公开(公告)号：CN117957427B

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN202280062448.9

申请日：2022-09-01

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/453 ,  G01J3/02

Abstract: 分光测定装置(1)具备：准直光学系统(15)，其对来自试样(S)的测定点(a)的物体光进行准直；光检测器(21)，其具有在规定的方向上排列有多个像素的受光面；共轭面成像光学系统(11)，其设置在试样与准直光学系统之间，用于形成与该试样的表面在光学上共轭的面；振幅型衍射光栅(13)，其配置于所述共轭的面，所述振幅型衍射光栅(13)是通过在遮光构件设置多个开口而得到的，该遮光构件的光入射面或光出射面由物体光的波长范围下的遮光率高于硅的遮光率的材料形成；光路长度差赋予光学系统(16)，其将准直后的物体光分割为第一光束和第二光束并赋予光路长度差；以及干涉光学系统(17)，其使被赋予了光路长度差的第一光束与第二光束干涉，来沿着所述规定的方向在所述受光面形成干涉像。

公开(公告)号：CN119698546A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202380061743.7

申请日：2023-08-23

Applicant: IPG光子公司

Inventor： 伊格尔·山马尔特瑟夫 ,  瓦迪姆·洛佐沃

IPC: G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01J3/453 ,  G01J3/02 ,  G01N21/35

Abstract: 双梳光谱包括在以自由运行的频率梳为特征的监测机制中以不同的脉冲重复频率（PRF）生成相应的输出的一对光学频率梳（FC）。输出被组合于在样品研究（SI）通道和参考通道之间被拆分的单个输出中，其中参考通道包括具有标准具材料的信元，标准具材料在低压力下具有已知的标准具光谱。标准具光谱包含一条或更多条较宽地间隔开的高强度窄分子线。在与束中的一个束相互作用时，信元发射由光学检测器检测到的信元信号。在数据处理单元中处理信元信号，数据处理单元能够操作以便以数学的方式过滤掉标准具光谱的单条分子线，且校正经过滤的线中的相位变化。经校正的相位变化被用于恢复信元信号的期望光谱，且进一步恢复样品研究信号的期望光谱。

公开(公告)号：CN119492445A

公开(公告)日：2025-02-21

申请号：CN202410923417.9

申请日：2024-07-10

Applicant: 霍尼韦尔国际公司

Inventor： 安迪·沃克·布朗

IPC: G01J3/433 ,  G01J3/453 ,  G01N21/17

Abstract: 提供了一种用于确定流体样本中的目标气体的特性的示例性装置、方法和系统。在一些实施方案中，该示例性装置包括频率梳照射源，该频率梳照射源被配置为发射具有多个频率梳波长的脉冲光。该装置还包括光学腔，该光学腔包含流体样本且呈现多个腔共振模式。与该频率梳照射源相关联的该多个频率梳波长中的频率梳波长被配置为与该多个腔共振模式中的腔共振模式对准。基于穿过该光学腔内的该流体样本的透射光的一个或多个光学特性来确定该流体样本的特性。

公开(公告)号：CN112840186B

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN201980069520.9

申请日：2019-10-22

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： R·诺特迈耶 ,  B·斯坦 ,  C·胡贝尔 ,  C·谢林 ,  C·D·克莱默 ,  R·罗德尔

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/26 ,  G01J3/30 ,  G01J3/453

Abstract: 本发明涉及一种用于在光谱仪（100）中使用的干涉仪元件（125），其中，所述干涉仪元件（125）具有微机械式法布里‑珀罗滤波元件（FPI1、FPI2），所述法布里‑珀罗滤波元件至少具有第一镜元件（135）、第二镜元件（140）和第三镜元件（145），所述第一镜元件、所述第二镜元件和所述第三镜元件串联地布置在所述干涉仪元件（125）的光路（120）中，并且其中，所述第一镜元件（135）与所述第二镜元件（140）之间的第一间距（160）和/或所述第二镜元件（140）与所述第三镜元件（145）之间的第二间距（165）能够被改变。

公开(公告)号：CN117268544A

公开(公告)日：2023-12-22

申请号：CN202311435796.9

申请日：2023-10-31

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 赵百轩 ,  盛开洋 ,  梁静秋 ,  吕金光 ,  郑凯丰 ,  赵莹泽 ,  陈宇鹏 ,  秦余欣 ,  王惟彪 ,  郑美如

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01J3/453 ,  G02B27/28 ,  G01J3/45 ,  G01J3/00

Abstract: 本发明涉及光谱仪器技术领域，尤其涉及一种双目立体偏振干涉成像光谱仪，包括扫描反射镜、准直镜、双目反射镜、光阑阵列、多重成像透镜阵列、偏振片阵列、静态干涉系统、中继成像系统以及面阵探测器；静态干涉系统包括分束器、双路对称式多级微反射镜以及阶跃式多级微反射镜；通过前置成像系统中的各器件实现目标的多重成像，并在干涉系统中利用双路对称式多级微反射镜与阶跃式多级微反射镜实现多重像场的干涉级次阶跃分割和多维相位调制，提高了面阵探测器的空间维利用率，在实现了光谱分辨率提高的同时，不影响单个干涉通道的像元数量，且避免多级微反射镜的采样间隔过大可能带来的成像离焦和子阶梯侧面引入杂散光问题，提高了系统的成像效果。

公开(公告)号：CN111936831B

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN201980023882.4

申请日：2019-03-29

Applicant: 斯维尔系统

Inventor： M·梅德哈特 ,  B·莫塔达 ,  Y·M·萨布里 ,  M·胡萨姆 ,  M·安瓦尔 ,  A·什布尔 ,  H·哈德达拉 ,  B·A·萨达尼

