光接收表面的基底中的光接收器三维阵列，其中与安置为距离光接收表面更远的光接收器相比，安置为距离所述光接收表面更近的光接收器响应于具有更短波长的光，以及其中每个光接收器被配置为输出二元值并通过至少一个光子的吸收在截断状态和导通状态之间改变状态。
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公开(公告)号：CN103528685A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310276320.5
申请日：2013-07-03
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 西村晃幸
CPC classification number: G01J3/433 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/26 , G02B26/001
Abstract: 本发明提供能进行快速的分光测定的分光测定装置。分光测定装置（1）具备：波长可变干涉滤波器（5），包括具有固定反射膜的固定基板、具有可动反射膜的可动基板、以及变更固定反射膜和可动反射膜之间的反射膜间间隙的间隙量的静电致动器；检测部（11），检测由波长可变干涉滤波器（5）取出的光的光强度；电压设定部（21）以及电压控制部（15），对静电致动器施加连续变化的模拟电压；电压监视部（22），监视施加给静电致动器的电压；存储部（30），存储V-λ数据；以及光强度取得部（24），根据由电压监视部（24）监视的电压，在透过波长可变干涉滤波器（5）的光成为测定对象波长的定时，取得由检测部（11）检测的光强度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103424184A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201210147561.5
申请日：2012-05-14
Applicant: 富泰华工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/0219 , G01J3/0264 , G01J3/505 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光强度测试装置，其用于测试光源出射光的光强度。该光强度测试装置包括光频转换器、微处理器、显示器及输入设备。该光频转换器、该显示器及该输入设备均与该微处理器相连。该显示器显示一颜色选择界面，该输入设备用于输入颜色选择参数至该微处理器，该微处理器根据该颜色选择参数发出控制信号至该光频转换器，该光频转换器根据该控制信号选择相应颜色的光波并且将光波转换为不同频率的数字信号传送至该微处理器；该微处理器根据该数字信号得到光强度并将该光强度显示于该显示器上。
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公开(公告)号：CN103300935A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310060352.1
申请日：2013-02-26
Applicant: 赵淑琴
IPC: A61C19/00
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J3/10 , G01J3/508
Abstract: 本发明公开了一种牙齿比色仪，其包括针对一个或多个目标牙齿摄像的摄像机、紧贴口腔的不透明口内隔舱、连接摄像机及口内隔舱的不透明遮罩、一个或多个供固定一个或多个比色片的支托座、以及连结至摄像机以获取包含目标牙齿及比色片颜色及透明度资讯的比色模组，该模组并依据内容特征演算法处理影像，针对各个提取得的目标牙齿与比色片影像进行比色，以期获得最佳义齿。本发明的成本低，所制作的义齿的牙色误差小。
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公开(公告)号：CN103284691A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310023749.3
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN102124310B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN200980131971.7
申请日：2009-08-10
Applicant: 柯尼卡美能达光电株式会社
CPC classification number: G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/0294
Abstract: 本发明涉及的测色计(21)具备多个探测器部(P)和控制多个探测器部(P)的测量动作并且构成为能够装卸多个探测器部(P)的主体部(22)，所述多个探测器部(P)包含分光型探测器部(Pn)以及刺激值直读型探测器部(P1～Pn-1)。因此，这种结构的测色计(21)能够基于分光型探测器部(Pn)的测量结果容易地校正刺激值直读型探测器部(P1～Pn-1)，通过主体部(22)的控制，根据测量对象物，能够选择性地或同时地使刺激值直读型探测器部(P1～Pn-1)和分光型探测器部(Pn)执行测量。
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公开(公告)号：CN103181753A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201310022851.1
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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