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/45 ,  G01J3/26 ,  G01J3/453 ,  G01B9/02015 ,  G02B26/08 ,  G02B17/02

Abstract: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪，其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪，该干涉仪被光耦合以接收输入光束，并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束，并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束，其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器，其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号，以及处理器，其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号，并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。

公开(公告)号：CN113376828B

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN202110691198.2

申请日：2018-07-06

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 铃木智史 ,  港谷恭辅 ,  杉本达哉 ,  藏本丰 ,  柴山胜己 ,  细川畅郎 ,  山本宙和 ,  小山卓雄

IPC: G02B26/08 ,  G02B27/14 ,  G02B7/182 ,  G01J3/453 ,  G01J3/45 ,  G01J3/14 ,  G01J3/10 ,  G01J3/06 ,  G01J3/02 ,  G01B9/02015 ,  B81B3/00

Abstract: 反射镜组件(2)包括：含有基体(21)和可动反射镜(22)的反射镜器件(20)；光学功能部件(13)；和相对于光学功能部件(13)配置在与反射镜器件(20)相反侧的固定反射镜(16)。在反射镜器件(20)形成有构成分束器组件(3)与固定反射镜(16)之间的光路的第1部分的光通过部(24)。在光学功能部件(13)形成有构成分束器组件(3)与固定反射镜(16)之间的光路的第2部分的光透射部(14)。基体(21)的第2表面(21b)与光学功能部件(13)的第3表面(13a)彼此接合在一起。

公开(公告)号：CN112567196B

公开(公告)日：2023-07-11

申请号：CN201880096674.2

申请日：2018-09-03

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 村松尚

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/00 ,  G01B9/02055 ,  G01B11/14 ,  G01J3/45 ,  G01J3/453

Abstract: 干涉仪移动镜位置测定装置(10)用于确定具有分束器(22)、固定镜(23)以及移动镜(24)的干涉仪的移动镜(24)的位置，干涉仪移动镜位置测定装置(10)具备：激光光源(11)；相位分离光学系统(1/8波片(15)、偏振分束器(16))，其能够将相位互不相同的第一光和第二光进行分离并进行检测，第一光和第二光是激光光源(11)的光被固定镜(23)和移动镜(24)反射而生成的；信号变换部，其与移动镜(24)的位置同步地分别检测第一光和第二光，来生成第一正弦波信号和第二正弦波信号；信号变换部(第一光检测器(17A)、第二光检测器(17B))，其与移动镜(24)的位置同步地分别检测第一光和第二光，来生成第一正弦波信号和第二正弦波信号；相位计算部(18)，其在针对第一正弦波信号和第二正弦波信号分别进行了标准化及相位差校正后，计算在各时间点的第一正弦波信号或者第二正弦波信号的相位；以及移动镜位置确定部(19)，其基于移动镜(24)的位置与相位的关系，根据在特定的时间点的相位来确定在该时间点的移动镜(24)的位置。

公开(公告)号：CN111033195B

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN201880055887.0

申请日：2018-06-21

Applicant: 基特有限公司

Inventor： 詹姆斯·保罗·索博尔 ,  詹姆斯·戴维·鲍威尔 ,  乔里恩·理查德·蒂德马什 ,  戴维·詹姆斯·爱德蒙·丹尼

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/453

Abstract: 公开了用于检测样本辐射的一个或多个波长分量的光谱仪。该光谱仪包括：检测器，该检测器包括像素的二维直线阵列，用于基于收集的样本辐射生成代表图像的信号；一个或多个光学组件，该一个或多个光学组件被布置成基于样本辐射的光谱特征形成空间图案，该空间图案包括多个对准的基本平行的条纹，该多个条纹的取向相对于二维直线阵列具有非零歪斜角；以及分析器，该分析器被布置成接收信号并提供与一个或多个波长有关的输出。该光谱仪抑制检测器中的列/行噪声。还公开了在从检测器阵列提取并处理信号时抑制噪声的方法。

公开(公告)号：CN111971521B

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN201980025503.5

申请日：2019-04-18

Applicant: 布鲁克光学有限公司

Inventor： A·肯斯

IPC: G01B9/02 ,  G01J3/453

Abstract: 本发明涉及一种干涉仪布置结构(1)，具有：用于可用光(3)的输入端；分束器(8)；用于建立两个干涉仪臂(13、14)的两个回归反射器(15、16)；驱动装置(24)，其用于使所述回归反射器(15、16)中的至少一个回归反射器运动，以便改变干涉仪臂(13、14)之间的光学的光程差；用于相干的参考光的参考光源(5)；用于可用光(21)的输出端；以及参考光探测器(19)，其特征在于，参考光探测器(19)具有至少三个探测器面(19a‑19d)，其中第一对探测器面(19a、19b)的探测器面沿第一方向(ER)排列，并且第二对探测器面(19a、19c)的探测器面沿第二方向(ZR)排列，并且第一方向(ER)、第二方向(ZR)和参考光(17)在参考光探测器(19)上的中间的传播方向线性独立，并且干涉仪布置结构(1)此外具有：‑用于参考光(17)的会聚元件(18)，所述会聚元件设置在分束器(8)和参考光探测器(19)之间，以用于对来自分束器(8)的参考光(17)聚焦；‑至少两个促动器(9、10)，以用于在至少两个自由度方面改变两个由干涉仪臂(13、14)往回反射的并且在分束器(8)上再次叠加的参考光子光束(11、12)之间的横向的切变；‑以及调节电子装置(38)，以用于依赖于在参考光探测器(19)的探测器面(19a‑19d)上的信号(Sa‑Sc)操控促动器(9、10)。本发明提供一种基于回归反射器的干涉仪布置结构，利用其可以保证较高的可评估的并且较稳定的可用光强度。